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[外观设计]自动单晶片多模组测试机-CN201930353311.X有效
发明人：范群意 -专利权人：范群意
申请日： 2019-07-04 - 公布日： 2019-12-17 - 主分类号： 10-05 文献下载
摘要：1.本外观设计产品的名称：自动单晶片多模组测试机。;2.本外观设计产品的用途：代替人工完成晶片的检测与品种分类，也可以对晶片进行取放。;3.本外观设计产品的设计要点：在于形状。
自动单晶片多模组测试机

[发明专利]晶片自动角度分选系统-CN202111329950.5在审
发明人：谢尚平;孙黎明;刘兴波 -专利权人：珠海东锦石英科技有限公司
申请日： 2021-11-11 - 公布日： 2022-03-29 - 主分类号： B07C5/02 文献下载
摘要：本发明公开了一种提高定位精度、提高测量准确度和避免晶片发生碎片的晶片自动角度分选系统。本发明包括工作台，工作台上依次设置有弹夹式上料机构、方向测试机构、角度测试机构和分选下料盘，弹夹式上料机构与方向测试机构之间设置有第一运料模组，方向测试机构与角度测试机构之间设置有第二运料模组，角度测试机构和分选下料盘之间设置有第三运料模组；方向测试机构包括直驱马达和与直驱马达相连接的方向测试座，方向测试座的斜上方设置有光纤传感器，角度测试机构包括呈斜线依次分布于工作台上的X射线发射器、测试吸盘座和X射线接收器，测试吸盘座的两端设置有电手指定位装置本发明应用于晶片角度分选设备的技术领域。
晶片自动角度分选系统

[实用新型]晶片自动角度分选系统-CN202122748313.3有效
发明人：谢尚平;孙黎明;刘兴波 -专利权人：珠海东锦石英科技有限公司
申请日： 2021-11-11 - 公布日： 2022-05-10 - 主分类号： B07C5/02 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种提高定位精度、提高测量准确度和避免晶片发生碎片的晶片自动角度分选系统。本实用新型包括工作台，工作台上依次设置有弹夹式上料机构、方向测试机构、角度测试机构和分选下料盘，弹夹式上料机构与方向测试机构之间设置有第一运料模组，方向测试机构与角度测试机构之间设置有第二运料模组，角度测试机构和分选下料盘之间设置有第三运料模组；方向测试机构包括直驱马达和与直驱马达相连接的方向测试座，方向测试座的斜上方设置有光纤传感器，角度测试机构包括呈斜线依次分布于工作台上的X射线发射器、测试吸盘座和X射线接收器，测试吸盘座的两端设置有电手指定位装置本实用新型应用于晶片角度分选设备的技术领域。
晶片自动角度分选系统

[实用新型]单晶硅棒料开方检验设备组合-CN200920042955.8无效
发明人：施海明;陆景刚;张锦根;鄂林 -专利权人：镇江环太硅科技有限公司
申请日： 2009-06-30 - 公布日： 2010-07-28 - 主分类号： B28D7/00 文献下载
摘要：本实用新型涉及单晶硅晶片的制造设备的组合结构，具体是一种用来对单晶硅棒料进行检验的单晶硅棒料开方检验设备组合。该单晶硅棒料开方检验设备组合包括有尺寸测量及划线工具、红外测试仪和少子测试机，所述测量及划线工具、红外测试仪和少子测试机三个部分依次排布，三个部分之间通过自动传送带连接。本实用新型在传统检测设备之间设置自动传送带，可以将棒料在各检测环节自动传送，降低了操作人员的劳动强度，也减少了转动过程中对材料的损耗和浪费。
单晶硅开方检验设备组合

[发明专利]测试半导体封装堆叠晶片的测试系统及其半导体自动化测试机台-CN201210142289.1有效
发明人：陈建名 -专利权人：致茂电子(苏州)有限公司
申请日： 2012-05-10 - 公布日： 2012-09-05 - 主分类号： G01R31/26 文献下载
摘要：一种测试半导体封装堆叠晶片的测试系统及其半导体自动化测试机台，该用于测试一个置放在一组测试座上的待测晶片的测试系统，包括一组位于该测试座上方的测试臂及一组于该测试座上方位置以及远离该测试座上方位置之间来回移动的测试机构，其中该测试机构内部具有一检测晶片，自该检测晶片处电性导接并向该测试座方向延伸出多个测试探针；因此，当该测试机构移动至该组测试座上方位置与测试臂之间时，该测试臂向下压迫该测试机构，迫使该测试机构的多个测试探针迫紧抵触待测晶片，使该测试机构内部的检测晶片与待测晶片电性连接形成一组测试回路，以进行半导体封装堆叠晶片测试。于堆叠晶片封装前自动将底部晶片分类，提高测试效率，节省人力成本。
测试半导体封装堆叠晶片系统及其自动化机台

[发明专利]热管测试机及使用该热管测试机的热管测试系统-CN201110028614.7无效
发明人：黄登聪;胡永兵;李元钊;尚战 -专利权人：鸿富锦精密工业（深圳）有限公司;鸿海精密工业股份有限公司
申请日： 2011-01-26 - 公布日： 2012-08-01 - 主分类号： G01N25/20 文献下载
摘要：一种热管测试机，包括对待测热管进行加热的加热模组及对待测热管进行散热的散热模组，所述加热模组包括用于对待测热管进行加热的加热铜块，所述散热模组包括依次叠设于一起的散热铜块、导热晶片、吸热铜块及风扇，所述待测热管的两端分别放置于所述加热铜块及散热铜块上，所述散热铜块将从待测热管吸收的热量依次通过导热晶片及吸热铜块传递至所述风扇，所述风扇冷却所述吸热铜块。本发明还提供一种具有所述热管测试机的热管测试系统。所述热管测试机及热管测试系统具有良好的散热效果。
热管测试使用系统

[发明专利]一种晶片自动测试机-CN201910607617.2在审
发明人：范群意 -专利权人：范群意
申请日： 2019-07-04 - 公布日： 2019-09-17 - 主分类号： B65G47/90 文献下载
摘要：本发明公开了一种晶片自动测试机，属于晶片测试技术领域。该晶片自动测试机包括料盘装置、测试装置和移载装置，所述料盘装置设置多个；多个所述料盘装置包括待测料盘装置和分类料盘装置；所述待测料盘装置被配置为承载放置有待测晶片的料盘；所述分类料盘装置被配置为承载放置有测试完成的晶片的料盘；所述移载装置能够将所述待测料盘装置的待测晶片移载至所述测试装置完成测试；所述移载装置还能够将测试完成的晶片由所述测试装置移载至所述分类料盘装置。本发明所提供的自动测试机实现了晶片的自动化测试，提高了晶片测试的效率和产能，减少了作业人员生产的劳动强度。
料盘装置晶片自动测试机测试装置分类料盘移载装置晶片测试测试料盘移载种晶承载自动化测试产能配置生产

[实用新型]一种晶片自动测试机-CN201921036565.X有效
发明人：范群意 -专利权人：范群意
申请日： 2019-07-04 - 公布日： 2020-03-20 - 主分类号： B65G47/90 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种晶片自动测试机，属于晶片测试技术领域。该晶片自动测试机包括料盘装置、测试装置和移载装置，所述料盘装置设置多个；多个所述料盘装置包括待测料盘装置和分类料盘装置；所述待测料盘装置被配置为承载放置有待测晶片的料盘；所述分类料盘装置被配置为承载放置有测试完成的晶片的料盘；所述移载装置能够将所述待测料盘装置的待测晶片移载至所述测试装置完成测试；所述移载装置还能够将测试完成的晶片由所述测试装置移载至所述分类料盘装置。本实用新型所提供的自动测试机实现了晶片的自动化测试，提高了晶片测试的效率和产能，减少了作业人员生产的劳动强度。
一种晶片自动测试

[发明专利]一种导轨式功能测试机构、设备以及多工位在线测试装置-CN202210533786.8在审
发明人：李兴雄;黄金辉;郜继成;周万召;张浩 -专利权人：珠海市精实测控技术有限公司
申请日： 2022-05-16 - 公布日： 2022-08-09 - 主分类号： G01R31/01 文献下载
摘要：本发明涉及一种导轨式功能测试机构、设备以及多工位在线测试装置，该导轨式功能测试设备中通过输送导轨机构将产品载具模组依次输送至功能测试模组下方，通过测试顶升机构将产品载具模组顶升脱离输送导轨机构，所述功能测试模组对产品载具模组上的产品进行自动测试，该导轨式功能测试机构结合多组机械手实现蟾皮能自动转运测试，其旨在提供一种模块化、兼容性高、测试精确的多工位在线测试装置，以提高测试装置的通用性及自动化程度，并确保测试精确。
一种导轨功能测试机构设备以及多工位在线装置

[实用新型]自动识别检测一体机-CN202121614468.1有效
发明人：胡紫阳;黄明孟;李智德 -专利权人：深圳市业展电子有限公司
申请日： 2021-07-15 - 公布日： 2022-02-25 - 主分类号： G05B19/05 文献下载
摘要：本实用新型公开一种自动识别检测一体机，包括机座，机座包括产品放置台和多轴移动直线模组，多轴移动直线模组上设有第一安装板，第一安装板上设有用于识别产品的图像识别机构、用于旋转多轴移动直线模组的旋转机构、用于检测产品的测试机构和用于与图像识别机构、旋转机构以及测试机构电连接的控制机构。本实用新型提出的一种自动识别检测一体机，是通过在机座上设有多轴移动直线模组，多轴移动直线模组上设有旋转机构、图像识别机构、测试机构和控制机构从而可以达到产品任意放在工作台上的工作区域，系统自动进行图像捕抓，识别图像的方向进行调整测试针头三轴移动方向，在原有设定图形以及检测点上进行测试，从而实现识别检测目的。
自动识别检测一体机

[实用新型]多型号电池全自动测试机-CN201920741770.X有效
发明人：陆军;韦波;吴子其 -专利权人：帅福得（珠海保税区）电池有限公司
申请日： 2019-05-22 - 公布日： 2020-03-24 - 主分类号： G01R31/385 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种多型号电池全自动测试机，旨在提供一种使用方便及提高测试效率的多型号电池全自动测试机。本实用新型包括电池上料模组及工作台，第一电池运输模组的一端与电池上料模组相对接，另一端与电池测试运输模组的一端相对接，电池旋转运输机械手模组配合设置在电池上料模组及电池测试运输模组的上方，电池测试运输模组的另一端与第二电池运输模组相接，托盘运输模组配合设置在第二电池运输模组的另一端，电池测试运输模组上配合设置有电池测试模组及电池筛选模组。本实用新型应用于电池测试设备的技术领域。
型号电池全自动测试

[实用新型]电子元件的测试模组-CN200420012589.9无效
发明人：资重兴 -专利权人：资重兴
申请日： 2004-10-12 - 公布日： 2005-09-28 - 主分类号： G01N27/20 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种电子元件的测试模组，其是由一测试机板、至少一转接电路板、至少一可供任意组装晶片等电子元件的承接座组成，于测试机板上面、转接电路板两面及承接座底面分别设有相对应的电性接点，藉此使承接座可组装于转接电路板，而转接电路板可任意与不同型式的测试机板组装，以组成电子元件的测试模组，达到可任意更换测试机板及承接座的效果。
电子元件测试模组

[实用新型]一种多工位电芯自动测试设备-CN201922050915.4有效
发明人：章荣忠;郭庆明;罗仕桂;聂龙如;陈豫川;张尚冬;游国富;王丽明;卢志文 -专利权人：惠州市德赛电池有限公司
申请日： 2019-11-25 - 公布日： 2020-08-14 - 主分类号： G01R31/01 文献下载
摘要：一种多工位电芯自动测试设备，包括机架，机架上设有用于放置电芯的多个测试工位，每个工位上设有测试机构，所述的测试机构侧边设有用于夹具定位的定位机构，所述的电芯放置在夹具上，电芯具有端子，所述的测试机构包括将端子压紧的压紧组件本实用新型的多个测试工位对应多个电芯进行测试，效率比较高，测试前压紧组件将端子压紧，避免测试点连接不上或者连接错误的问题，便于后续测试机构的顺利测试；定位机构实现夹具定位，结构简单，成本比较低；上料模组和下料模组实现夹具的自动上下料，提高设备自动化水平。
一种多工位电芯自动测试设备

[发明专利]记忆体晶片超频测试方法-CN201910717831.3有效
发明人：洪康宁 -专利权人：全何科技股份有限公司
申请日： 2019-08-05 - 公布日： 2022-06-17 - 主分类号： B07C5/34 文献下载
摘要：本发明为一种记忆体晶片超频测试方法，应用在两阶段的记忆体晶片测试制程中，筛检不同速度的记忆体晶片，包含测试盘区、定位暂存盘、至少一预测试机台、多个测试机台、机械手臂以及监控装置，测试盘区、定位暂存盘、至少一预测试机台、多个测试机台与机械手臂视为一个测试装置，而监控装置无线或有线连接测是装置，透过预测试机台做第一阶段筛选，且将资讯上传更新到监控装置，提供终端装置随时读取。藉此达到远端监控、自动化、提高效率、准确度及减少误判。
记忆体晶片超频测试方法

[发明专利]电池模组激光焊接处理线-CN202111618640.5在审
发明人：宋海肖;黄杰;曹平 -专利权人：东莞拓斯达技术有限公司
申请日： 2021-12-27 - 公布日： 2022-05-13 - 主分类号： B23K26/21 文献下载
摘要：本发明公开一种电池模组激光焊接处理线，包括多个托盘、托盘输送回流线及在托盘输送回流线上依次布置的贴底胶机、焊前拍照测试机、激光焊接机、焊后拍照测试机及多轴下料机器人。贴底胶机对托盘输送回流线所输送来的托盘中的电池模组贴底胶，焊前拍照测试机对托盘输送回流线所输送来的托盘中的电池模组进行拍照和测试，激光焊接机对电池模组中的搭接于相邻电池之间的极柱处的连接片与该极柱焊接，焊后拍照测试机对托盘输送回流线所输送来的托盘中的电池模组进行拍照和测试，多轴下料机器人将托盘输送回流线所输送来的托盘中的电池模组进行下料；以实现由托盘带电池模组转移及在转移过程中实现电池模组的贴底胶、激光焊接及下料自动化流程
电池模组激光焊接处理

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