[发明专利]集成电路硅片划片方法在审
申请号: | 201310561327.1 | 申请日: | 2013-11-12 |
公开(公告)号: | CN104637875A | 公开(公告)日: | 2015-05-20 |
发明(设计)人: | 肖海滨;金玮;孙卫红 | 申请(专利权)人: | 上海华虹集成电路有限责任公司 |
主分类号: | H01L21/78 | 分类号: | H01L21/78 |
代理公司: | 上海浦一知识产权代理有限公司 31211 | 代理人: | 戴广志 |
地址: | 201203 上海*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 集成电路 硅片 划片 方法 | ||
技术领域
本发明涉及集成电路芯片封装领域,特别是涉及一种集成电路硅片划片方法。
背景技术
目前硅片的划片技术有金刚刀划片和激光划片,均是对整个硅片进行切割,然后整张硅片进行固晶邦定封装。随着硅片制造工艺的不断发展,集成电路硅片越做越大,从4-inch→6-inch→8-inch→12-inch→18-inch→…,单位面积上芯片的数量越来越多,单位面积芯片制作的成本越来越低。随着硅片尺寸变大,封装中固晶设备也需要不断进行更新换代,而封装厂固有的旧设备就无法适应大尺寸硅片固晶,往往处于闲置状态,或者只能接受小尺寸硅片固晶加工,大尺寸硅片的芯片推广受到限制。
无论金刚刀划片或者激光划片,量产前均需要进行工艺的优化和定型,目前划片厂均是对整片晶圆(Wafer)进行一个工艺条件划片,多个工艺条件需要多张硅片,工艺的优化和定型需消耗多张硅片。
发明内容
本发明要解决的技术问题是提供一种集成电路硅片划片方法,能够适应旧封装设备(固晶)生产需求,提高机台利用率。
为解决上述技术问题,本发明的集成电路硅片划片方法,包括如下步骤:
步骤一、将大于8-inch(英寸)的硅片减薄至适合封装的厚度;
步骤二、通过划片工艺方法将所述硅片切割成多个小块硅片;
步骤三、通过划片工艺方法将各小块硅片分别切割分开每颗芯片;
步骤四、将所述各小块硅片转贴到带UV膜或蓝膜的小尺寸绷架上;
步骤五、将所述小尺寸绷架放置到固晶设备上进行正常固晶。
采用本发明的方法,将大于8-inch的硅片划片成多个小块硅片,多个小块硅片尺寸较小可以装配到小尺寸绷架上,这样能够满足现有旧固晶设备需求,最终提高旧固晶设备利用率。尤其是对于12-inch以上硅片,目前12-inch以上固晶设备还未普及,市场上固晶设备还是以8-inch为主,有利于在现有固晶设备条件下推广大尺寸硅片芯片(大于8-inch)。
采用本发明的方法,将大于8-inch的硅片划片成多个小块硅片后,对每小块硅片可以采用不同划片工艺条件,实现工艺条件的优化和定型,节省硅片资源。
附图说明
下面结合附图与具体实施方式对本发明作进一步详细的说明:
附图是所述集成电路硅片划片方法实施例示意图。
具体实施方式
参见附图所示,所述集成电路硅片划片方法在下面的实施例中,具体步骤如下:
步骤一、将大尺寸硅片(8-inch)减薄至适合封装的厚度,如100~300μm。
步骤二、采用划片工艺方法将所述硅片切割成多个小块硅片;例如每个小块硅片可以是1/2块,1/4块,1/9块。
步骤三、采用划片工艺方法将各小块硅片分别切割分开每颗芯片;切割每小块硅片的划片工艺条件可以相同,也可以不相同,以实现工艺条件的优化和定型,节省硅片资源。
步骤四、将所述各小块硅片转贴到带UV膜或蓝膜的小尺寸绷架上;
所述小尺寸绷架,例如4-inch、6-inch或8-inch,符合固晶设备需求,如8-inch固晶机。
步骤五、将带UV膜或蓝膜的小尺寸绷架(含芯片)放置到现有旧的固晶设备上进行正常固晶。各小尺寸绷架小块硅片如1/2块,1/4块,1/9块。
附图是将12-inch硅片一划4划片的具体实施例,图中,1表示绷架,2表示UV膜或者蓝膜,Ф为绷架类型(适合12-inch或者8-inch直径晶圆),单位英寸(inch)。
以上通过具体实施方式对本发明进行了详细的说明,但这些并非构成对本发明的限制。在不脱离本发明原理的情况下,本领域的技术人员还可做出许多变形和改进,这些也应视为本发明的保护范围。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造