[发明专利]制作具有多电极超低电感的多槽PN结电容器的方法有效
| 申请号: | 200910244525.9 | 申请日: | 2009-12-30 |
| 公开(公告)号: | CN102117768A | 公开(公告)日: | 2011-07-06 |
| 发明(设计)人: | 万里兮;吕壵;王惠娟 | 申请(专利权)人: | 中国科学院微电子研究所 |
| 主分类号: | H01L21/78 | 分类号: | H01L21/78;H01L21/02;H01L21/28 |
| 代理公司: | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人: | 周国城 |
| 地址: | 100029 *** | 国省代码: | 北京;11 |
| 权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 制作 具有 电极 电感 pn 电容器 方法 | ||
1.一种制作具有多电极超低电感的多槽PN结电容器的方法,其特征在于,该方法包括:
步骤1:选择半导体基材,在该半导体基材上生长起保护及绝缘作用的介质层;
步骤2:在该介质层上刻蚀出所需要的电容图形,包括介质层的窗口、电极图形以及微机械结构的三维图形;
步骤3:在半导体基材表面进行与半导体基材材料极性相反的掺杂,在半导体基材表面处形成耗尽层;
步骤4:将金属蒸镀在P区和N区表面进行电极的制备;
步骤5:对形成的电极进行热处理,降低金属半导体的接触电阻;
步骤6:将导电胶填充于半导体基材表面上的沟道之中;
步骤7:对该导电胶进行减薄,形成光滑的表面,从而形成电极的区域的电极凸点;
步骤8:对制备好凸点的外延片表面进行保护,并对外延片的下表面进行减薄;
步骤9:对外延片进行切割制成单独的电容器,完成电容器制作。
2.根据权利要求1所述的制作具有多电极超低电感的多槽PN结电容器的方法,其特征在于,步骤1中所述半导体基材是P型硅片,所述生长介质层采用热氧化或PECVD方法。
3.根据权利要求1所述的制作具有多电极超低电感的多槽PN结电容器的方法,其特征在于,步骤2中所述刻蚀采用湿法或者干法。
4.根据权利要求1所述的制作具有多电极超低电感的多槽PN结电容器的方法,其特征在于,步骤3中所述掺杂采用离子注入法或者扩散法。
5.根据权利要求1所述的制作具有多电极超低电感的多槽PN结电容器的方法,其特征在于,所述步骤4包括:
采用电子束蒸发或溅射方法将金属Al或Ti/Au蒸镀在P区和N区表面。
6.根据权利要求1所述的制作具有多电极超低电感的多槽PN结电容器的方法,其特征在于,步骤6中所述填充导电胶采用电镀或溅射方法。
7.根据权利要求1所述的制作具有多电极超低电感的多槽PN结电容器的方法,其特征在于,步骤7中所述对该导电胶进行减薄采用表面平坦化方法。
8.根据权利要求1所述的制作具有多电极超低电感的多槽PN结电容器的方法,其特征在于,步骤7中所述形成电极的区域的电极凸点包括:
利用晶圆丝网印刷机或电镀及回流技术在P区和N区制作凸点焊时所需要的电极凸点。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国科学院微电子研究所,未经中国科学院微电子研究所许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/200910244525.9/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:复合埋入式元件结构及其制造方法
- 下一篇:一种医学图像降噪与增强的处理方法
- 同类专利
- 专利分类
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造





