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农业化学；冶金建筑机械工程区域搜索

主分类

B 作业；运输

C 化学；冶金

D 纺织；造纸

E 固定建筑物

F 机械工程、照明、加热

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公布日期

2023-10-24 公布专利

2023-10-20 公布专利

2023-10-17 公布专利

2023-10-13 公布专利

2023-10-10 公布专利

2023-10-03 公布专利

2023-09-29 公布专利

2023-09-26 公布专利

2023-09-22 公布专利

2023-09-19 公布专利

专利权人

国家电网公司

华为技术有限公司

中兴通讯股份有限公司

三星电子株式会社

中国石油化工股份有限公司

鸿海精密工业股份有限公司

松下电器产业株式会社

上海交通大学

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[实用新型]电子产品测试装置-CN202223497120.6有效
发明人：林景立;杨高山 -专利权人： 致茂电子(苏州)有限公司
申请日： 2022-12-27 - 公布日： 2023-09-01 - 主分类号： G01R1/04 文献下载
摘要：一种电子产品测试装置包含一测试台与一对位机构。测试台包含一支撑架与一连接器。连接器位于支撑架的顶部。对位机构包含一框架、一探针卡及一持板治具。框架安装于支撑架的顶部。持板治具活动地位于框架上用以将探针卡夹合其中，且外露探针卡的探针。升降装置安装于框架上，固定地连接持板治具，用以升降持板治具。故，当升降装置垂直降下持板治具，探针卡的探针能够分别垂直插入且电连接连接器的这些探针孔。通过以上架构，探针卡能够被垂直升降，从而让所有探针能够顺利地垂直插入且电性连接探针孔，从而能够执行测试机台后续的测试程序，降低让探针受损的风险。
电子产品测试装置

[发明专利]光学检测装置以及校正方法-CN201811524912.3有效
发明人：刘育鑫;詹凱劭;薛名凱 -专利权人： 致茂电子(苏州)有限公司
申请日： 2018-12-13 - 公布日： 2023-08-29 - 主分类号： G01N21/01 文献下载
摘要：本揭示文件提供一种光学检测装置以及校正方法。光学检测装置包含影像撷取装置以及处理器。处理器耦接于光源以及影像撷取装置。其中处理器用以调整光源照射校正物的光强度，使影像撷取装置对校正物所撷取的至少一影像区块的灰阶值符合目标校正值，并记录符合目标校正值时的目标光强度；处理器还用以控制光源以目标光强度照射待测物，以及控制影像撷取装置对待测物撷取待测物影像；处理器还用以计算目标灰阶值以及待测物影像的多个像素的灰阶值的比值，以取得映射表，如此一来，可以达成迅速地检测影像是否有瑕疵的功效。
光学检测装置以及校正方法

[实用新型]用于马达测试系统的全开式与全角度的堵转装置-CN202320075065.7有效
发明人：蔡承轩;杨俊彬 -专利权人： 致茂电子(苏州)有限公司
申请日： 2023-01-10 - 公布日： 2023-08-29 - 主分类号： G01R31/34 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种用于马达测试系统的全开式与全角度的堵转装置，以对待测马达提供堵转功能。堵转装置包含基座、驱动源衔接模块及制动模块。驱动源衔接模块包括联轴器及可分离地接合在一起的第一碟盘与第二碟盘，第一碟盘与第二碟盘固定于联轴器上，联轴器界定有用于衔接传动轴的安装孔以接收来自待测马达的驱动源；制动模块设置于基座上并被配置于驱动源衔接模块的边缘，制动模块是供受控来用于对驱动源衔接模块产生夹持力，夹持力可选择地被施加在第一碟盘及第二碟盘的任意边缘，以制动驱动源衔接模块。
用于马达测试系统全开角度装置

[发明专利]电流探针-CN201610363892.0有效
发明人：刘茂盛;郭修玮 -专利权人： 致茂电子(苏州)有限公司
申请日： 2016-05-27 - 公布日： 2023-08-22 - 主分类号： G01R1/067 文献下载
摘要：本发明公开了一种电流探针，包含基体、探针头以及多个接触件。探针头装设于基体。探针头具有表面和多个插孔，且插孔皆位于表面。每一接触件包含相连的接触部和插设部。插设部插设于插孔内，且接触部与插设部之间具有钝角。
电流探针

[发明专利]用于检测图像模块的继电器板组件及其检测系统-CN202210108062.9在审
发明人：张瑛淑;黄裕权;李永煌;叶明升;蔡志谥 -专利权人： 致茂电子(苏州)有限公司
申请日： 2022-01-28 - 公布日： 2023-08-08 - 主分类号： H04N17/00 文献下载
摘要：本发明公开了一种用于检测图像模块的继电器板组件及其检测系统，继电器板组件包括图像采集卡及图像测试信号产生卡，图像采集卡上包括图像信号接收器及第一切换模块，图像测试信号产生卡上包括第二及第三切换模块以及搭载有标准图像信号处理器，通过受控于ATE的第一至第三切换模块对传输路径的控制，达到ATE电性测试及高速图像测试间的切换，并可将标准图像信号处理器内置的预设图像资料作为高速测试信号提供至待测图像信号处理器，使得不具高速图像信号提供能力的ATE也能被用来执行高速图像测试，测试成本得以被降低。
用于检测图像模块继电器组件及其系统

[发明专利]电子负载装置-CN202010035339.0有效
发明人：洪钧晟;伍翔榆;郑倚侨;黄建兴 -专利权人： 致茂电子(苏州)有限公司
申请日： 2020-01-14 - 公布日： 2023-08-01 - 主分类号： G01R31/40 文献下载
摘要：本发明公开一种电子负载装置，其借助功率组件与分压电路之间额外增设的增强型驱动电路，确保与控制电路没有连接的功率组件的驱动能力，进而快速调整响应电压，缩短响应期间，以提高整体的响应速度，抑制瞬时电压变化，并解决在负载电路上产生的信号延迟问题，使电子负载装置内串联连接的各个功率组件可以被快速驱动，降低功率组件的毁损风险，也提高了电子负载装置的稳定度及可靠度。
电子负载装置

[发明专利]待测面姿态的检测方法及使用该检测方法的光学检测设备-CN202210030341.8在审
发明人：陈秉宽;杨兰升;朱建勋 -专利权人： 致茂电子(苏州)有限公司
申请日： 2022-01-12 - 公布日： 2023-07-21 - 主分类号： G01B11/00 文献下载
摘要：本发明公开了一种待测面姿态的检测方法及使用该检测方法的光学检测设备，其基于预先建置的至少二对比值查找表，以在检测程序中取得该待测面的倾斜状态。通过不同波段的光线对于目标检测区具有的相异准焦程度，取得目标检测区中相异两波段的准焦指数的对比程度，再于对应的对比值查找表中找寻匹配的两个高度位置参数，进而可基于高度位置参数间的差异程度取得待测面的倾斜状态，后续作为姿态的调整依据。因此，在这种匹配式机制的运作下，一幅影像就可进行姿态的检测，免除了耗时的对观测点逐层检测准焦程度的程序，可大幅提高待测面姿态的检测效率。
待测面姿态检测方法使用光学设备

[发明专利]测试机管控方法及测试机管控系统-CN202111637579.9在审
发明人：苏子雅;施翔文 -专利权人： 致茂电子(苏州)有限公司
申请日： 2021-12-29 - 公布日： 2023-07-14 - 主分类号： G06Q30/0645 文献下载
摘要：一种测试机管控方法及测试机管控系统，测试机管控方法包含以下步骤：判断是否得以读取计算机硬件锁；当判定读取到计算机硬件锁，判断储存于计算机硬件锁的使用时间是否小于储存于测试机的背板的临界时间；当判定使用时间小于临界时间，启动测试机的测试软件，并监测测试机的测试软件的测试时间；储存测试机的测试软件的测试时间于记忆体；以及周期性记录测试机的测试软件的测试时间于计算机硬件锁以产生使用时间。本案实施例所示的测试机管控方法可使用计算机硬件锁作为管控机制的启动条件，以提升管控机制的安全性。
测试机管控方法系统

[发明专利]量测装置-CN202111636828.2在审
发明人：邹明颖;简鋐藤;吴宗颖 -专利权人： 致茂电子(苏州)有限公司
申请日： 2021-12-29 - 公布日： 2023-07-11 - 主分类号： G01R1/28 文献下载
摘要：一种量测装置，其包含第一增益可变放大器、开关组、第一混频器及第二混频器。第一增益可变放大器用以接收并放大射频信号。开关组耦接于第一增益可变放大器。第一混频器耦接于开关组。当射频信号大于临界频率，开关组传输射频信号及本地振荡信号至第一混频器。第一混频器将射频信号及本地振荡信号混频以产生基频信号。第二混频器耦接于开关组，当射频信号不大于临界频率，开关组传输射频信号及本地振荡信号至第二混频器。第二混频器将射频信号及本地振荡信号混频以产生基频信号。本案实施例所示的量测装置采用超外差双混频器架构，使用两组不同频宽的混频器以增加量测装置的整体频宽，借以测量到Sub‑6的频段。
装置

[发明专利]微型待测物载具-CN202111683719.6在审
发明人：吴俊霖;黄国玮 -专利权人： 致茂电子(苏州)有限公司
申请日： 2021-12-31 - 公布日： 2023-07-11 - 主分类号： G01D21/02 文献下载
摘要：一种微型待测物载具包含一载具本体、一推动件与一弹性元件。载具本体包含复数个相间设置的承载台，承载台用以承载一微型待测物。推动件受操作地自一限位位置移动至一松开位置，并包含一推动本体与复数个限位件。限位件对应承载台而位于承载台旁的一间隙。弹性元件设置于承载台与推动件之间，用以在推动件受操作地被推动至松开位置供微型待测物设置后，利用弹性恢复力使推动件复位至该限位位置，借以利用该些限位件对该些微型待测物加以限位。
微型待测物载具

[发明专利]多功能标准校正片及光学检测设备的检测方法-CN202111648019.3在审
发明人：谭培汝;邱奕昌;张巍耀 -专利权人： 致茂电子(苏州)有限公司
申请日： 2021-12-30 - 公布日： 2023-07-11 - 主分类号： G01N21/93 文献下载
摘要：一种多功能标准校正片，其包括载体与多个瑕疵样品。载体具有光源检测区与微粒检测区。光源检测区较微粒检测区靠近载体的边缘。瑕疵样品位于载体的微粒检测区上且彼此分开。此多功能标准校正片可有效缩短监控流程的时间、降低标准片样本的成本及降低监控时的量测误差。
多功能标准校正光学检测设备方法

[发明专利]用于助焊剂检测的照射光调整方法及使用该方法的检测设备-CN202111608850.6在审
发明人：娄介宇;曹荣杰;张巍耀 -专利权人： 致茂电子(苏州)有限公司
申请日： 2021-12-27 - 公布日： 2023-07-07 - 主分类号： G01N21/88 文献下载
摘要：本发明公开了一种用于助焊剂检测的照射光调整方法及使用该方法的检测设备，其是依据预先选取的目标范围以取得光源装置的光强度设定组态。目标范围包括被涂布助焊剂的第一目标区及无涂布助焊剂的第二目标区，照射光调整方法包括：资料搜集步骤、资料处理步骤、评估步骤及判定步骤。通过相异的多个照射光强度的分别照射下，取得两个目标区基于影像中的灰阶分布所对应的特征值以及对应的差值。在照射光强度与差值的分布关系中，依据评估步骤来最佳化光强度设定组态，以增进检测效率并提高检测精确性，同时达到检测光源的自动调整。
用于焊剂检测照射调整方法使用设备

[发明专利]隔离变压器及其制造方法-CN202111353334.3在审
发明人：王俊凯;彭誉耀;吴健铭 -专利权人： 致茂电子(苏州)有限公司
申请日： 2021-11-16 - 公布日： 2023-05-19 - 主分类号： H01F27/34 文献下载
摘要：本揭示提供一种隔离变压器及其制造方法。该隔离变压器包括一导磁元件、一一次侧绕组以及一二次侧绕组。该导磁元件包括一第一磁柱以及一第二磁柱。该一次侧绕组用以缠绕于该第一磁柱上。该二次侧绕组用以缠绕于该第二磁柱上，其中，当该一次侧绕组和该二次侧绕组分别缠绕于该第一磁柱和该第二磁柱上时，一等效电容值形成于该一次侧绕组与该二次侧绕组之间，且该一次侧绕组与该二次侧绕组是根据该导磁元件设计，以最小化该等效电容值。本揭示的隔离变压器及其制造方法通过最小化隔离变压器的等效电容值来有效隔离低频及高频的共模杂讯，从而减少共模杂讯对于系统的影响。
隔离变压器及其制造方法

[发明专利]光学镜头装置及光学量测方法-CN202111214109.1在审
发明人：黄国玮;高宏达;康博诚;翁思渊;王友延 -专利权人： 致茂电子(苏州)有限公司
申请日： 2021-10-19 - 公布日： 2023-04-21 - 主分类号： G01N21/84 文献下载
摘要：一种光学镜头装置，适用于接收待测物所发出的待测光束，并包含镜头，及套筒组。所述镜头包括外壳。所述外壳具有适用于接收所述待测光束的入光侧。所述套筒组环绕设置于所述外壳的入光侧并界定出适用于供所述待测光束通过的收光空间，以使所述待测光束不受气流扰动影响。通过设置所述套筒组，以防止气流进入所述收光空间，并使所述收光空间内的温度维持一致，借此使所述待测光束不会因气流产生的扰动而偏折，借此，达到提升量测精准度及重复性的功效。
光学镜头装置方法

[发明专利]晶圆检测方法与检测设备-CN202211206315.2在审
发明人：王遵义;曾一士;张敏宏;赵自笃 -专利权人： 致茂电子(苏州)有限公司
申请日： 2022-09-30 - 公布日： 2023-04-07 - 主分类号： G01R31/26 文献下载
摘要：本发明公开了一种晶圆检测方法与检测设备，通过探针模块对晶圆上的晶粒进行电压的检测。探针模块包括：处理模块、与晶粒的第一电极点耦接的第一探针、及与晶粒的第二电极点耦接的第二探针。第一探针并耦接处理模块，第二探针并耦接接地。处理模块通过第一探针对晶粒提供驱动电流，并取得晶粒对应的检测电压。处理模块基于分别代表正常工作的晶粒的高临界阀值及低临界阀值的二参考电压，对检测电压产生检测结果。检测结果指示出晶粒的运作状态。据此，降低了检测成本且提高了效率。
检测方法设备

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