[发明专利]共平面型氧化物半导体TFT基板结构及其制作方法有效
申请号: | 201510236460.9 | 申请日: | 2015-05-11 |
公开(公告)号: | CN104934444B | 公开(公告)日: | 2018-01-02 |
发明(设计)人: | 吕晓文;曾志远 | 申请(专利权)人: | 深圳市华星光电技术有限公司 |
主分类号: | H01L27/12 | 分类号: | H01L27/12;H01L21/77 |
代理公司: | 深圳市德力知识产权代理事务所44265 | 代理人: | 林才桂 |
地址: | 518132 广东*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 平面 氧化物 半导体 tft 板结 及其 制作方法 | ||
技术领域
本发明涉及平面显示器领域,尤其涉及一种共平面型氧化物半导体TFT基板结构及其制作方法。
背景技术
主动矩阵平面显示器具有机身薄、省电、无辐射等众多优点,得到了广泛的应用。其中,有机发光二极管(organic light-emitting diode,OLED)显示技术是一种极具发展前景的平板显示技术,它具有十分优异的显示性能,特别是自发光、结构简单、超轻薄、响应速度快、宽视角、低功耗及可实现柔性显示等特性,被誉为“梦幻显示器”,再加上其生产设备投资远小于薄膜晶体管型液晶显示屏(TFT-LCD,Thin Film Transistor-Liquid Crystal Display),得到了各大显示器厂家的青睐,已成为显示技术领域中第三代显示器件的主力军。目前OLED已处于大规模量产的前夜,随着研究的进一步深入,新技术的不断涌现,OLED显示器件必将有一个突破性的发展。
氧化物半导体(Oxide Semiconductor)由于具有较高的电子迁移率,具有非晶结构,与非晶硅制程兼容性较高,从而在OLED大尺寸面板生产中得到了广泛的应用。
目前,氧化物半导体TFT基板的常用结构为具有蚀刻阻挡层(ESL,Etching Stop Layer)的结构,但该结构本身存在一些问题,如蚀刻均一性难以控制,需要多加一道光罩及光刻制程,栅极与源/漏极交叠,存储电容较大,难以达到高分辨率等。
相比于具有蚀刻阻挡层的结构,共平面型(Coplanar)氧化物半导体TFT基板结构更为合理,更具有量产前途。如图1至图5所示,为现有的一种共平面型氧化物半导体TFT基板结构的制作方法,包括如下步骤:
步骤1、提供基板100,并在基板100上沉积第一金属层,并通过光刻制程使第一金属层图案化,形成间隔设置的第一栅极210与第二栅极220;
步骤2、在第一栅极210、第二栅极220、及基板100上沉积栅极绝缘层300,并通过光刻制程使其图案化,在所述栅极绝缘层300上对应所述第二栅极220上方形成第一通孔310;
步骤3、在栅极绝缘层300上沉积第二金属层,并通过光刻制程使第二金属层图案化,形成间隔设置的源极410与漏极420,并且所述漏极420上形成有第二通孔425;
具体的,所述漏极420经由第一通孔310与第二栅极220相连。
步骤4、在源极410、漏极420、及栅极绝缘层300上沉积氧化物半导体层,并通过光刻制程使其图案化,形成有源层500,所述有源层500包括本体520及连接本体520且位于源极410与漏极420之间的沟道510;
步骤5、在有源层500、源极410、及漏极420上沉积钝化层600,并通过光刻制程对其进行图案化,在所述钝化层600上对应漏极420上方形成第三通孔610。
具体的,所述钝化层600填充所述漏极420上的第二通孔425。
上述制作方法得到的一种共平面型氧化物半导体TFT基板结构中,所述有源层500的沟道510为一条长沟道,所述有源层500具有较低的迁移率及较高的漏电流,TFT器件的性能较差。
发明内容
本发明的目的在于提供一种共平面型氧化物半导体TFT基板结构,有源层包括本体及连接本体的数条短沟道,数条短沟道通过数个条状金属电极间隔开,使得有源层具有较高的迁移率及较低的漏电流,从而改善TFT器件的性能。
本发明的目的还在于提供一种共平面型氧化物半导体TFT基板结构的制备方法,通过一道光刻制程形成源极、漏极、及位于源极与漏极之间且间隔设置的数个条状金属电极,使得下一制程沉积氧化物半导体层时,可以在源极与漏极之间形成数条短沟道,所述数条短沟道通过数个条状金属电极间隔开,该方法简单,不需要使用额外的光罩或者增加制程,即可获得不同于现有技术的有源层结构,制得的有源层具有较高的迁移率及较低的漏电流,从而改善TFT器件的性能。
为实现上述目的,本发明提供一种共平面型氧化物半导体TFT基板结构,包括:基板,位于基板上的第一栅极与第二栅极,位于第一栅极、第二栅极、及基板上的栅极绝缘层,位于栅极绝缘层上的源极、漏极、及位于源极与漏极之间且间隔设置的数个条状金属电极,位于所述源极、漏极、条状金属电极、及栅极绝缘层上的有源层,位于所述有源层、源极、及漏极上的钝化层;
其中,所述有源层包括本体及连接本体且位于源极与漏极之间的数条短沟道,所述数条短沟道通过数个条状金属电极间隔开。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的