专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]架空线测定装置及架空线测定方法-CN201480039911.3有效
  • 渡边正久 - 株式会社日立高新技术高精细系统
  • 2014-09-01 - 2018-10-19 - G01B11/245
  • 能够基于行驶的车辆简单地测定架空线的磨损部的形状。将狭缝状的激光束L1、L2从车辆9的车顶上相对于车辆前进方向大致垂直地照射到架空线1。通过照射激光束,在架空线1的包括侧面在内的下侧生成光切割图像。通过利用照相机等从斜下方接收该光切割图像,获取表示架空线1的包括侧面在内的下侧的形状的图像,即架空线1的光切割图像的轮廓d0。将这样的光投射部和光接收部设置两套于沿架空线1的偏移左右方向分离的位置,并分别测定激光束L1、L2照射到的部分的形状,通过对其进行图像处理,生成表示架空线1的滑动面和左右侧面的剖面形状的数据。基于生成的表示架空线1的滑动面和左右侧面的剖面形状的数据,测定架空线1的侧面的剩余量和磨损量。
  • 架空测定装置方法
  • [发明专利]热辅助磁头元件的检查装置及其方法-CN201610181780.3在审
  • 张开锋;广濑丈师;渡边正浩;杉山敏教;飞田明 - 株式会社日立高新技术高精细系统
  • 2016-03-28 - 2016-10-12 - G01Q60/06
  • 本发明提供一种热辅助磁头元件的检查装置及其方法。在热辅助磁头的检查中,即使悬臂的测定探针的直径对于每个悬臂具有偏差,也能够保证进行高精度的检查。热辅助磁头元件的检查装置具备:悬臂;位移检测系统,其检测悬臂的位移;光检测器,其检测来自悬臂的散射光;信号处理部,其接收来自位移检测部的输出信号和来自光检测器的输出信号对信号进行处理;以及控制部,其对整体进行控制,还具备:载置部,其载置近场光产生样本;激光源,其发射激光;激光照射光学系统,其将激光照射到近场光产生样本而产生近场光;以及工作台部,其载置载置部和激光照射光学系统来使近场光产生样本在悬臂正下方与从悬臂离开的位置之间进行移动。
  • 辅助磁头元件检查装置及其方法

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