[发明专利]电子器件密封用片及电子器件封装体的制造方法无效

专利信息
申请号: 201480051095.8 申请日: 2014-09-05
公开(公告)号: CN105556660A 公开(公告)日: 2016-05-04
发明(设计)人: 石井淳;丰田英志 申请(专利权)人: 日东电工株式会社
主分类号: H01L23/29 分类号: H01L23/29;H01L23/31
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 11021 代理人: 蒋亭
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要:
搜索关键词: 电子器件 密封 封装 制造 方法
【权利要求书】:

1.一种电子器件密封用片,其具备:具有在基材上层叠了粘合剂层的 结构的保护膜、以及层叠于所述粘合剂层上的热固化性树脂层。

2.根据权利要求1所述的电子器件密封用片,在温度25℃、拉伸速 度300mm/秒、剥离角度180度的条件下,从所述热固化性树脂层剥离所 述保护膜时的剥离强度为0.03N/20mm以上。

3.根据权利要求1或2所述的电子器件密封用片,其中,所述粘合剂 层为选自紫外线固化性粘合剂层、热固化性粘合剂层及热发泡性粘合剂层 中的至少1种。

4.根据权利要求1~3中任一项所述的电子器件密封用片,其中,

所述热固化性树脂层包含无机填充剂,

所述热固化性树脂层中的所述无机填充剂的含量为70~90体积%。

5.一种电子器件封装体的制造方法,其包括:

准备具备保护膜以及热固化性树脂层的片的工序,所述保护膜具有在 基材上层叠了粘合剂层的结构,所述热固化性树脂层层叠于所述粘合剂层 上;

以所述热固化性树脂层与电子器件对置的方式使所述片载置于所述 电子器件上的工序;

通过用所述热固化性树脂层密封所述电子器件而形成密封体的工序;

通过使所述密封体的来自所述热固化性树脂层的部分固化而形成固 化体的工序;和

从所述固化体剥离所述保护膜的工序。

6.根据权利要求5所述的电子器件封装体的制造方法,其中,

所述粘合剂层为紫外线固化性粘合剂层,

该制造方法还包括:在从所述固化体剥离所述保护膜的工序之前,使 所述紫外线固化性粘合剂层固化的工序。

7.根据权利要求5所述的电子器件封装体的制造方法,其中,

所述粘合剂层为热固化性粘合剂层,

该制造方法还包括:在从所述固化体剥离所述保护膜的工序之前,使 所述热固化性粘合剂层固化的工序。

8.根据权利要求5所述的电子器件封装体的制造方法,其中,

所述粘合剂层为热发泡性粘合剂层,

该制造方法还包括:在从所述固化体剥离所述保护膜的工序之前,使 所述热发泡性粘合剂层发泡的工序。

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