[发明专利]一种半导体晶片及其制造方法

说明书

技术领域

本发明涉及到一种半导体晶片及其制造方法，特别是涉及能够实现高耐压、低导通电阻的半导体晶片及其制造方法。

背景技术

能实现高耐压和低导通电阻的半导体晶片结构为呈现柱状的P型半导体和N型半导体区域交替并排设置的结构，柱状的P型半导体和N型半导体垂直于晶片表面。通过将P型半导体和N型半导体的杂质浓度和宽度设定为希望值，在施加反向压降时能够实现高耐压。此种结构称作超结结构。

已知的超结结构半导体晶片结构和制造方法如下：

第一种，淀积一定厚度的N型外延层，设置掩模版注入P型杂质，退火形成P型导电层。然后反复重复上述工艺流程，形成交替配置P型半导体和N型半导体区域。此种超结结构的半导体晶片制作工艺繁琐，需要7次左右的光刻注入退火工艺，并且PN结面呈现波形，影响晶片的反向耐压特性。

第二种，通过在N型外延层中形成多个沟槽，进行P型杂质的倾斜离子注入退火从而设置P型柱状半导体区域，然后在P型柱状半导体区域之间埋入绝缘介质，得到超结结构。此种超结结构的半导体晶片注入工艺控制难度较大，易在垂直方向上形成不均匀的P型杂质浓度分布，从而影响到晶片耐压特性。，

第三种，进行N型外延层形成，刻蚀形成沟槽，然后进行P型外延层形成，刻蚀形成沟槽，再进行N型外延层形成，刻蚀形成沟槽，最后在沟槽内填充绝缘介质。此种超结结构的半导体晶片的制作工艺需要较多次各向异性干法刻蚀工艺来控制柱状的P型半导体和N型半导体区域分布，易影响柱状半导体结构形状，从而影响晶片耐压特性和可靠性。

发明内容

本发明针对上述问题而提出的，提供一种具有超结结构的半导体晶片及其制造方法。

一种半导体晶片，其特征在于：包括：衬底层，一种导电类型半导体材料；多个第一半导体层，相互分离设置在衬底层之上，为第一种导电类型半导体材料；多个第二半导体层，位于第一半导体层的侧壁和第一半导体层之间的衬底层之上，为第二种导电类型半导体材料；多个第三半导体层，位于第二半导体层形成的槽内，为第一种导电类型半导体材料；

所述的半导体晶片的制造方法，其特征在于：包括如下步骤：

在一种导电类型半导体材料衬底上形成第一种导电类型半导体材料外延层；在外延层中形成多个沟槽；在表面形成第二种导电类型半导体材料外延层；在表面形成第一种导电类型半导体材料外延层；对表面进行磨抛，磨抛的深度为要在晶片表面露出第一种导电类型半导体材料外延层。

本发明的具有超结结构的半导体晶片，柱状的P型半导体和N型半导体区域由外延层构成，可以实现柱状的P型半导体和N型半导体区域的杂质浓度在垂直方向上均匀分布，P型半导体和N型半导体区域通过一次各向异性干法刻蚀工艺形成，工艺上较容易控制P型半导体和N型半导体区域的柱状结构，在PN结的结合面易形成能够垂直于半导体晶片结构，因此能够提供一种耗尽层均匀扩展的超结半导体晶片，提高了晶片反向耐压特性和器件的可靠性。

本发明的具有超结结构的半导体晶片的制备方法，可以使用较少次光刻工艺和各向异性干法刻蚀工艺实现器件的生产制造，生产工艺更简单产品结构更紧凑，减少器件的生产周期，降低了器件的生产成本。

附图说明

图1为本发明的半导体晶片的一种剖面示意图。

图2为本发明一种实施方式工艺第一步的剖面示意图。

图3为本发明一种实施方式工艺第二步的剖面示意图。

图4为本发明一种实施方式工艺第三步的剖面示意图。

图5为本发明一种实施方式工艺第四步的剖面示意图。

图6为本发明一种实施方式工艺第五步的剖面示意图。

其中，

1、衬底层；

2、第一半导体层；

3、第二半导体层；

4、第三半导体层；

5、氧化层。

具体实施方式

实施例

图1为本发明的一种半导体晶片的一种剖面示意图，下面结合图1详细说明本发明的半导体装置。