[发明专利]一种多芯片封装工艺有效
申请号: | 201810946809.1 | 申请日: | 2018-08-20 |
公开(公告)号: | CN109243986B | 公开(公告)日: | 2020-04-14 |
发明(设计)人: | 冯亚蜂 | 申请(专利权)人: | 浙江亚芯微电子股份有限公司 |
主分类号: | H01L21/56 | 分类号: | H01L21/56;H01L21/67;H01L21/50 |
代理公司: | 嘉兴永航专利代理事务所(普通合伙) 33265 | 代理人: | 俞培锋 |
地址: | 314419 浙江省嘉兴市*** | 国省代码: | 浙江;33 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 芯片 封装 工艺 | ||
1.一种多芯片封装工艺,其特征在于,包括如下步骤:a、减薄:通过机械研磨的方式对晶圆进行减薄,晶圆减薄最终厚度为250-280µm;b、划片:通过划片机对减薄后的晶圆进行划片;c、一次粘贴:通过装片机将第一层单个芯片粘贴到引线框的底座上,使用的胶水为导电胶;d、一次固化:将一次粘贴后的半成品放入到固化设备中,使导电胶固化;e、二次粘贴:通过装片机将第二层多个芯片分别粘贴到引线框的支架上,使用的胶水为绝缘胶;f、二次固化:将二次粘贴后的半成品放入到固化设备中,使绝缘胶固化;g、压焊:通过焊线机对第一层芯片和第二层芯片进行焊线;h、塑封:通过配制装置对塑封材料进行配制,通过塑封机对压焊后的半成品进行塑封;i、冲塑;j、去溢料;通过去溢料设备将冲塑后的半成品上的残胶去除;k、电镀:通过电镀装置对去溢料后的半成品的引脚进行电镀;l、打印;通过打标机将产品的信息打印到电镀后的半成品上;m、切筋成型:通过剪切机将电镀后的半成品按规定尺寸进行切开,制得成品;n、检测:通过测试机对成品进行电性检测;
所述配制装置包括底座,底座上固定有配制箱,配制箱上部竖直设置有主轴,主轴上端与一能带动其转动的动力结构相连,主轴下端伸入到配制箱内与转盘相连,转盘上固定有若干搅拌叶片,主轴上端还固定有安装盘,安装盘上固定有若干用于放置原料的储料斗,且储料斗呈均匀分布,储料斗上端具有输入口,储料斗下端具有输出口,输出口处设置有电磁阀三,输出口还和进料管上端相连通,进料管下端位于配制箱内,进料管中部通过固定杆和转盘相连,配制箱下部连接有出料管,出料管上设置有电磁阀四;所述底座上还设置有能向储料斗内补充原料的补料机构,补料机构包括底板、补料管、伸缩管一、伸缩管二和输送泵,底板固定在底座上,底板上固定有若干放置架,放置架上具有能将料袋袋口定位住的挂钩,补料管通过连接架倾斜固定在底座上,且补料管位于底板与配置箱之间,补料管下端和伸缩管一的上端相连通,伸缩管一的下端和加重环相连,补料管上端和伸缩管二的上端相连通,伸缩管二的下端和升降环相连,且升降环能位于储料斗的正上方,升降环还与一能带动其上下移动的移动结构相连,输送泵设置在补料管上;所述配制箱内还设置有导料机构,导料机构包括若干导料管,导料管一端通过弹性管和进料管下端相连通,导料管另一端为导料端,且导料管呈水平布置,导料管侧部还和导杆下端相连,导杆上端和限位块相连,限位块上连接有驱动滚轮,导杆中部套设有导套,导套通过支撑杆和转盘相连,导杆上还套设有弹簧,弹簧上端和限位块相连,弹簧下端和导套相连,配制箱上部还具有呈不规则波浪形的导向环,导料环位于转盘上方,且驱动滚轮与导向环相抵靠。
2.根据权利要求1所述的多芯片封装工艺,其特征在于,所述步骤a中的机械研磨分为两个阶段:前段粗磨和后段细磨。
3.根据权利要求2所述的多芯片封装工艺,其特征在于,所述前段粗磨使用颗粒直径为30-40µm的金刚砂轮,后段细磨使用颗粒直径为4-6µm的金刚砂轮。
4.根据权利要求1所述的多芯片封装工艺,其特征在于,所述步骤b中的划片机采用DAD651划片机,切割速度20-25mm/s。
5.根据权利要求1所述的多芯片封装工艺,其特征在于,所述步骤d中的一次固化条件为:充氮保护,固化温度为190-210℃,固化时间为40-80min。
6.根据权利要求1所述的多芯片封装工艺,其特征在于,所述步骤f中的二次固化条件为:充氮保护,固化温度为140-160℃,固化时间为40-80min。
7.根据权利要求1所述的多芯片封装工艺,其特征在于,所述步骤g中的压焊采用低弧度压焊工艺, 高低弧正反打线方式,焊线材料选用金线,焊线温度为180-210℃。
8.根据权利要求1所述的多芯片封装工艺,其特征在于,所述步骤h中的塑封为灌胶式塑封。
9.根据权利要求1所述的多芯片封装工艺,其特征在于,所述步骤k中的先电镀一层6-12µm的铜,再电镀一层12-16µm的锡。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造