[发明专利]一种扫描式高亮背景特征点标识方法在审
| 申请号： | 201611084068.8 | 申请日： | 2016-11-30 |
| 公开（公告）号： | CN108120399A | 公开（公告）日： | 2018-06-05 |
| 发明（设计）人： | 王东伟;刘柯;陈晓晖;宋金城;孙增玉 | 申请（专利权）人： | 北京航天计量测试技术研究所;中国运载火箭技术研究院 |
| 主分类号： | G01B11/245 | 分类号： | G01B11/245 |
| 代理公司： | 核工业专利中心 11007 | 代理人： | 吕岩甲 |
| 地址： | 100076 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明属于几何量计量技术领域，具体涉及一种扫描式高亮背景特征点标识方法。将被测物安装在烧蚀试验箱中，关闭舱门；光谱仪检测整个试验过程，得到光谱数据，在光谱仪上安装同步计时器；分析光谱数据，找到各个谱段光强都比较小的波长，记为n；选择波长为n的激光器，将激光器安装在二维扫描转台上，激光器通过观察窗进行投射，实现激光点投射位置的变化；在窗口位置安装双目立体视觉系统，调整位置，使被测物处于视场中心；在双目立体视觉系统的摄像机镜头前安装波长为n的带通滤波片；打开激光器、摄像机，在烧蚀状态下，按照预设要求，二维扫描转台转动，移动激光光点，摄像机同步拍摄，得到图像数据；双目立体视觉系统计算得到测量点数据。 | ||
| 搜索关键词： | 激光器 双目立体视觉系统 光谱仪 背景特征 二维扫描 被测物 扫描式 波长 高亮 烧蚀 摄像机 分析光谱数据 测量点数据 带通滤波片 几何量计量 摄像机镜头 同步计时器 窗口位置 调整位置 光谱数据 视场中心 试验过程 同步拍摄 投射位置 图像数据 选择波长 移动激光 预设要求 转台转动 观察窗 激光点 试验箱 舱门 投射 光点 光强 检测 | ||
【主权项】：
一种扫描式高亮背景特征点标识方法，其特征在于：包括步骤如下：将被测物安装在烧蚀试验箱中，关闭舱门；在烧蚀试验过程中，将光谱仪安装在试验舱窗口位置，光谱仪检测整个试验过程，得到光谱数据；在光谱仪上安装同步计时器，在采集数据的同时进行时间同步，准确记录所采数据与烧蚀过程同步；分析光谱数据，找到各个谱段光强都比较小的波长，记为n；选择波长为n的激光器，将激光器安装在二维扫描转台上，激光器通过观察窗进行投射，实现激光点投射位置的变化；在窗口位置安装双目立体视觉系统，调整位置，使被测物处于视场中心；在双目立体视觉系统的摄像机镜头前安装波长为n的带通滤波片；打开激光器、摄像机，在烧蚀状态下，按照预设要求，二维扫描转台转动，移动激光光点，摄像机同步拍摄，得到图像数据；双目立体视觉系统计算得到测量点数据。
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- 2014-06-17 - 2018-08-24 - G01B11/245
- 用于获取台阶高度的光学测量装置以及光学测量方法。发明涉及一种光学测量装置，所述光学测量装置用于原位获取支座(8)与要被测量的物体(12)的边缘区域(10)之间的距离差(6)。该光学测量装置具有：具有双束引导(15)的测量头(14)，所述测量头(14)将第一测量束(16)引向支座(8)，并且将第二测量束(18)引向要被测量的物体(12)的边缘区域(10)。提供用于获取并且形成被引向支座(8)的第一测量束(16)的反射光谱，以及被引向要被测量的物体(12)的边缘区域(10)的第二测量束(18)的反射光谱的工具。测量装置具有配设一个光谱线(72)的多通道测量设备(34)。用于获取支座(8)与物体(12)的边缘区域(10)之间的台阶高度的针对反射光谱的评估单元(32)，与光谱仪(48)和显示单元(66)一起工作。
- 一种自动检测晶片基底二维形貌的装置-201410692768.X
- 刘健鹏;马铁中;张立芳;黄文勇;桑云刚 - 北京智朗芯光科技有限公司
- 2014-11-26 - 2018-07-31 - G01B11/245
- 本发明公开了一种自动检测晶片基底二维形貌的装置，属于半导体材料无损检测技术领域。该装置中，N束激光的多路出射光是由一个激光器经过一个包含多个分光面的分光棱镜，通过给所述多个分光面赋予差异化的反射率和透射率，使得经过该分光棱镜后射出的多路出射光光强相同，即该多路光强相同的出射光不是由多个激光器发射得到的，而是仅仅由一个激光器经过该分光棱镜的反射、折射得到的，由此，在有限的布置空间内，可以选用体积稍大的激光器，当激光器体积增大后，其内部散热性能改善，并且，由于该激光器内增设了反馈电路，可以根据需要改变激光器的内部参数，因此，能够增强激光器的输出功率和波长的稳定性。
- 一种扫描式高亮背景特征点标识方法-201611084068.8
- 王东伟;刘柯;陈晓晖;宋金城;孙增玉 - 北京航天计量测试技术研究所;中国运载火箭技术研究院
- 2016-11-30 - 2018-06-05 - G01B11/245
- 本发明属于几何量计量技术领域，具体涉及一种扫描式高亮背景特征点标识方法。将被测物安装在烧蚀试验箱中，关闭舱门；光谱仪检测整个试验过程，得到光谱数据，在光谱仪上安装同步计时器；分析光谱数据，找到各个谱段光强都比较小的波长，记为n；选择波长为n的激光器，将激光器安装在二维扫描转台上，激光器通过观察窗进行投射，实现激光点投射位置的变化；在窗口位置安装双目立体视觉系统，调整位置，使被测物处于视场中心；在双目立体视觉系统的摄像机镜头前安装波长为n的带通滤波片；打开激光器、摄像机，在烧蚀状态下，按照预设要求，二维扫描转台转动，移动激光光点，摄像机同步拍摄，得到图像数据；双目立体视觉系统计算得到测量点数据。
- 一种双目结构光三维点数据采集装置-201721703184.3
- 周柔刚;周才健;陈安;许允迪 - 金华汇萃智能科技有限公司
- 2017-12-10 - 2018-06-01 - G01B11/245
- 本实用新型公开一种双目结构光三维点数据采集装置，包括光学投射器、摄像机、连接杆、光学投射器传送轨、摄像机导轨，所述摄像机包括第一摄像机和第二摄像机，所设连接杆包括第一连接杆和第二连接杆，所述光学投射器与所述光学投射器传送轨活动连接，所述第一摄像机通过第一连接杆与所述摄像机导轨活动连接，所述第二摄像机通过第二连接杆与所述摄像机导轨活动连接，所述第一摄像机与第二摄像机通过光学投射器传送轨连接，且关于所述光学投射器对称设置，本实用新型的好处在于：可以消除测量过程中的盲区，摄像头可以拍摄到被测物体表面所有光条二维畸变图像，使数据采集更完整。
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