[发明专利]沟渠电容的制作方法无效
申请号: | 201210104827.8 | 申请日: | 2012-04-11 |
公开(公告)号: | CN103367109A | 公开(公告)日: | 2013-10-23 |
发明(设计)人: | 陈逸男;徐文吉;叶绍文;刘献文 | 申请(专利权)人: | 南亚科技股份有限公司 |
主分类号: | H01L21/02 | 分类号: | H01L21/02 |
代理公司: | 深圳新创友知识产权代理有限公司 44223 | 代理人: | 江耀纯 |
地址: | 中国台*** | 国省代码: | 中国台湾;71 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 沟渠 电容 制作方法 | ||
1.一种沟渠电容的制作方法,其特征在于,包括下列步骤:
提供一个基底;
形成至少一个扩大沟渠在基底中;
形成第一绝缘层在沟渠的内部;以及
沉积金属层,至少覆盖沟渠内部的第一绝缘层。
2.根据权利要求1所述的沟渠电容制作的方法,其特征在于,更包括对所述基底进行离子注入步骤。
3.根据权利要求1所述的沟渠电容制作方法,其特征在于,所述基底是硅基底、N型掺杂基底或P型掺杂基底。
4.根据权利要求1所述的沟渠电容制作方法,其特征在于,更包括形成第二绝缘层在所述扩大沟渠内的所述金属层上且填满扩大沟渠。
5.根据权利要求1所述的沟渠电容制作方法,其特征在于,在形成所述金属层后,更包括蚀刻所述扩大沟渠开口处的部份金属层。
6.根据权利要求1所述的沟渠电容制作方法,其特征在于,更包含形成图案化屏蔽层,位在所述基底上,其中所述图案化屏蔽层可为单层或复合层材料。
7.根据权利要求1所述的沟渠电容制作方法,其特征在于形成所述扩大沟渠的方法包括对所述基底形成沟渠,再对所述沟渠进行蚀刻形成所述的扩大沟渠。
8.根据权利要求1所述的沟渠电容制作方法,其中形成所述扩大沟渠的方法包括仅有一次蚀刻形成所述的扩大沟渠。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造