[实用新型]晶片尺寸模压封装装置无效
| 申请号: | 01232988.6 | 申请日: | 2001-08-09 |
| 公开(公告)号: | CN2492944Y | 公开(公告)日: | 2002-05-22 |
| 发明(设计)人: | 焦宇祯 | 申请(专利权)人: | 焦宇祯 |
| 主分类号: | H01L23/28 | 分类号: | H01L23/28 |
| 代理公司: | 中科专利商标代理有限责任公司 | 代理人: | 朱黎光,张占榜 |
| 地址: | 台湾省新竹市明*** | 国省代码: | 台湾;71 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 晶片 尺寸 模压 封装 装置 | ||
1、一种晶片尺寸模压封装装置,其特征在于包括:
至少一晶片,其具有第一表面及第二表面,在该第一表面中央设有多个焊垫,且每一该焊垫上形成有一导电接点;
至少一凹陷,形成于该晶片的第一表面及第二表面的至少一表面,且该凹陷并贯穿该晶片相对二侧面;以及
一封装胶体,其填满该凹陷且至少包覆该晶片被该凹陷贯穿的相对二侧面。
2、根据权利要求1所述的晶片尺寸模压封装装置,其特征在于:该封装胶体并至少包覆该焊垫及该导电接点,且该导电接点部分凸出该封装胶体。
3、根据权利要求1所述的晶片尺寸模压封装装置,其特征在于:该晶片的第二表面并设置有一支撑架且突出该晶片至少相对二侧。
4、根据权利要求1所述的晶片尺寸模压封装装置,其特征在于:在每一该凹陷中并分别设置有一支撑架,其突出该晶片、并受该封装胶体包覆。
5、根据权利要求1所述的晶片尺寸模压封装装置,其特征在于:在该晶片第一表面的至少相对二侧分别设置有一支撑架,其突出该晶片,并被该封装胶体包覆。
6、根据权利要求1所述的晶片尺寸模压封装装置,其特征在于:该封装胶体并同时包覆多个该晶片。
7、根据权利要求1所述的晶片尺寸模压封装装置,其特征在于:该封装胶体的形成方式是选自注模成型及印刷成型其中之一。
8、根据权利要求1所述的晶片尺寸模压封装装置,其特征在于:该导电接点的型态是选自焊球及焊料凸块其中之一。
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