[发明专利]基于傅里叶变换无需相位展开的快速三维形貌测量方法有效

专利信息
申请号: 201510515682.4 申请日: 2015-08-21
公开(公告)号: CN105043298B 公开(公告)日: 2017-08-04
发明(设计)人: 宋克臣;胡少鹏;颜云辉;董志鹏;温馨 申请(专利权)人: 东北大学
主分类号: G01B11/245 分类号: G01B11/245
代理公司: 沈阳优普达知识产权代理事务所(特殊普通合伙)21234 代理人: 张志伟
地址: 110819 辽宁*** 国省代码: 辽宁;21
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摘要:
搜索关键词: 基于 傅里叶变换 无需 相位 展开 快速 三维 形貌 测量方法
【说明书】:

技术领域

发明涉及一种基于傅里叶变换无需相位展开的快速三维形貌测量方法,具体说是一种基于傅里叶变换的快速三维测量方法,可用于高速实时状态下的目标三维测量,属于三维形貌测量领域。

背景技术

三维形貌测量技术旨在获取物体的三维信息,该技术现已广泛应用于各个领域,如何进行快速高精度的测量一直是三维测量方面的研究重点。基于光学的三维测量技术是目前最有发展前景的方向之一,其中基于结构光技术的三维测量是其中研究的热点之一,其应用也是十分广泛。

傅里叶轮廓三维测量方法就是一种基于条纹结构光的算法,最初由Takeda和Mutoh于1983年提出,其优势主要在于只需要一幅图像即可进行三维结构光测量。具体来说,只需要拍摄一幅编码的条纹图,然后对它进行傅里叶变换,紧接着在空域里进行带通滤波,将非编码的信息滤去只保留条纹信息。最后通过傅里叶逆变换将滤波后的图像变换回来,再经过相位运算就得到包裹的相位图。

虽然傅里叶变换法具有快速测量等的优势,但是传统的傅里叶变换方法在求解得到包裹的相位图后,都需要相位展开过程。同时,为了求得三维坐标,一般都需要对投射结构光条纹的投影仪进行标定。此外,傅里叶变换法是将相位信息直接换算成高度信息。因此,相位信息误差就直接反应到高度误差上,所以该方法需要较高质量的相位图,这些特点就限制傅里叶变换方法在三维测量上的应用。

近年来,国内外许多学者对傅里叶变换三维测量方法进行改进,但是大多数都是对相位展开过程,或者投影仪标定方法等进行改进。从本质上来说并没有避免相位展开和投影仪标定等过程,这样整个算法还是比较复杂,不利于应用推广。

发明内容

本发明的目的是在于针对上述现有技术存在的问题,提供一种基于傅里叶变换无需相位展开的快速三维形貌测量方法。

为了实现上述目的,本发明采用如下技术方案:

一种基于傅里叶变换无需相位展开的快速三维形貌测量方法,该方法包括如下步骤:

步骤1、建立双目立体视觉检测平台,主要包括两台平行放置的工业相机以及专业投影仪设备;

步骤2、对工业相机进行立体标定,得到相机标定参数,用于双目立体矫正过程;

步骤3、在不使用任何主动光源的条件下,同时拍摄获取左右相机图像,称之为左右原图;

步骤4、用专业投影仪投射设计好的结构光图案,然后同时拍摄获取左右相机图像,称之为结构光条纹图;

步骤5、利用步骤3得到的左右原图,采用被动立体匹配算法得到初步视差图;

步骤6、利用步骤4得到的左右结构光条纹图,采用傅里叶轮廓技术得到包裹的相位图;

步骤7、将步骤5得到的初步视差图作为约束条件,对步骤6得到的包裹相位图采用局部相位匹配方法进行相位匹配,得到像素级的相位匹配视差图;

步骤8、对步骤7得到的匹配结果运用线性比例关系进行视差精细化处理,得到亚像素级精度的视差匹配结果;

步骤9、将步骤8得到的亚像素级精度的视差结果生成三维点云图,显示三维形貌结果。

本发明的设计思想是:

本发明提出将双目立体匹配技术应用于基于傅里叶变换法的三维形貌测量中,避免复杂的相位展开过程,无需投影仪标定,可以达到亚像素级精度的匹配结果。双目立体匹配技术用于实现粗糙匹配,得到初步视差图,随后用此初步视差图作为约束条件用来对傅里叶变换法得到的包裹相位图进行相位匹配,最后生成三维点云图。

本发明的优点及有益效果是:

1、本发明利用被动立体匹配技术得到初步视差图,并将此初步视差图作为约束条件来实现包裹相位的像素级匹配。随后,运用线性比例思想实现亚像素级的相位匹配,得到致密视差图。

2、本发明不需要任何空间或时间的相位展开过程,简化算法复杂度,同时避免相位展开带来的误差。

3、本发明不需要投影仪标定过程,避免复杂的投影仪标定可以使得测量过程更加简化,同时又能避免投影仪标定带来的误差。

4、本发明测量过程只需投射一幅结构光图,相机共拍摄两幅图即可,达到快速测量的要求。

5、本发明由于采用被动立体匹配方法作为约束条件,因此不需要高质量的相位图,使得算法复杂度降低。

6、本发明可运用于单个或者多个物体,同时可以应用到连续或不连续的物体的三维形貌测量。

总之,本发明是一种新颖、简单而又快速的三维测量方法,具有很高的应用价值,尤其是在快速三维测量技术方面,具有很大的发展前景。

附图说明

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  • 提出一种用于对涡轮机的叶片(5)进行非接触式三维检测的装置,所述装置包括:用于扫描所述叶片的扫描构件,包括至少一个第一对激光测量模块(2A、2B)和用于沿着所述叶片的所述主轴线相对于所述模块围绕所述主轴线旋转驱动所述叶片的构件;用于通过使用来自所述扫描构件的数据来重建所述叶片的三维虚拟表示的构件;使用所述三维表示进行尺寸检测的构件;每对模块包括朝向叶片的第一面定向的第一模块(2A)和朝向叶片的第二面定向的第二模块(2B);所述模块相对于所述叶片定向,以使得在所述叶片围绕所述主轴线旋转期间,所述扫描构件在所述叶片的整个轮缘上扫描所述叶片的所述第一面和所述第二面,且使得在所述叶片沿着所述主轴线平移期间,所述扫描构件在整个高度上扫描所述叶片的所述第一面和所述第二面。
  • 用于获取距离差的光学测量装置以及光学测量方法-201480034685.X
  • 米歇尔特·博索德;昆克尔·玛西尔斯 - 普雷茨特激光技术有限公司
  • 2014-06-17 - 2018-08-24 - G01B11/245
  • 用于获取台阶高度的光学测量装置以及光学测量方法。发明涉及一种光学测量装置,所述光学测量装置用于原位获取支座(8)与要被测量的物体(12)的边缘区域(10)之间的距离差(6)。该光学测量装置具有:具有双束引导(15)的测量头(14),所述测量头(14)将第一测量束(16)引向支座(8),并且将第二测量束(18)引向要被测量的物体(12)的边缘区域(10)。提供用于获取并且形成被引向支座(8)的第一测量束(16)的反射光谱,以及被引向要被测量的物体(12)的边缘区域(10)的第二测量束(18)的反射光谱的工具。测量装置具有配设一个光谱线(72)的多通道测量设备(34)。用于获取支座(8)与物体(12)的边缘区域(10)之间的台阶高度的针对反射光谱的评估单元(32),与光谱仪(48)和显示单元(66)一起工作。
  • 一种自动检测晶片基底二维形貌的装置-201410692768.X
  • 刘健鹏;马铁中;张立芳;黄文勇;桑云刚 - 北京智朗芯光科技有限公司
  • 2014-11-26 - 2018-07-31 - G01B11/245
  • 本发明公开了一种自动检测晶片基底二维形貌的装置,属于半导体材料无损检测技术领域。该装置中,N束激光的多路出射光是由一个激光器经过一个包含多个分光面的分光棱镜,通过给所述多个分光面赋予差异化的反射率和透射率,使得经过该分光棱镜后射出的多路出射光光强相同,即该多路光强相同的出射光不是由多个激光器发射得到的,而是仅仅由一个激光器经过该分光棱镜的反射、折射得到的,由此,在有限的布置空间内,可以选用体积稍大的激光器,当激光器体积增大后,其内部散热性能改善,并且,由于该激光器内增设了反馈电路,可以根据需要改变激光器的内部参数,因此,能够增强激光器的输出功率和波长的稳定性。
  • 一种扫描式高亮背景特征点标识方法-201611084068.8
  • 王东伟;刘柯;陈晓晖;宋金城;孙增玉 - 北京航天计量测试技术研究所;中国运载火箭技术研究院
  • 2016-11-30 - 2018-06-05 - G01B11/245
  • 本发明属于几何量计量技术领域,具体涉及一种扫描式高亮背景特征点标识方法。将被测物安装在烧蚀试验箱中,关闭舱门;光谱仪检测整个试验过程,得到光谱数据,在光谱仪上安装同步计时器;分析光谱数据,找到各个谱段光强都比较小的波长,记为n;选择波长为n的激光器,将激光器安装在二维扫描转台上,激光器通过观察窗进行投射,实现激光点投射位置的变化;在窗口位置安装双目立体视觉系统,调整位置,使被测物处于视场中心;在双目立体视觉系统的摄像机镜头前安装波长为n的带通滤波片;打开激光器、摄像机,在烧蚀状态下,按照预设要求,二维扫描转台转动,移动激光光点,摄像机同步拍摄,得到图像数据;双目立体视觉系统计算得到测量点数据。
  • 一种双目结构光三维点数据采集装置-201721703184.3
  • 周柔刚;周才健;陈安;许允迪 - 金华汇萃智能科技有限公司
  • 2017-12-10 - 2018-06-01 - G01B11/245
  • 本实用新型公开一种双目结构光三维点数据采集装置,包括光学投射器、摄像机、连接杆、光学投射器传送轨、摄像机导轨,所述摄像机包括第一摄像机和第二摄像机,所设连接杆包括第一连接杆和第二连接杆,所述光学投射器与所述光学投射器传送轨活动连接,所述第一摄像机通过第一连接杆与所述摄像机导轨活动连接,所述第二摄像机通过第二连接杆与所述摄像机导轨活动连接,所述第一摄像机与第二摄像机通过光学投射器传送轨连接,且关于所述光学投射器对称设置,本实用新型的好处在于:可以消除测量过程中的盲区,摄像头可以拍摄到被测物体表面所有光条二维畸变图像,使数据采集更完整。
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