[发明专利]铁酸铋/钛酸铋叠层结构电容及其制备方法有效

专利信息
申请号: 200710175793.0 申请日: 2007-10-12
公开(公告)号: CN101136404A 公开(公告)日: 2008-03-05
发明(设计)人: 谢丹;任天令;臧永圆;刘理天 申请(专利权)人: 清华大学
主分类号: H01L27/04 分类号: H01L27/04;H01L27/115;H01L21/02;H01L21/822;H01L21/8247
代理公司: 北京清亦华知识产权代理事务所 代理人: 廖元秋
地址: 1000*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 铁酸铋 钛酸铋叠层 结构 电容 及其 制备 方法
【说明书】:

技术领域

发明属于微电子新材料与器件技术领域,特别涉及适用于新型高密度存储器以及集成铁电器件的铁酸铋(BiFeO3,简写为BFO)/钛酸铋(Bi4-xXxTi3O12,简写为BXT)叠层结构电容的制备方法。

背景技术

随着微电子产业的发展,对存储器提出了更高的要求,例如:高速度、低功耗、高安全性以及不挥发等。传统的SRAM、DRAM、E2PROM、FLASH等存储器都是以硅为存储介质,由于物理和工艺上的极限,已经不能满足信息产业的进一步高速发展。因此,必须寻求和开发新的存储介质。铁电材料是一类具有自发极化特性,并且自发极化可随电场进行反转并在断电时仍可保持的介质材料。铁电存储器(FeRAM)就是利用这种特性,可以实现数据的非挥发存储。目前,国际上用于FeRAM的铁电材料主要是锆钛酸铅(PZT),但是PZT的剩余极化强度不是特别高,因此,不利于高密度存储器的应用。随着集成电路(IC)工艺集成度的不断提高,存储单元面积的减小,对极化的要求越来越高,因此,PZT的技术局限在130纳米节点就反映出来了。

日本东京工业大学开发了一种铁酸铋(BiFeO3,简写为BFO)材料的电容,试验证明其在低温下具有极高的剩余极化强度,但在室温下,这种BFO材料具有较大的漏电,从而极大地影响电容性能。因此,研究人员随后又对其进行了掺杂,并开发出一种掺入锰的BFO材料,并在室温下获得了高的剩余极化强度,但现有的BFO材料的电容在室温下的特性较差。

发明内容

本发明的目的是为克服已有技术的不足之处,提出一种新型的铁酸铋/钛酸铋叠层结构电容及其制备方法,利用该方法制备出来的铁电电容具有优异的抗疲劳特性、较高的剩余极化强度(Pr),较低的操作电压(Vc),较好的介电特性,并能与CMOS工艺技术相兼容的特点,且在室温下能够正常工作,适用于新型高密度存储器以及集成铁电器件。

本发明的铁酸铋/钛酸铋叠层结构电容,该电容包括:以硅为衬底,在该衬底上依次结合有氧化层、下电极金属层、铁酸铋薄膜,以及上电极金属层;其特征在于,在所述下电极金属层与铁酸铋薄膜之间还结合有钛酸铋诱导层薄膜。

所述的铁酸铋的组成为BiFeO3;所述钛酸铋的组成为Bi4-xXxTi3O12,其中的X为稀土元素Nd,La,Sm,Pr,Gd等中的任意一种,所述钛酸铋中的X占(X+Bi)总量的摩尔百分数,在0.1<x<1.0的范围内;所述钛酸铋中的Bi,相对于所述组成式:Bi4-xXxTi3O12要过量添加,该Bi元素的过剩含量,占Bi、X和Ti元素总量的摩尔百分数为5%<Bi<20%范围。

所述钛酸铋薄膜厚度可为10nm~200nm,所述铁酸铋薄膜厚度可为20nm~500nm。

本发明提出的上述铁酸铋/钛酸铋叠层电容结构的制备方法,是由铁酸铋BFO和钛酸铋BXT前驱体溶胶的制备,以及铁酸铋BFO/钛酸铋BXT叠层结构电容的制备三部分组成,包括以下步骤:

3)制备所述BXT前驱体溶胶:

11)将稀土元素的醋酸盐(市售产品)或硝酸盐(市售产品)(0.3~5g)溶于乙酸(市售产品)或乙醇胺(市售产品)或乙二醇甲醚(市售产品)中,使其完全溶解成稀土元素的盐溶液;

12)将己酸铋(市售产品)或醋酸铋(市售产品)或硝酸铋(市售产品)(3~40g)溶于己酸(市售产品)或乙酸(市售产品)使其完全溶解成己酸铋溶液或乙酸铋溶液;

13)将稀土元素的醋酸盐溶液加入己酸铋溶液或乙酸铋溶液中,在25~100℃条件下充分搅拌5~30分钟,以形成澄清均匀的稀土元素与铋的混合溶液;

14)量取异丙醇钛(市售产品)(1~10g),徐徐加入上述混合溶液中,在25~100℃条件下充分搅拌10~30分钟,以形成澄清均匀的BXT溶液;

15)将丙醇或乙醇(市售产品,既可作为溶剂也可作为稀释剂)加入上述BXT溶液中进行稀释,使BXT溶液的浓度范围为0.01~0.5mol/l,在25~100℃条件下搅拌10~60分钟,直至形成均匀、浓度适中的BXT溶液;

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