[实用新型]一种半导体封装自动分粒机的导轨结构有效
| 申请号: | 200920133192.8 | 申请日: | 2009-06-29 |
| 公开(公告)号: | CN201556611U | 公开(公告)日: | 2010-08-18 |
| 发明(设计)人: | 陈贤明;徐国刚;黄彩萍 | 申请(专利权)人: | 深圳市矽格半导体科技有限公司 |
| 主分类号: | H01L21/50 | 分类号: | H01L21/50 |
| 代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
| 地址: | 518128 广东省深*** | 国省代码: | 广东;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 一种 半导体 封装 自动 分粒机 导轨 结构 | ||
技术领域
本实用新型涉及一种半导体封装专用工艺设备,尤其是涉及一种半导体封装自动分粒机的导轨结构。
背景技术
采用塑料封装的半导体器件通常将芯片安装到金属载片上,为提高工效,将金属载片设计成重复排列的多位片式引线框架,各位之间通过横筋和边框相连接。在完成制造工序后,须将横筋和边框去除。随着电子整机越来越向小型化发展,半导体器件也越来越趋于小型化。因此,引线框架的间距越来越小,管脚越来越密,加工精度要求越来越高。
自动分粒机是半导体后道封装工艺过程中去除引线框架边框,将器件从连为一体的引线框架上分离成单粒的专用工艺设备,由于老设备的加工精度设计值不高,或者由于设备正常磨损导致加工精度降低,或者由于引线框架变形等等因素,都会影响到切边分粒的质量,以致出现管脚被切偏、切不齐、长短腿等现象。加之导轨结构的设计没有考虑到设备精度下降的影响因素,一旦出现这种情况,只有更新导轨,这就增加了生产成本。对于引线框架变形的现象,需用手工校正,效率很低。因此,切边分粒机的生产质量和效率已成为封装厂家必须解决的重大问题。
发明内容
本实用新型的目的是提供一种高精度、高效且简易的半导体封装自动分粒机的导轨结构。
本实用新型的技术解决方案是:自动分粒机的导轨结构包括导轨底座1、限位档块4和塑封体限位盖板6,其特征在于:在导轨底座1上设引线框架入口2和塑封体导轨导槽3,限位档块4固定在导轨底座1上,在塑封体限位盖板6上设盖板导槽7,塑封体限位盖板6固定在导轨底座1上,塑封体导轨导槽3与盖板导槽7相合。
采用本实用新型导轨结构的自动分粒机,结构简单,安装调试方便,加工精度高,产品引脚长度整齐一致,重复性好,大大提高了产品外观质量,同时提高了生产效率,降低了生产成本。
所述导轨底座1,是切边分粒机的工作台。导轨底座1设引线框架入口2,引线框架入口2呈喇叭状。导轨底座1设塑封体导轨导槽3,塑封体导轨导槽3的宽度与塑封体8的宽度一致,深度取塑封体8高度的一半。导轨底座1设有固定孔位,用紧固螺丝5将限位档块4和塑封体限位盖板6固定在导轨底座1的固定孔位上。
所述限位档块4采用金属材质。限位档块4被固定在引线框架9管脚一侧的导轨底座1上。限位档块4在与引线框架9相接触的侧面被加工成基准平面,引线框架9进入塑封体导轨导槽3后,限位档块4的基准平面限定了引线框架9在管脚方向上的移动空间。
所述塑封体限位盖板6采用金属材质,塑封体限位盖板6设盖板导槽7,盖板导槽7的宽度与塑封体8宽度一致,高度是塑封体8高度的一半。塑封体限位盖板6安装在导轨底座1上,盖板导槽7位置与塑封体导轨导槽3位置相配合。当引线框架9进入导轨,其塑封体8就会进入到塑封体导轨导槽3中并在塑封体导轨导槽3所限定的空间内移动。
所述引线框架9设塑封体8,引线框架9的管脚已镀锡。
附图说明
附图1为本实用新型实施例的正视图;
附图2为本实用新型实施例的左视图。
1、导轨底座;2、引线框架入口;3、塑封体导轨导槽;4、限位档块;5、紧固螺丝;6、塑封体限位盖板;7、盖板导槽;8、塑封体;9、引线框架
具体实施方式
实施例:一种半导体封装自动分粒机的导轨结构,包括导轨底座1、限位档块4和塑封体限位盖板6。
图1所示的导轨结构,导轨底座1设引线框架入口2,引线框架入口2呈喇叭状。
图1所示的导轨结构,导轨底座1设塑封体导轨导槽3,塑封体导轨导槽3的宽度与塑封体8宽度一致,高度取塑封体8高度的一半。
图1所示的限位档块4,在与引线框架9接触的侧面被磨制成基准平面。
图1所示的限位档块4和塑封体限位盖板6用紧固螺丝5固定在导轨底座1上。
图2所示的塑封体限位盖板6设盖板导槽7,盖板导槽7的宽度与塑封体8宽度一致,高度取塑封体8高度的一半。
图2所示的塑封体导轨导槽3与盖板导槽7相合。
图2所示的引线框架9,设塑封体8,引线框架9的管脚已镀锡。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造





