[发明专利]碳化硅纵型场效应晶体管有效

专利信息
申请号: 201280015887.0 申请日: 2012-04-06
公开(公告)号: CN103460390B 公开(公告)日: 2017-03-08
发明(设计)人: 原田祐一;原田信介;星保幸;岩室宪幸 申请(专利权)人: 富士电机株式会社;独立行政法人产业技术综合研究所
主分类号: H01L29/78 分类号: H01L29/78;H01L29/12
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司11021 代理人: 张莉
地址: 日本神奈*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 碳化硅 场效应 晶体管
【权利要求书】:

1.一种碳化硅纵型场效应晶体管,具备:

第1导电型的碳化硅基板和在该第1导电型碳化硅基板表面上形成的低浓度的第1导电型碳化硅层;

在该第1导电型碳化硅层表面上选择地形成的第2导电型区域;

在该第2导电型区域内形成的第1导电型源极区域;

在第2导电型区域内的第1导电型源极区域之间形成的高浓度的第2导电型区域;

与该高浓度的第2导电型区域以及第1导电型源极区域电连接的源极电极;

在从形成于相邻的第2导电型区域上的第1导电型源极区域到第2导电型区域以及第1导电型碳化硅层上所形成的栅极绝缘膜;

形成于该栅极绝缘膜上的栅极电极;和

在第1导电型碳化硅基板的背面侧上的漏极电极,

该碳化硅纵型场效应晶体管在第2导电型区域与第1导电型碳化硅层之间设置雪崩产生单元。

2.一种碳化硅纵型场效应晶体管,具备:

第1导电型的碳化硅基板和在该第1导电型碳化硅基板表面上形成的低浓度的第1导电型碳化硅层;

在该第1导电型碳化硅层表面上选择地形成的第2导电型区域;

在该第2导电型区域内形成的第1导电型源极区域;

在第2导电型区域内的第1导电型源极区域之间形成的高浓度的第2导电型区域;

与该高浓度的第2导电型区域以及第1导电型源极区域电连接的源极电极;

在从形成于相邻的第2导电型区域上的第1导电型源极区域到第2导电型区域以及第1导电型碳化硅层上所形成的栅极绝缘膜;

形成于该栅极绝缘膜上的栅极电极;和

在第1导电型碳化硅基板的背面侧上的漏极电极,

该碳化硅纵型场效应晶体管在第2导电型区域下形成高浓度的第2导电型区域。

3.一种碳化硅纵型场效应晶体管,具备:

第1导电型的碳化硅基板和在该第1导电型碳化硅基板表面上形成的低浓度的第1导电型碳化硅层;

在该第1导电型碳化硅层表面上选择地形成的第2导电型区域;

在该第1导电型碳化硅层以及第2导电型区域的表面上形成的第2导电型碳化硅层;

在该第2导电型碳化硅层的第1导电型碳化硅层上选择地形成的第1导电型区域;

在第2导电型碳化硅层内形成的第1导电型源极区域;

在该第2导电型碳化硅层内的第1导电型源极区域之间形成的高浓度的第2导电型区域;

与该高浓度的第2导电型区域以及第1导电型源极区域电连接的源极电极;

在从形成于相邻的第2导电型碳化硅层上的第1导电型源极区域到第2导电型碳化硅层以及第1导电型区域上所形成的栅极绝缘膜;

形成于该栅极绝缘膜上的栅极电极;

第1导电型碳化硅基板的背面侧上的漏极电极,

该碳化硅纵型场效应晶体管在形成于第1导电型碳化硅层内的第2导电型区域下形成高浓度的第2导电型区域。

4.一种碳化硅纵型场效应晶体管,具备:

第1导电型的碳化硅基板和在该第1导电型碳化硅基板表面上形成的低浓度的第1导电型碳化硅层;

在该第1导电型碳化硅层表面上选择地形成的第2导电型区域;

在该第2导电型区域内形成的第1导电型源极区域;

在第2导电型区域内的第1导电型源极区域之间形成的高浓度的第2导电型区域;

与该高浓度的第2导电型区域以及第1导电型源极区域电连接的源极电极;

在从形成在相邻的第2导电型区域上的第1导电型源极区域到第2导电型区域以及第1导电型碳化硅层上所形成的栅极绝缘膜;

形成于该栅极绝缘膜上的栅极电极;和

第1导电型碳化硅基板的背面侧上的漏极电极,

在该碳化硅纵型场效应晶体管中,第2导电型区域的一部分形成得较浅。

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