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[实用新型]一种交叉耦合电荷泵的衬底选择电路-CN202320024256.0有效
发明人：罗羿;何洋;赵文广 -专利权人： 上海华虹集成电路有限责任公司;北京中电华大电子设计有限责任公司
申请日： 2023-01-05 - 公布日： 2023-09-12 - 主分类号： H02M3/07 文献下载
摘要：本实用新型属于模拟集成电路设计领域，公开了一种交叉耦合电荷泵的衬底选择电路，包括开关对管电路、衬底选择电路、和输入时钟。输入时钟与开关对管电路连接，用于提供第一时钟信号和第二时钟信号。开关对管电路包含开关NMOS对管和开关PMOS对管，衬底选择电路与开关PMOS对管的衬底连接，用于将开关PMOS对管的衬底电位置为电路中最高的电位，提升开关PMOS对管阈值电压。本实用新型通过对交叉耦合电荷泵中开关PMOS对管衬底电位的置高，有效提高了交叉耦合电荷泵的效率及可靠性。
一种交叉耦合电荷衬底选择电路

[发明专利]一种加解密算法模块仿真验证系统及方法-CN202310071230.6在审
发明人：汤蔚霞;顾庆 -专利权人： 上海华虹集成电路有限责任公司
申请日： 2023-02-07 - 公布日： 2023-07-04 - 主分类号： G06F11/26 文献下载
摘要：本文公开了一种加解密算法模块仿真验证系统及方法，验证系统主要包括：激励生成器、驱动器、激励监测器、输出监测器、覆盖率模型和检查器等。激励生成器产生随机化的测试激励；驱动器将产生的激励打包传递给系统内的其它组件；激励监测器和输出监测器用于监测相关组件的内部状态；覆盖率模型根据输入的激励进行覆盖率统计；检查器自动比对参考模型和加解密算法模块(DUT模块)的运算结果。本发明验证方法由三部分组成，每组初始激励经由DUT模块和参考模型加密后进行第一次比对，随后将加密结果再由DUT模块和参考模型解密后进行第二次对比，最后将解密结果与初始激励进行第三次比对，以确保DUT模块功能验证的正确性，有效提高验证的效率和完备性。
一种解密算法模块仿真验证系统方法

[发明专利]一种支持芯片安全调试的控制方法-CN202310088743.8在审
发明人：林秋;刘戬 -专利权人： 上海华虹集成电路有限责任公司;北京中电华大电子设计有限责任公司
申请日： 2023-01-19 - 公布日： 2023-05-30 - 主分类号： G06F11/36 文献下载
摘要：本发明涉及芯片安全领域，提供了一种支持芯片安全调试的控制方法，包括输入安全控制单元，安全调试认证单元，访问控制授权单元和权限状态存储单元，通过鉴权技术实现访问认证和授权控制等。在未获得授权的情况下，芯片不能进入调试状态，使得非授权者不能使用调试接口，保护重要数据不被肆意窃取。
一种支持芯片安全调试控制方法

[发明专利]一种交叉耦合电荷泵的衬底选择电路-CN202310014332.4在审
发明人：罗羿;何洋;赵文广 -专利权人： 上海华虹集成电路有限责任公司;北京中电华大电子设计有限责任公司
申请日： 2023-01-05 - 公布日： 2023-04-04 - 主分类号： H02M3/07 文献下载
摘要：本发明属于模拟集成电路设计领域，公开了一种交叉耦合电荷泵的衬底选择电路，包括开关对管电路、衬底选择电路、和输入时钟。输入时钟与开关对管电路连接，用于提供第一时钟信号和第二时钟信号。开关对管电路包含开关NMOS对管和开关PMOS对管，衬底选择电路与开关PMOS对管的衬底连接，用于将开关PMOS对管的衬底电位置为电路中最高的电位，提升开关PMOS对管阈值电压。本发明通过对交叉耦合电荷泵中开关PMOS对管衬底电位的置高，有效提高了交叉耦合电荷泵的效率及可靠性。
一种交叉耦合电荷衬底选择电路

[发明专利]数字异步通信中自动波特率检测的实现方法-CN202211315374.3在审
发明人：李捷;周健恺;宋冯 -专利权人： 上海华虹集成电路有限责任公司
申请日： 2022-10-26 - 公布日： 2023-03-03 - 主分类号： H04L43/0894 文献下载
摘要：本发明公开了一种“数字异步通信中自动波特率检测的实现方法”，该技术可在事先不知道系统的通信速率情况下，根据接收到的一个字符检测通信速率，并自动设置brr寄存器的值。在检测之前可通过寄存器中的ABRMOD[1:0]字段选择自动波特率检测模式。根据不同的字符模式，存在四种检测模式。在这些自动波特率模式下，波特率在接收数据期间被多次测量，每次测量的结果都可被记录，逐次修正提高精确度。该技术在数字通信领域有较为实际的应用价值。
数字异步通信自动波特率检测实现方法

[发明专利]一种基于查找表的新型强物理不可克隆函数的构建方法-CN201811549450.0有效
发明人：柴佳晶;刘戬 -专利权人： 上海华虹集成电路有限责任公司;北京中电华大电子设计有限责任公司
申请日： 2018-12-18 - 公布日： 2023-01-10 - 主分类号： G06F21/73 文献下载
摘要：本发明公开了一种新型强物理不可克隆函数，并给出了采用该方法的一个新型强物理不可克隆函数的实现实例。新型强物理不可克隆函数的特征在于建立各个芯片中独特的查找表，而查找表是基于多个物理单元的特征结果排序产生。新型强物理不可克隆函数如下：采集芯片中多个物理单元的特征结果，根据物理单元特征结果的排序产生若干个查找表，基于这些查找表产生各个芯片中独特的PUF运算单元，PUF的挑战经过PUF运算单元得到PUF响应。基于PUF查找表的物理不可克隆函数能够大幅提升挑战响应空间，使得基于这种结构的物理不可克隆函数适用于密钥生成、身份识别等各类应用。
一种基于查找新型物理不可克隆函数构建方法

[发明专利]一种采用时间数字转换器(TDC)的RC时间常数校正电路及方法-CN201810978847.5有效
发明人：彭仁国;衣晓峰;陈艳 -专利权人： 上海华虹集成电路有限责任公司;北京中电华大电子设计有限责任公司
申请日： 2018-08-27 - 公布日： 2022-07-22 - 主分类号： H03M1/06 文献下载
摘要：本发明涉及集成电路设计技术领域，公开了一种采用时间数字转换器(TDC)的RC时间常数校正电路。在集成电路设计领域中，尤其是是射频模拟和数模混合信号集成电路设计中，由于工艺、电压和温度(PVT)的偏差，造成RC时间常数非常的离散，这样就不可避免的需要对RC时间常数进行校正，尤其是像模拟滤波器电路中，带宽的大小和RC时间常数直接相关。TDC通过比较参考时钟周期和由RC时间常数产生的周期中的差值来对RC时间常数进行调整，最终使得RC时间常数为所期望的值。本发明电路通过采用TDC来进行时间常数比较，能够快速的校正得到所期望的值，从而缩短了校正时间，减少了功耗。
一种采用时间数字转换器 tdc rc 时间常数校正电路方法

[实用新型]一种自适应的超低静态功耗漏电泄放电路-CN202122574451.4有效
发明人：赵冬;何洋;赵文广;其他发明人请求不公开姓名 -专利权人： 上海华虹集成电路有限责任公司;北京中电华大电子设计有限责任公司
申请日： 2021-10-25 - 公布日： 2022-07-22 - 主分类号： G05F1/573 文献下载
摘要：本实用新型提供一种自适应的超低静态功耗漏电泄放电路，包括误差放大器EA，PMOS功率管MP1，PMOS管MP2，PMOS管MP3，PMOS管MP4，所述误差放大器EA的正相输入端与反馈电压VFB相接，反相输入端与基准电压VREF相接，PMOS功率管MP1的源极与输入电压VDD相接，漏极与分压电阻串RF1、分压电阻串RF2相接，栅极与误差放大器输出端相接；本实用新型通过PMOS管MP2、PMOS管MP3、PMOS管MP4构成一种自适应的超低功耗漏电泄放电路，解决了在全工艺角、温度、电压下的LDO在空载时PMOS功率管MP1的漏电过大导致电路无法形成正常的负反馈的问题，并且在通常状态下，PMOS管MP2、PMOS管MP3、PMOS管MP4构成的电路处于截止状态，具有超低的静态功耗。
一种自适应静态功耗漏电电路

[发明专利]安全处理器跳转指令固定执行时间的测试方法-CN201610596521.7有效
发明人：戴昭君 -专利权人： 上海华虹集成电路有限责任公司
申请日： 2016-07-27 - 公布日： 2022-07-12 - 主分类号： G06F11/22 文献下载
摘要：本发明公开了一种安全处理器跳转指令固定执行时间的测试方法，编写嵌入式汇编程序，在固定跳转指令执行时间功能打开与关闭的情况下，执行跳转指令100次，分别使用计数器记录时间，根据规则比对时间。本发明能有效自动化测试,无人工干预。
安全处理器跳转指令固定执行时间测试方法

[发明专利]一种防拆检测方法及电路-CN202210025436.0在审
发明人：孟得光;顾庆;赵文广 -专利权人： 上海华虹集成电路有限责任公司;北京中电华大电子设计有限责任公司
申请日： 2022-01-11 - 公布日： 2022-05-27 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：本发明涉及芯片安全设计技术领域，公开了一种防拆检测方法及电路，包括检测配置单元、边沿检测单元和电平检测单元。检测配置单元可配置检测开关、检测模式、滤波次数、采样频率；边沿检测单元实现上升沿和下降沿检测电路：待检测信号经过二选一选择器和D触发器生成上升沿检测事件，待检测信号经过反相器、二选一选择器和D触发器生成下降沿检测事件；电平检测单元由计数单元和对比单元构成：计数单元1计数到配置采样频率的计数值后由对比单元1产生脉冲后作用到计数单元2，同时计数单元2依据检测电平计数到滤波次数配置值后由对比单元2产生有效检测事件。本发明提供的防拆检测方法解决了检测方式可配置性低，边沿检测误触发的问题。
一种检测方法电路

[发明专利]数字异步通信系统中采样脉冲的生成方法-CN202111485076.4在审
发明人：周健恺;李捷 -专利权人： 上海华虹集成电路有限责任公司;北京中电华大电子设计有限责任公司
申请日： 2021-12-07 - 公布日： 2022-04-15 - 主分类号： H04L25/02 文献下载
摘要：本发明公开了一种“数字异步通信系统中采样脉冲的生成方法”，该技术主要用于数据通信过程中对收发数据的采样。针对一定速率范围内的异步通信，该项技术能够灵活地对收发数据产生所需的采样脉冲。同时该项技术利用误差积分器实现了小数分频，以保证在每个采样周期时间不能完全平均分配的情况下，通过误差积分器数值的调节，使得每个采样周期的误差控制在一个时钟周期以内，最终保证了每一帧数据的采样误差均控制在极低的范围内。该技术在数字通信领域有较为实际的应用价值。
数字异步通信系统采样脉冲生成方法

[发明专利]芯片模块最优参数的自学习选择方法-CN202111509203.X在审
发明人：张瀚文;戴昭君 -专利权人： 上海华虹集成电路有限责任公司;北京中电华大电子设计有限责任公司
申请日： 2021-12-10 - 公布日： 2022-04-15 - 主分类号： G06F11/26 文献下载
摘要：本发明公开了一种芯片模块最优参数选择的自学习优化方法，本方法是一种快速自动化算法，用于芯片各配置参数遍历组合，以选择一组用于保证芯片整体性能最优的外部激励配置及芯片配置调优参数，特别适用于对输入模拟参数敏感的低功耗微控制器(以下简称MCU)芯片模拟模块与数模接口模块性能验证的自动化测试。本方法由数据分析自学习算法与程控自动采集平台两部分组成。数据分析自学习算法通过程控自动采集平台调整待评估芯片各项参数，获得性能指标反馈，得到不同参数的工作环境范围，从而分析得知性能与工作范围平衡后的最优参数；根据批量芯片分析结果更新数据，建立标准数据库，有选择性的进行参数与工作环境范围对新的芯片扫描，节约测试时间，在偏离标准曲线时提出预警。
芯片模块最优参数自学习选择方法

[发明专利]一种自适应的超低静态功耗漏电泄放电路-CN202111239511.5在审
发明人：赵冬;何洋;赵文广;其他发明人请求不公开姓名 -专利权人： 上海华虹集成电路有限责任公司;北京中电华大电子设计有限责任公司
申请日： 2021-10-25 - 公布日： 2022-03-15 - 主分类号： G05F1/573 文献下载
摘要：本发明提供一种自适应的超低静态功耗漏电泄放电路，包括误差放大器EA，PMOS功率管MP1，PMOS管MP2，PMOS管MP3，PMOS管MP4，所述误差放大器EA的正相输入端与反馈电压VFB相接，反相输入端与基准电压VREF相接，PMOS功率管MP1的源极与输入电压VDD相接，漏极与分压电阻串RF1、分压电阻串RF2相接，栅极与误差放大器输出端相接；本发明通过PMOS管MP2、PMOS管MP3、PMOS管MP4构成一种自适应的超低功耗漏电泄放电路，解决了在全工艺角、温度、电压下的LDO在空载时PMOS功率管MP1的漏电过大导致电路无法形成正常的负反馈的问题，并且在通常状态下，PMOS管MP2、PMOS管MP3、PMOS管MP4构成的电路处于截止状态，具有超低的静态功耗。
一种自适应静态功耗漏电电路

[实用新型]一体式测试终端设备-CN202022846028.0有效
发明人：陈宣成;张修远;崔丽华;林秋 -专利权人： 上海华虹集成电路有限责任公司
申请日： 2020-12-01 - 公布日： 2022-02-11 - 主分类号： G05B19/042 文献下载
摘要：本实用新型公开了一体式测试终端设备。包括板载微控制器、通用通信接口适配模块、非易失性存储单元、触摸显示屏、电源模块、In‑port通信端口、Out‑port通信端口和触摸屏驱动模块通信端口本实用新型降低可编程仪器仪表的自动化测试门槛，且对比同类型产品具有低成本、高扩展性，便携等特点。
体式测试终端设备

[发明专利]一种微控制器芯片通信类接口测试系统及其方法-CN202111201694.1在审
发明人：陈宣成;宗磊;戴昭君;崔丽华;张翰文 -专利权人： 上海华虹集成电路有限责任公司;北京中电华大电子设计有限责任公司
申请日： 2021-10-15 - 公布日： 2022-02-08 - 主分类号： G05B23/02 文献下载
摘要：本发明公开了一种适用于微控制器芯片通信类接口测试系统及其测试方法。主流微控制器芯片上集成有多种通信接口，并且通信接口功能往往复用到不同的GPIO引脚上，另外不同的通信接口的测试代码与测试流程往往不同，因此在对芯片原型或样片进行功能测试或性能测试时时间会大量浪费在手动调整软硬件验证环境上。本发明专利目的在于提升微控制器通信类接口测试过程的自动化水平，提高测试效率，且该测试系统具有很高的通用性与可拓展性。
一种控制器芯片通信接口测试系统及其方法

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