[发明专利]一种用封装模块封装半导体结构的方法在审

专利信息
申请号: 201410780793.3 申请日: 2014-12-17
公开(公告)号: CN104465417A 公开(公告)日: 2015-03-25
发明(设计)人: 宋岩;闫俊尧;孙晓文 申请(专利权)人: 大连泰一精密模具有限公司
主分类号: H01L21/56 分类号: H01L21/56
代理公司: 大连星海专利事务所 21208 代理人: 花向阳
地址: 116600 辽宁省大连*** 国省代码: 辽宁;21
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摘要:
搜索关键词: 一种 封装 模块 半导体 结构 方法
【权利要求书】:

1.一种用封装模块封装半导体结构的方法,用封装模块把芯片(102)封装在基片(104)上,形成一个完整的半导体器件,其特征是:所述封装模块包括上封装模块(100)和下封装模块(122),封装模块具有一个合模面(108)、平滑面和型腔(110),平滑面是一个与合模面(108)相切的曲面并置于型腔(110)的开口处,当封装模块与携带芯片(102)的完整基片(104)连接时,合模面(108)接触并压基片(104);所述型腔(110)内部的壁顶面(134)与壁侧面(136)连接,型腔(110)内部的壁顶面(134)在基片(104)对面,型腔(110)内部的壁侧面(136)与平滑面连接,型腔(110)内部的壁顶面(134)和壁侧面(136)相互连接形成一夹角(138),平滑面和合模面(108)与一个切点(T1)相连,相互连接的切点(T1)在0.78-1.85 毫米之间的距离被分隔;所述型腔(110)内填充一种把芯片(102)封装在基片(104)上的密封胶。

2.根据权利要求1 所述的一种用封装模块封装半导体结构的方法,其特征是:所述平滑面采用第一平滑面(114)或采用第一平滑面(114)、第二平滑面(118)和第三平滑面(132)连续过渡的组合结构。

3.根据权利要求2 所述的一种用封装模块封装半导体结构的方法,其特征是:所述第一平滑面(114)采用圆表面的一部分时,第二平滑面(118)和第三平滑面(132)也采用圆表面的一部分,圆表面的曲率半径范围从0.1-2.0 毫米。

4.根据权利要求2 所述的一种用封装模块封装半导体结构的方法,其特征是:所述第一平滑面(114)采用椭圆表面的一部分时,第二平滑面(118)和第三平滑面(132)也采用椭圆表面的一部分,椭圆的主轴范围从0.1-1.17 毫米,短袖范围从0.1-1.0 毫米。

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