[发明专利]制作具有多电极超低电感的多槽PN结电容器的方法有效

专利信息
申请号: 200910244525.9 申请日: 2009-12-30
公开(公告)号: CN102117768A 公开(公告)日: 2011-07-06
发明(设计)人: 万里兮;吕壵;王惠娟 申请(专利权)人: 中国科学院微电子研究所
主分类号: H01L21/78 分类号: H01L21/78;H01L21/02;H01L21/28
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 11021 代理人: 周国城
地址: 100029 *** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 制作 具有 电极 电感 pn 电容器 方法
【权利要求书】:

1.一种制作具有多电极超低电感的多槽PN结电容器的方法,其特征在于,该方法包括:

步骤1:选择半导体基材,在该半导体基材上生长起保护及绝缘作用的介质层;

步骤2:在该介质层上刻蚀出所需要的电容图形,包括介质层的窗口、电极图形以及微机械结构的三维图形;

步骤3:在半导体基材表面进行与半导体基材材料极性相反的掺杂,在半导体基材表面处形成耗尽层;

步骤4:将金属蒸镀在P区和N区表面进行电极的制备;

步骤5:对形成的电极进行热处理,降低金属半导体的接触电阻;

步骤6:将导电胶填充于半导体基材表面上的沟道之中;

步骤7:对该导电胶进行减薄,形成光滑的表面,从而形成电极的区域的电极凸点;

步骤8:对制备好凸点的外延片表面进行保护,并对外延片的下表面进行减薄;

步骤9:对外延片进行切割制成单独的电容器,完成电容器制作。

2.根据权利要求1所述的制作具有多电极超低电感的多槽PN结电容器的方法,其特征在于,步骤1中所述半导体基材是P型硅片,所述生长介质层采用热氧化或PECVD方法。

3.根据权利要求1所述的制作具有多电极超低电感的多槽PN结电容器的方法,其特征在于,步骤2中所述刻蚀采用湿法或者干法。

4.根据权利要求1所述的制作具有多电极超低电感的多槽PN结电容器的方法,其特征在于,步骤3中所述掺杂采用离子注入法或者扩散法。

5.根据权利要求1所述的制作具有多电极超低电感的多槽PN结电容器的方法,其特征在于,所述步骤4包括:

采用电子束蒸发或溅射方法将金属Al或Ti/Au蒸镀在P区和N区表面。

6.根据权利要求1所述的制作具有多电极超低电感的多槽PN结电容器的方法,其特征在于,步骤6中所述填充导电胶采用电镀或溅射方法。

7.根据权利要求1所述的制作具有多电极超低电感的多槽PN结电容器的方法,其特征在于,步骤7中所述对该导电胶进行减薄采用表面平坦化方法。

8.根据权利要求1所述的制作具有多电极超低电感的多槽PN结电容器的方法,其特征在于,步骤7中所述形成电极的区域的电极凸点包括:

利用晶圆丝网印刷机或电镀及回流技术在P区和N区制作凸点焊时所需要的电极凸点。

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