[发明专利]真空管场效应晶体管阵列及其制造方法有效
申请号: | 201611204711.6 | 申请日: | 2016-12-23 |
公开(公告)号: | CN108242444B | 公开(公告)日: | 2020-11-27 |
发明(设计)人: | 肖德元 | 申请(专利权)人: | 上海新昇半导体科技有限公司 |
主分类号: | H01L27/088 | 分类号: | H01L27/088;H01L29/10;H01L29/423;H01L29/78;H01L21/336;H01L21/764;H01L21/8234;H01L21/28;H01L21/34;H01L21/44 |
代理公司: | 上海光华专利事务所(普通合伙) 31219 | 代理人: | 刘星 |
地址: | 201306 上海市浦东*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 真空管 场效应 晶体管 阵列 及其 制造 方法 | ||
本发明提供一种真空管场效应晶体管阵列及其制造方法,所述真空管场效应晶体管阵列包括:源极材料层;漏极材料层;分立设置于所述源极材料层与所述漏极材料层之间的若干栅极结构;所述栅极结构包括条形金属栅;所述条形金属栅侧壁形成有栅极介质层;所述条形金属栅顶端通过第一绝缘层与所述漏极材料层连接,底端通过第二绝缘层与所述源极材料层连接;各栅极结构之间平行排列,且相邻栅极结构之间构成真空沟道。本发明的真空管场效应晶体管阵列可作为大功率器件,并具有结构简单的优点,可方便通过3D打印制造,不仅可以实现较小的体积,还有利于降低生产成本。
技术领域
本发明属于集成电路技术领域,涉及一种真空管场效应晶体管阵列及其制造方法。
背景技术
对于载流子运输介质,真空本质上优于固体,因为它允许弹道运输,而在半导体中,载流子会遭受光学和声学声子散射。真空中的电子速度理论上是3×1010cm/s,但在半导体中,电子速度仅约为5×107cm/s。一些科学家认为,在真空晶体管中,似乎只有电子可以在电极之间流动,而空穴不能。除非我们学会处理正电子,否则将不可能做任何互补型电路,例如CMOS。而没有互补型电路,功率将过高,最有可能限制真空晶体管进入细分市场。很难想象,任何大型数字电路都会用到真空晶体管。
目前真空晶体管主要有四种类型(Jin-Woo Han,Jae Sub Oh and M.Meyyappan,Vacuum Nanoelectronics:Back to the Future?-Gate insulated nanoscale vacuumchannel transistor,APL,100,213505(2012)):(a)垂直场发射型、(b)平面横向场发射型、(c)MOSFET型、(d)绝缘栅空气沟道晶体管。
3-D打印是由麻省理工学院的团队领导的Emanuel Sachs在20世纪80年代末发明的(专利US5204055),也被称为粘结剂喷射,该技术涉及铺设一层粉末,然后喷出液体粘合剂的地区被凝固。与传统的喷墨打印机类似,3-D打印机能够在前一层构建额外的层来构建三维物体,甚至是复杂的对象,作为医疗植入物。这些3D打印技术已经达到这样一个阶段,所需的产品结构可以独立于它们的形状的复杂性,甚至生物打印组织也成为可能。维也纳理工大学曾通过3D打印制作了一辆285μ米长的赛车。
目前,传统的真空晶体管主要是通过玻璃烧结的方法制作,体积较大。而通过半导体方法制作的真空晶体管加工成本高,不适合大批量生产。
因此,如何提供一种新的真空管场效应晶体管阵列及其制造方法,以降低工艺复杂性,并保证优异的器件性能,成为本领域技术人员亟待解决的一个重要技术问题。
发明内容
鉴于以上所述现有技术的缺点,本发明的目的在于提供一种真空管场效应晶体管阵列及其制造方法,用于解决现有技术中无法低成本制造小型真空晶体管的问题。
为实现上述目的及其他相关目的,本发明提供一种真空管场效应晶体管阵列,包括:
源极材料层;
漏极材料层;
分立设置于所述源极材料层与所述漏极材料层之间的若干栅极结构;所述栅极结构包括条形金属栅;所述条形金属栅侧壁形成有栅极介质层;所述条形金属栅顶端通过第一绝缘层与所述漏极材料层连接,底端通过第二绝缘层与所述源极材料层连接;各栅极结构之间平行排列,且相邻栅极结构之间构成真空沟道。
可选地,所述栅极结构的宽度范围是1-100μm,所述真空沟道的宽度范围是1-50μm。
可选地,所述条形金属栅的材料包括Al。
可选地,所述栅介质层的材料包括氧化铝、氧化铪及氮化铝中的一种或多种。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
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H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的