[实用新型]一种高可靠性的钯金IC封装凸块有效
申请号: | 201520658559.3 | 申请日: | 2015-08-28 |
公开(公告)号: | CN204991694U | 公开(公告)日: | 2016-01-20 |
发明(设计)人: | 周义亮 | 申请(专利权)人: | 周义亮 |
主分类号: | H01L23/485 | 分类号: | H01L23/485 |
代理公司: | 淮安市科文知识产权事务所 32223 | 代理人: | 谢观素 |
地址: | 223005 江苏省淮安市经*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 可靠性 ic 封装 | ||
技术领域
本实用新型涉及IC封装领域,具体涉及一种高可靠性的钯金IC封装凸块。
背景技术
驱动IC封装上使用的凸块普遍为纯金,成本高,目前有一种采用铜镍金组合来代替纯金的IC封装凸块,可以有效降低成本,鉴于黄金的成本,在镍层上的金层有3um厚,短时间内溅渡的连接性尚好,如在潮湿环境中过久,透过金层的疏孔,会使镍层氧化腐蚀,进而导致金层表面渐渐失去连接性,而且镍层中常含有的还原剂磷、硼将造成镍层与金层的粘结力下降,性能可靠性低;钯金IC封装凸块是一种利用钯耐蚀、耐磨、耐变色性好、化学稳定性高的优点,确保与金层之间粘结力,以克服铜镍金IC封装凸块的缺陷,但是由于不同金属的膨胀系数不一样,在温度变化时,各金属层之间产生应力,很容易引起基体变形或产生裂纹,甚至会剥离脱落,因此这种钯金IC封装凸块也存在可靠性低的问题。
发明内容
本实用新型要解决的技术问题是提供一种高可靠性的钯金IC封装凸块,可以解决现有钯金IC封装凸块在温度变化时,各金属层之间产生应力,很容易引起基体变形或产生裂纹,甚至会剥离脱落,导致可靠性差的问题。
本实用新型通过以下技术方案实现:
一种高可靠性的钯金IC封装凸块,包括从下向上依次设置的载体、导电层、绝缘层、钛钨层、第一金层、钯层和第二金层,所述绝缘层上设有孔,露出部分导电层,所述孔并排设有多道,相邻的两道孔之间为孔桥,所述钛钨层成波浪形贴合绝缘层、部分导电层及孔桥的表面,所述第一金层、钯层和第二金层也成波浪形。
本实用新型的进一步方案是,所述载体为硅片。
本实用新型的进一步方案是,所述导电层为铝垫。
本实用新型的进一步方案是,所述绝缘层为PSV绝缘材料。
本实用新型与现有技术相比的优点在于:
一、各金属层成波浪形,降低温度变化时各金属层的横向位移,从而减小相邻金属层之间的应力,进而削弱应力产生的负面影响,提高钯金IC封装凸块的可靠性;
二、孔桥可以吸收钛钨层与部分导电层之间的应力,进一步提高钯金IC封装凸块的可靠性。
附图说明
图1为本实用新型的结构示意图。
具体实施方式
如图1所示的一种高可靠性的钯金IC封装凸块,包括从下向上依次设置的硅片载体1、铝垫导电层2、PSV绝缘层3、钛钨层4、第一金层5、钯层6和第二金层7,所述绝缘层3上并排设有多道孔21,露出部分导电层2,相邻的两道孔21之间为孔桥8,所述钛钨层4成波浪形贴合绝缘层3、部分导电层2及孔桥8的表面,所述第一金层5、钯层6和第二金层7也成波浪形。
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