专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [实用新型]一种测试装置及晶片自动测试机-CN201921035457.0有效
  • 范群意 - 范群意
  • 2019-07-04 - 2020-04-21 - G01R31/28
  • 本实用新型公开了一种测试装置及晶片自动测试机,属于晶片测试技术领域。该测试装置包括测试台,还包括载台和转动设于所述载台上的旋转工作台,所述测试台设于所述旋转工作台的上部;所述旋转工作台底部设有调节柱,所述调节柱贯穿所述载台并与所述载台转动连接;所述调节柱的底部设有调节杆,推动所述调节杆,所述调节杆能够带动所述调节柱和所述旋转工作台转动。一种晶片自动测试机,包括上述的测试装置。本实用新型通过将测试台设于旋转工作台上,将旋转工作台与载台转动连接实现测试台的在水平面的位置可调。
  • 一种测试装置晶片自动
  • [实用新型]一种料盘装置及晶片自动测试机-CN201921035461.7有效
  • 范群意 - 范群意
  • 2019-07-04 - 2020-04-21 - B65G47/74
  • 本实用新型公开了一种料盘装置及晶片自动测试机,属于晶片测试技术领域。该料盘装置用于承载料盘,包括间隔设置的安装顶板和安装底板,所述料盘沿竖直方向叠放于所述安装顶板与所述安装底板之间的空间内;所述料盘能够在第一驱动机构的驱动下升降;所述安装顶板为框体结构,所述安装顶板的内边框的侧边上设置导向块,当所述料盘升降时,所述导向块能够与所述料盘相抵接,以纠正所述料盘在所述安装顶板的内边框内的位置。一种晶片自动测试机,包括上述料盘装置。本实用新型通过在料盘装置的安装顶板的内边框上设置导向块,利用料盘升降时与导向块的抵接来纠正料盘的偏移,保证最上方的料盘能够位于安装顶板的框体结构内。
  • 一种装置晶片自动测试
  • [实用新型]一种移载装置及晶片自动测试机-CN201921035687.7有效
  • 范群意 - 范群意
  • 2019-07-04 - 2020-04-21 - B65G47/90
  • 本实用新型公开了一种移载装置及晶片自动测试机,属于晶片测试技术领域。移载装置包括:吸嘴组件,其包括吸嘴本体,所述吸嘴本体用于吸取对象物;第一基体,其上设有沿第一方向延伸的第一滑轨;第二基体,其上设有沿第二方向延伸的第二滑轨;所述第一方向与所述第二方向相互垂直;第一驱动组件,设于所述第一基体上,并被配置为驱动所述吸嘴组件沿所述第一滑轨移动;第二驱动组件,设于所述第二基体上,并被配置为驱动所述吸嘴组件和所述第一基体沿所述第二滑轨移动。一种晶片自动测试机,包括上述移载装置。本实用新型通过分别在第一基体和第二基体上设置第一滑轨和第二滑轨,实现吸嘴组件在第一方向及第二方向上的精确导向。
  • 一种装置晶片自动测试
  • [实用新型]一种晶片自动测试机-CN201921036565.X有效
  • 范群意 - 范群意
  • 2019-07-04 - 2020-03-20 - B65G47/90
  • 本实用新型公开了一种晶片自动测试机,属于晶片测试技术领域。该晶片自动测试机包括料盘装置、测试装置和移载装置,所述料盘装置设置多个;多个所述料盘装置包括待测料盘装置和分类料盘装置;所述待测料盘装置被配置为承载放置有待测晶片的料盘;所述分类料盘装置被配置为承载放置有测试完成的晶片的料盘;所述移载装置能够将所述待测料盘装置的待测晶片移载至所述测试装置完成测试;所述移载装置还能够将测试完成的晶片由所述测试装置移载至所述分类料盘装置。本实用新型所提供的自动测试机实现了晶片的自动化测试,提高了晶片测试的效率和产能,减少了作业人员生产的劳动强度。
  • 一种晶片自动测试

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