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[发明专利]用于动态确定以执行读取回收操作的存储器装置及方法-CN201710686812.X有效
发明人：张帆;蔡宇;熊晨荣;哈曼·巴蒂亚;金炯锡;大卫·皮尼亚泰利 -专利权人：爱思开海力士有限公司
申请日： 2017-08-11 - 公布日： 2021-03-30 - 主分类号： G06F12/02 文献下载
摘要：本发明公开了一种用于根据存储器的一个或多个条件来确定对存储器的读取操作的阈值数量的技术。如果存储器的读取操作的数量满足读取操作的阈值数量，则可以执行读取回收操作以保存存储在其中的数据。
用于动态确定执行读取回收操作存储器装置方法

[发明专利]半导体存储器设备和操作该半导体存储器设备的方法-CN202111628674.2在审
发明人：李熙烈 -专利权人：爱思开海力士有限公司
申请日： 2021-12-28 - 公布日： 2022-11-22 - 主分类号： G11C8/08 文献下载
摘要：本公开涉及半导体存储器设备和操作该半导体存储器设备的方法。对被选择的存储器单元的读取操作可以通过操作半导体存储器设备的方法来执行。该方法可以包括：在第一读取电压至第2N‑1读取电压之中确定要在读取操作中使用的读取电压；向连接到被选择的存储器单元的被选择的字线施加所确定的读取电压；以及基于所确定的读取电压是否是第一读取电压，向未被选择的字线施加读取通过电压。
半导体存储器设备操作方法

[发明专利]电子装置及其操作方法-CN202211242302.0在审
发明人：陈增鹏 -专利权人：星宸科技股份有限公司
申请日： 2022-10-11 - 公布日： 2023-01-17 - 主分类号： G06F3/06 文献下载
摘要：本申请实施例公开了一种电子装置及其操作方法，电子装置包括第一译码电路及第二译码电路，电子装置耦接储存装置及存储器，储存装置储存压缩数据。操作方法包括：执行第一读取操作，以从储存装置的第一读取地址读取第一子区块；执行第一写入操作，以将第一子区块写入存储器的第一写入地址；执行第二读取操作，以从储存装置的第二读取地址读取第二子区块，第二读取地址等于第一读取地址加上第一子区块的数据量；执行第二写入操作，以将第二子区块写入存储器的第二写入地址；第一译码电路从存储器读取第一子区块并译码第一子区块；以及，第二译码电路从存储器读取第二子区块并译码第二子区块。
电子装置及其操作方法

[发明专利]图像读取装置和图像读取系统-CN201110106185.0有效
发明人：若浦具视 -专利权人：株式会社PFU
申请日： 2011-04-27 - 公布日： 2011-12-07 - 主分类号： H04N1/00 文献下载
摘要：一种图像读取装置，包括操作单元，该操作单元根据用户的操作发出开始指令，以便开始读取为读取目标介质的介质，传送所述介质的传送单元，显示所传送的所述介质的状态的显示单元；读取所述介质的读取单元，以及检测所述介质的介质检测单元所述显示单元当所述介质的读取操作完成并且所述介质检测单元没有检测到所述介质时显示内容，所述内容指示所述读取操作是可能的。所述传送单元在所述读取目标介质是一组介质中的第一片介质时并且在所述介质检测单元检测到所述第一片介质时，响应所述读取操作开始指令而开始所述介质的传送，以及所述传送单元在所述读取目标介质是所述一组介质中的第二片或更后面的介质时
图像读取装置系统

[发明专利]存储器的检测方法-CN201310317888.7有效
发明人：钱亮;任栋梁 -专利权人：上海华虹宏力半导体制造有限公司
申请日： 2013-07-25 - 公布日： 2018-08-21 - 主分类号： G11C29/56 文献下载
摘要：所述存储器的检测方法包括：在所述存储器中写入预设数据；在第一测试条件下对所述存储器进行第一次读取操作，根据所述第一次读取操作的读取结果与第一阈值的比较结果获得第一读取数据；在所述第一读取数据与所述预设数据相同时，在第一测试条件下对所述存储器进行第二次读取操作，根据所述第二次读取操作的读取结果与第二阈值的比较结果获得第二读取数据；根据所述第二读取数据与所述预设数据的比较结果对所述存储器进行判定操作。
存储器检测方法

[发明专利]数据单元的基于回归的校准及扫描-CN202011402501.4在审
发明人： V·P·拉亚普鲁;H·R·辛吉迪;A·马尔谢;S·K·瑞特南;林其松;K·K·姆奇尔拉 -专利权人：美光科技公司
申请日： 2020-12-02 - 公布日： 2021-06-04 - 主分类号： G06F11/10 文献下载
摘要：可执行读取操作以读取存储在数据块处的数据。可基于所述多个读取操作确定在与所述数据块相关联的一对编程分布之间的间隔的参数。可接收读取存储在所述数据块处的所述数据的读取请求。响应于接收到所述读取请求，可基于反映在与所述数据块相关联的所述一对编程分布之间的分离的参数执行读取操作，以读取存储在所述数据块处的所述数据。
数据单元基于回归校准扫描

[发明专利]控制器、半导体存储系统及其操作方法-CN201510767954.X有效
发明人：田明云 -专利权人：爱思开海力士有限公司
申请日： 2015-11-11 - 公布日： 2020-08-25 - 主分类号： G11C16/34 文献下载
摘要：一种存储器控制器的操作方法，包括：使用软读取电压来对储存在半导体存储器件中的读取数据执行软读取操作；基于第一对数似然比(LLR)值来对读取数据执行软判决ECC解码操作；以及当基于第一LLR值的软判决ECC解码操作失败时，基于第二LLR值来对读取数据执行软判决ECC解码操作。基于通过对读取数据的软判决ECC解码操作而获得的读取数据的错误位的数量和非错误位的数量来产生更新LLR值。
控制器半导体存储系统及其操作方法

[发明专利]商品读取装置-CN202180013435.8在审
发明人：矢嶋信介;内藤英浩;伊藤昌树;川口裕纪;服部大祐;齐藤孝浩;铃木航太 -专利权人：东芝泰格有限公司
申请日： 2021-07-20 - 公布日： 2023-03-17 - 主分类号： G07G1/00 文献下载
摘要：实施方式的商品读取装置是进行商品附带的码符号的读取的商品读取装置具备：第一读取部，在操作者所处的一侧形成可读取所述码符号的读取区域；第二读取部，设置在与所述第一读取部不同的位置，在所述操作者所处的一侧形成所述读取区域；以及信息读取部，从所述第一读取部或所述第二读取部的读取结果读取所述码符号所保持的代码信息，所述第一读取部的读取区域和所述第二读取部的读取区域的至少一部分重复。
商品读取装置

[发明专利]一种读取中央处理器温度的通用方法-CN200410074354.7无效
发明人：刘文涵;宋建福;胡幸;刘一波;刘萍 -专利权人：英业达股份有限公司
申请日： 2004-09-10 - 公布日： 2006-03-15 - 主分类号： G06F11/30 文献下载
摘要：本发明涉及一种读取中央处理器温度的通用方法，包括如下步骤：根据高级电源管理协议从BIOS中读取AML代码；在该AML代码中，确定读取该CPU温度的硬件途径；根据该硬件途径在该AML代码中确定执行温度读取的硬件端口和操作码；分析该AML码，确定该硬件端口操作顺序；及根据该操作顺序，操作硬件端口，读取CPU温度。本发明通过提供较为通用的读取CPU温度的方法，可以针对不同机型采用统一的方法进行温度读取。
一种读取中央处理器温度通用方法

[发明专利]用于利用NAND存储器件同时读写的系统和方法-CN201080062374.6有效
发明人： W·波拉诺斯基 -专利权人：索尼爱立信移动通讯有限公司
申请日： 2010-12-06 - 公布日： 2012-10-31 - 主分类号： G06F12/02 文献下载
摘要：用于将在NAND型存储器件（14）中执行同时读取和写入操作的系统、方法和程序，包括：在NAND型存储器件中分配第一分区（P1），其中第一分区被构造为对高优先级读取内容执行读取操作；在NAND型存储器件中分配第二分区，其中第二分区（P2）被构造为执行读取操作和写入操作，其中对非高优先级读取内容执行读取操作；以及控制第一分区和第二分区以同时的方式进行操作。
用于利用 nand 存储器件同时读写系统方法

[发明专利]存储设备、存储设备的操作方法以及控制器的操作方法-CN202211303596.3在审
发明人：崔镜隐;郑宇圣 -专利权人：三星电子株式会社
申请日： 2022-10-24 - 公布日： 2023-05-26 - 主分类号： G11C16/26 文献下载
摘要：提供存储设备、存储设备的操作方法以及控制器的操作方法。所述存储设备的操作方法包括：从主机设备接收主机读取命令；识别与所述主机读取命令对应的读取路径是否对应于第一直接存储器访问(DMA)读取路径；以及基于所述读取路径对应于所述第一DMA读取路径，通过主机DMA管理器，将存储在纠错电路的输出缓冲器中的读取数据直接输出到所述主机设备。
存储设备操作方法以及控制器

[发明专利]游戏装置、读取装置及游戏系统-CN201910693334.4有效
发明人：木村宪司;中村光志 -专利权人：万代股份有限公司
申请日： 2016-12-15 - 公布日： 2023-04-07 - 主分类号： A63F13/90 文献下载
摘要：本发明提供一种使物品的操作性提高的游戏装置、读取装置及游戏系统。本发明的游戏装置具备：读取器件，读取物品中所记录的信息；游戏执行器件，使用所述信息来执行游戏处理；以及主体部，具有受理玩家的操作的操作器件与所述读取器件；且所述读取器件具备读取所述信息的读取部以及能够载置所述物品的载置部
游戏装置读取系统

[发明专利]搜索非易失性存储器装置的读取电压的方法-CN202210916834.1在审
发明人：李卫稙;鲁官宇;宋弦锺 -专利权人：三星电子株式会社
申请日： 2022-08-01 - 公布日： 2023-04-18 - 主分类号： G11C16/26 文献下载
摘要：公开了搜索非易失性存储器装置的读取电压的方法。非易失性存储器装置包括具有彼此不同的第一状态和第二状态的多个存储器单元。搜索非易失性存储器装置的读取电压的方法包括：确定表示数据读取操作被执行的次数的数量n；选择读取电压的n个读取电压电平，使得读取电压电平的数量等于数据读取操作的次数，其中，所述n个读取电压电平彼此不同；通过使用全部的所述n个读取电压电平对所述多个存储器单元执行n次数据读取操作来生成n个单元计数值；以及通过使用所述n个读取电压电平和所述n个单元计数值执行基于一阶多项式的回归分析来生成读取电压的最佳读取电压电平。
搜索非易失性存储器装置读取电压方法

[发明专利]一种存储器读取速度测量电路-CN201810035251.1在审
发明人：唐明;马继荣 -专利权人：北京同方微电子有限公司
申请日： 2018-01-15 - 公布日： 2019-07-23 - 主分类号： G11C29/12 文献下载
摘要：本发明提供一种存储器读出速度测量电路，所述测量电路包括读取操作电路、锁存器和二路选择器，其中，读取操作电路连接锁存器，二路选择器连接并控制锁存器，二路选择器内置内部定时信号、读取时钟和读取速度测试模式开关信号，读取操作电路读取存储器中的存储数据，并将所读取的存储数据传送给锁存器，锁存器锁存保持住所读取的存储数据。本发明在存储器内部增加一个二路选择器来控制存储器读出数据锁器，不仅实现保留原有的正常读取操作，还增加读取速度测试模式，仅通过调整存储器输入的读取时钟占空比就可以准确测量存储器的读取速度，而不受到芯片内部数据传输延时的干扰，能够精确、简单方便、低成本地实现存储器的读取速度的直接测量。
读取存储器二路选择器读取操作锁存器存储数据速度测量电路速度测试模式开关信号内部定时信号芯片内部数据存储器读取控制存储器控制锁存器时钟占空比测量电路传输延时电路读取电路连接读出数据直接测量准确测量低成本原有的内置锁存锁器读出电路传送保留

[发明专利]存储器系统及其操作方法-CN201911362576.1在审
发明人：李宗珉 -专利权人：爱思开海力士有限公司
申请日： 2019-12-26 - 公布日： 2020-10-02 - 主分类号： G11C29/10 文献下载
摘要：本文描述了存储器系统及其操作方法。一种存储器系统包括：存储器装置；以及控制器，适于对第一多个候选存储器块执行第一测试读取操作，基于参考值和在第一测试读取操作中扫描的第一多个候选存储器块的第一数目来确定第二测试读取操作的测试读取方法，以及基于所确定的测试读取方法来对第二多个候选存储器块执行第二测试读取操作
存储器系统及其操作方法

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