[发明专利]固化性组合物及固化物无效
申请号: | 201280041566.8 | 申请日: | 2012-08-24 |
公开(公告)号: | CN103764697A | 公开(公告)日: | 2014-04-30 |
发明(设计)人: | 日渡谦一郎;富田敦郎;齐木智秋;村田圣 | 申请(专利权)人: | 株式会社ADEKA |
主分类号: | C08F212/34 | 分类号: | C08F212/34;C08F2/44;C08F291/00 |
代理公司: | 北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙) 11277 | 代理人: | 刘新宇;李茂家 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 固化 组合 | ||
技术领域
本发明涉及固化性组合物及其固化物,详细而言,涉及能够得到加工成型性优异、耐热性高的固化物的固化性组合物及其固化物。
背景技术
SiC(碳化硅)与硅相比电绝缘性和通电时的能量损失小,因此发热量少、耐热性也高。因此,SiC功率半导体可以处理比硅功率半导体大的电力,目前,作为替代广泛使用的硅功率半导体的下一代功率半导体,得到积极研究。硅功率半导体装置的耐热极限温度约为150℃,而SiC功率半导体装置为了处理更大的电力而研究在240~300℃下使用,对于SiC功率半导体装置的构件也要求超过240℃的耐热性。
迄今,用树脂进行模塑的半导体的模塑树脂主要使用环氧树脂。一般,树脂以Tg(玻璃化转变温度)为界,粘弹性、热膨胀系数等物性会大幅变化,因此模塑树脂的Tg要求比半导体的使用温度高。然而,现有的环氧树脂的Tg大致为200℃以下,在超过240℃的使用环境下存在材料的软化、产生裂纹等问题(例如参见专利文献1~2)。此外,具有240℃以上的Tg的环氧树脂由于固化前的树脂的熔点高,因此固化温度也高,且固化需要长时间,因而对其他构件的不良影响、生产率的降低成为问题(例如参见专利文献3)。此外,也研究了使用聚酰亚胺等环氧树脂以外的树脂(例如参见专利文献4),但对于所要求的性能而言是不充分的。
另一方面,也已知有含有多元酚化合物的乙烯基苄基醚化合物的固化性组合物(例如参见专利文献5~7),但Tg均小于240℃,作为SiC功率半导体的模塑树脂是不充分的。
现有技术文献
专利文献
专利文献1:日本特开2005-036085号公报
专利文献2:日本特开2006-269730号公报
专利文献3:日本特开2011-184650号公报
专利文献4:日本特开2010-222392号公报
专利文献5:日本特开2000-258932号公报
专利文献6:日本特开2004-189901号公报
专利文献7:日本特开2010-202778号公报
发明内容
发明要解决的问题
因此,本发明的目的在于提供能够得到加工成型性优异、耐热性高、具有高至可作为SiC功率半导体的模塑树脂使用的Tg的固化物的固化性组合物及其固化物。
用于解决问题的方案
本发明人等鉴于前述问题进行了深入研究,结果发现,含有特定结构的化合物的固化性组合物的加工成型性优异、固化后的耐热性高,从而完成了本发明。即,本发明是一种固化性组合物,其含有作为(A)成分的在分子中具有至少2个下述通式(1)所示的部分结构的化合物100质量份、作为(B)成分的热自由基产生剂0.5~3质量份以及作为(C)成分的其他自由基反应性化合物0~50质量份。
(式中,环A表示苯环或环己基环,R1表示碳数1~6的亚烷基,R2表示碳数1~4的烷基,a表示0或1的数,b表示0~3的整数,c表示1或2的数。)
本发明的固化性组合物优选的是,前述(A)成分为下述通式(2)或通式(3)所示的化合物。
(式中,R3表示碳数1~4的烷基,d表示0~2的整数,X1表示氧原子、硫原子、亚磺酰基、磺酰基、羰基、亚苯基、亚环己基(除1,1-亚环己基以外)、下述通式(4)所示的基团或直接键合,R1、R2、a、b和c与通式(1)同义。)
(式中,R4和R5各自独立表示氢原子、三氟甲基或碳数1~12的烃基。其中,R4和R5为碳数1~12的烃基时,R4和R5可以彼此相连。)
(式中,R1、R2、a、b和c与通式(1)同义。)
此外,本发明的固化性组合物优选的是,其还含有填料作为(D)成分。
本发明的传递成型用料片(tablet)的特征在于,其由前述固化性组合物形成。
本发明的固化物的特征在于,其使前述固化性组合物固化而成。
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