[发明专利]碳化硅纵型场效应晶体管有效
申请号: | 201280015887.0 | 申请日: | 2012-04-06 |
公开(公告)号: | CN103460390B | 公开(公告)日: | 2017-03-08 |
发明(设计)人: | 原田祐一;原田信介;星保幸;岩室宪幸 | 申请(专利权)人: | 富士电机株式会社;独立行政法人产业技术综合研究所 |
主分类号: | H01L29/78 | 分类号: | H01L29/78;H01L29/12 |
代理公司: | 中科专利商标代理有限责任公司11021 | 代理人: | 张莉 |
地址: | 日本神奈*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 碳化硅 场效应 晶体管 | ||
1.一种碳化硅纵型场效应晶体管,具备:
第1导电型的碳化硅基板和在该第1导电型碳化硅基板表面上形成的低浓度的第1导电型碳化硅层;
在该第1导电型碳化硅层表面上选择地形成的第2导电型区域;
在该第2导电型区域内形成的第1导电型源极区域;
在第2导电型区域内的第1导电型源极区域之间形成的高浓度的第2导电型区域;
与该高浓度的第2导电型区域以及第1导电型源极区域电连接的源极电极;
在从形成于相邻的第2导电型区域上的第1导电型源极区域到第2导电型区域以及第1导电型碳化硅层上所形成的栅极绝缘膜;
形成于该栅极绝缘膜上的栅极电极;和
在第1导电型碳化硅基板的背面侧上的漏极电极,
该碳化硅纵型场效应晶体管在第2导电型区域与第1导电型碳化硅层之间设置雪崩产生单元。
2.一种碳化硅纵型场效应晶体管,具备:
第1导电型的碳化硅基板和在该第1导电型碳化硅基板表面上形成的低浓度的第1导电型碳化硅层;
在该第1导电型碳化硅层表面上选择地形成的第2导电型区域;
在该第2导电型区域内形成的第1导电型源极区域;
在第2导电型区域内的第1导电型源极区域之间形成的高浓度的第2导电型区域;
与该高浓度的第2导电型区域以及第1导电型源极区域电连接的源极电极;
在从形成于相邻的第2导电型区域上的第1导电型源极区域到第2导电型区域以及第1导电型碳化硅层上所形成的栅极绝缘膜;
形成于该栅极绝缘膜上的栅极电极;和
在第1导电型碳化硅基板的背面侧上的漏极电极,
该碳化硅纵型场效应晶体管在第2导电型区域下形成高浓度的第2导电型区域。
3.一种碳化硅纵型场效应晶体管,具备:
第1导电型的碳化硅基板和在该第1导电型碳化硅基板表面上形成的低浓度的第1导电型碳化硅层;
在该第1导电型碳化硅层表面上选择地形成的第2导电型区域;
在该第1导电型碳化硅层以及第2导电型区域的表面上形成的第2导电型碳化硅层;
在该第2导电型碳化硅层的第1导电型碳化硅层上选择地形成的第1导电型区域;
在第2导电型碳化硅层内形成的第1导电型源极区域;
在该第2导电型碳化硅层内的第1导电型源极区域之间形成的高浓度的第2导电型区域;
与该高浓度的第2导电型区域以及第1导电型源极区域电连接的源极电极;
在从形成于相邻的第2导电型碳化硅层上的第1导电型源极区域到第2导电型碳化硅层以及第1导电型区域上所形成的栅极绝缘膜;
形成于该栅极绝缘膜上的栅极电极;
第1导电型碳化硅基板的背面侧上的漏极电极,
该碳化硅纵型场效应晶体管在形成于第1导电型碳化硅层内的第2导电型区域下形成高浓度的第2导电型区域。
4.一种碳化硅纵型场效应晶体管,具备:
第1导电型的碳化硅基板和在该第1导电型碳化硅基板表面上形成的低浓度的第1导电型碳化硅层;
在该第1导电型碳化硅层表面上选择地形成的第2导电型区域;
在该第2导电型区域内形成的第1导电型源极区域;
在第2导电型区域内的第1导电型源极区域之间形成的高浓度的第2导电型区域;
与该高浓度的第2导电型区域以及第1导电型源极区域电连接的源极电极;
在从形成在相邻的第2导电型区域上的第1导电型源极区域到第2导电型区域以及第1导电型碳化硅层上所形成的栅极绝缘膜;
形成于该栅极绝缘膜上的栅极电极;和
第1导电型碳化硅基板的背面侧上的漏极电极,
在该碳化硅纵型场效应晶体管中,第2导电型区域的一部分形成得较浅。
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