[发明专利]用于多芯片器件的热增强结构有效
申请号: | 201210187435.2 | 申请日: | 2012-06-07 |
公开(公告)号: | CN102983109A | 公开(公告)日: | 2013-03-20 |
发明(设计)人: | 余振华;董志航;邵栋梁 | 申请(专利权)人: | 台湾积体电路制造股份有限公司 |
主分类号: | H01L23/367 | 分类号: | H01L23/367 |
代理公司: | 北京德恒律治知识产权代理有限公司 11409 | 代理人: | 章社杲;孙征 |
地址: | 中国台*** | 国省代码: | 中国台湾;71 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 用于 芯片 器件 增强 结构 | ||
1.一种结构,包括:
散热器模块,具有与第一半导体管芯相接合的第一表面;
所述第一半导体管芯,与第二半导体管芯相连接;
封装材料层,位于所述半导体管芯和所述第二半导体管芯中的至少一个上;
再分配层,形成在所述封装材料层上,并且与所述第二半导体管芯相连接;以及
多个热通孔,与所述散热器模块的第二表面相连接。
2.根据权利要求1所述的结构,其中,所述散热器模块与所述第一半导体管芯的背面相接合。
3.根据权利要求1所述的结构,其中,所述散热器模块与所述第一半导体管芯的正面相接合,并且其中,所述散热器模块具有多个开口。
4.根据权利要求1所述的结构,进一步包括:
多个铜柱,连接在所述第二半导体管芯和所述再分配层之间。
5.根据权利要求1所述的结构,进一步包括:
第二散热器模块,设置在所述散热器模块和所述再分配层之间;以及焊球,设置在所述再分配层下面。
6.根据权利要求1所述的结构,进一步包括:
第三半导体管芯,设置在所述第一半导体管芯和所述第二半导体管芯之间;以及
多个凸块,设置在所述第一半导体管芯和所述第三半导体管芯之间。
7.根据权利要求1所述的结构,进一步包括:
第二再分配层,形成在所述第二半导体管芯和所述封装材料层之间。
8.一种结构,包括:
第一散热器模块,与第一半导体管芯的背面相接合;
所述第一半导体管芯,与中介层相连接;以及
衬底,通过多个焊球与所述中介层相连接,其中,所述第一半导体管芯设置在所述中介层和所述衬底之间。
9.根据权利要求8所述的结构,进一步包括:
多个凸块,设置在所述第一半导体管芯和所述中介层之间。
10.根据权利要求8所述的结构,进一步包括:
再分配层,形成在所述中介层上;
多个凸块下金属化结构,形成在所述再分配层上;以及
多个焊球,设置在所述衬底和所述再分配层之间。
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