[发明专利]一种半导体生产工艺及装置在审
申请号: | 201710343697.6 | 申请日: | 2017-05-16 |
公开(公告)号: | CN107026091A | 公开(公告)日: | 2017-08-08 |
发明(设计)人: | 黄源炜;曹周;桑林波;李韦晓 | 申请(专利权)人: | 杰群电子科技(东莞)有限公司 |
主分类号: | H01L21/48 | 分类号: | H01L21/48;H01L21/67 |
代理公司: | 北京品源专利代理有限公司11332 | 代理人: | 胡彬 |
地址: | 510530 广东省东莞*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 半导体 生产工艺 装置 | ||
技术领域
本发明涉及半导体技术领域,尤其涉及一种半导体生产工艺及装置。
背景技术
半导体(Semiconductor)是指常温下导电性介于导体(Conductor)与绝缘体(Insulator)之间的材料。在半导体封装过程中常采用引线框架作为集成电路的芯片载体,引线框架是一种借助于键合材料(金丝、铝丝、铜丝)实现芯片内部电路引出端与外引线的电气连接,形成电气回路的关键结构件,它起到了和外部导线连接的桥梁作用,绝大部分的半导体集成块中都需要使用引线框架,是电子信息产业中重要的基础材料。目前半导体封装产品大多要求在引线框架的管脚侧面镀锡,以提高产品在PCB板上的焊接牢固性,对引线框架采用管脚半切方式处理可以达到该要求。现有的半导体封装中的引线框架的主要工艺流程为:整片引线框架注塑成型-烘烤-管脚半切-电镀-烘烤-分离成单颗的引线框架。此工艺流程具有以下缺陷:在管脚半切后整片引线框架会产生拱曲变形,从而导致电镀和分离单颗产品过程中出现设备上下料困难、卡料以及分离模具定位不准等问题,使得产品报废,且整片引线框架半切后的拱曲变形量与其片宽成正比,即引线框架片宽越宽变形越严重。
发明内容
本发明的一个目的在于:提供一种半导体生产工艺,其能有效的消除管脚半切后的内应力,保证电镀和单颗分离工序能正常进行,提高良品率。
本发明的另一个目的在于:提供一种半导体生产工艺,其适用于大片宽的引线框架制作,提高生产效率。
本发明的又一个目的在于:提供一种半导体生产装置,其结构简单,生产出来的单颗引线框架的品质好,生产效率高。
为达上述目的,本发明采用以下技术方案:
一方面,提供一种半导体生产工艺,提供整片引线框架,在所述引线框架注塑后先进行管脚半切处理,然后依次进行整形处理、电镀处理以及单颗分离处理,所述整形处理可消除管脚半切后产生的内应力和拱曲变形。
作为半导体生产工艺的一种优选方案,所述整形处理具体为:在所述引线框架上施加压力,然后对所述引线框架进行烘烤处理。
作为半导体生产工艺的一种优选方案,所述整形处理包括以下步骤:
步骤S10、将多个所述引线框架层叠后放置在料盒内;
步骤S20、将压块放置在最上层的所述引线框架上;
步骤S30、对料盒内的所述引线框架进行烘烤处理。
作为半导体生产工艺的一种优选方案,所述步骤S20中的所述压块施加在所述引线框架上的力均匀分布,且力的大小可调。
作为半导体生产工艺的一种优选方案,所述压块施加在所述引线框架上的压力为5kgf~15kgf;或,
所述压块的重量为5kg~15kg。
作为半导体生产工艺的一种优选方案,将所述料盒、所述引线框架以及所述压块整体移送至烘烤箱内。
作为半导体生产工艺的一种优选方案,所述步骤S30中的烘烤处理具体为:在所述料盒的外壁均匀缠绕一圈加热电缆或电加热带或加热盘管。
进一步的,所述步骤S30中的烘烤处理具体为:采用热风机向所述料盒内输送固定温度的热风。
另一方面,提供一种半导体生产装置,包括:
注塑组件,用于对整片的引线框架进行注塑处理;
管脚半切组件,用于对注塑处理后的所述引线框架进行管脚半切;
整形组件,用于对管脚半切后的所述引线框架进行消除内应力和拱曲变形;
电镀组件,用于对整形后的所述引线框架进行电镀处理;
分离组件,用于将电镀处理后的所述引线框架进行单颗分离处理;
所述注塑组件、所述管脚半切组件、所述整形组件、所述电镀组件以及所述分离组件顺序设置。
作为半导体生产装置的一种优选方案,所述整形组件包括:
料盒,具有用于存放整片所述引线框架的空间;
压块,可选择性与设置在所述料盒内的所述引线框架抵接;
加热机构,设置在所述料盒外,用于对所述料盒内的所述引线框架进行烘烤处理。
作为半导体生产装置的一种优选方案,所述整形组件还包括设置在所述料盒一侧的机架,所述机架顶部设置横梁,所述横梁上设置压块气缸,所述压块气缸的活塞杆端部连接所述压块,可推动所述压块沿竖直方向移动,以伸入所述料盒内或移除所述料盒外。
进一步的,所述压块远离所述所述压块气缸的一侧设置压力传感器,所述压力传感器与控制器连接。
进一步的,所述压块施加给所述整片引线框架的压力为2kgf~15kgf。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造