[发明专利]基于ZnO半导体的数字化X射线影像探测器及其制备方法

说明书

技术领域

本发明属于半导体X射线影像探测器件领域，涉及一种基于ZnO半导体的数字化X射线影像探测器及其制备方法。

背景技术

X线影像是目前临床常规诊断和无损检测手段之一，对各类疾病的诊断、金属探伤和安全检查等方面均具有重要意义。直接能量转换X射线影像探测器不仅具备高分辨率可以清晰显示物体细节，而且具有高灵敏度可大幅降低曝光射线量，被认为是平板探测器的最终发展方向。直接转换平板探测器主要由X射线光电探测器和薄膜晶体管阵列构成。

目前广泛应用的直接能量转化平板探测器采用a-Se光电探测材料。但是a-Se平板探测器的生产工艺不成熟，工作电压高，所以寿命短，故障率高，整体性能质量不高而且制造和维护成本较高。其它用于FPXI的X射线光电导膜层材料包括，多晶TlBr、PbI₂、HgI₂、CdZnTe和PbO等，其中HgI₂、PbI₂因其在大面积生长、高阻暗电流小以及大电荷收集效率方面获得突破，近年来已经被用于研制商用FPXI器件；由于来自材料和工艺的环保要求，碘化物、含铅材料、含镉材料以及含砷材料(a-Se敏感膜添加As以提高其稳定性)对环境有潜在的威胁，ZnO、GaN、SiC等宽禁带半导体材料在X射线探测器应用研究开始逐渐受到关注，但现有的X射线探测器件的成本较高，且性能稳定性较差。

在薄膜晶体管方面，从70年代开始，多晶硅和非晶硅TFT就被广泛研究并且最先实现产业化，但是多晶硅和非晶硅TFT的迁移率较低，在光照下性能退化，并且存在大尺寸均匀性问题，然而采用多晶硅和非晶硅TFT为衬底制备的X射线探测器件成本较高，使用寿命较短。

发明内容

本发明的目的在于克服上述现有技术的缺点，提供了一种基于ZnO半导体的数字化X射线影像探测器及其制备方法，该探测器的成本较低，性能稳定，使用寿命较长，并且制作方法简单。

为达到上述目的，本发明所述的基于ZnO半导体的数字化X射线影像探测器包括基于ZnO半导体的光电转换器件、控制器、多路放大器、多路选择器、模数转换器及数据输出电路，基于ZnO半导体的光电转换器件的位线依次经多路放大器、多路选择器及模数转换器与数据输出电路相连接，控制器的输出端与基于ZnO半导体的光电转换器件的字线及偏压线、多路选择器的控制端、模数转换器的控制端及数据输出电路的控制端相连接。

基于ZnO半导体的光电转换器件包括阵列分布的若干光电转换模块，所述光电转换模块包括玻璃衬底、源电极层、漏电极层、第一ZnO膜层、栅介质层、栅电极层、第二ZnO膜层、金属电极层、绝缘层、字线、偏压线及位线；

位线、源电极层及漏电极层位于玻璃衬底上，位线与源电极层相连接，漏电极层与位线及源电极层分离，第一ZnO膜层的两侧覆盖于漏电极层上表面的一侧与源电极层的上表面上，栅介质层与栅电极层自下到上依次设于第一ZnO膜层上，且栅介质层及栅电极层均与漏电极层分离，第二ZnO膜层及金属电极层自下到上依次设于漏电极层上表面的另一侧上，绝缘层覆盖于栅电极层及金属电极层的上表面，绝缘层上开设有第一引线孔及第二引线孔，字线及偏压线设于绝缘层的上表面，且字线与偏压线分离，字线的出线端穿过第一引线孔与栅电极层相连接，偏压线的出线端穿过第二引线孔与金属电极层相连接，各光电转换模块中字线的入线端及偏压线的入线端均与控制器的输出端相连接，各光电转换模块中的位线与多路放大器的输入端相连接。

本发明所述的基于ZnO半导体的数字化X射线影像探测器的制备方法包括以下步骤：

1)清洗并吹干玻璃衬底的表面；

2)在玻璃衬底的镀第一金属膜，再第一金属膜的上表面进行旋转涂胶、曝光及显影，并将第一金属膜刻蚀成位线、源电极层及漏电极层，然后再进行去胶；

3)在步骤2)得到的产品上镀第一ZnO膜，并在第一ZnO膜的上表面进行旋转涂胶、曝光及显影，再将第一ZnO膜刻蚀成第一ZnO膜层，然后再进行去胶；

4)在步骤3)得到的产品上镀栅介质膜，再在栅介质膜的上表面进行旋转涂胶、曝光及显影，再将栅介质膜刻蚀成栅介质层，然后再进行去胶；

5)在步骤4)得到的样品上镀第二ZnO膜，并在第二ZnO膜的上表面进行旋转涂胶、曝光及显影，再将第二ZnO膜刻蚀成第二ZnO膜层，然后再进行去胶；

6)在步骤5)得到的产品上旋转涂胶、曝光及显影，再镀金属膜，然后去胶，制备得到栅电极层及金属电极层；