专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]一种电气设备动作特性的检测方法及其系统-CN201710155102.4有效
  • 邓永辉;瞿俊;钟务贵 - 深圳市奇辉电气有限公司
  • 2017-03-15 - 2021-10-01 - G01R31/00
  • 本发明适用于电气设备检测领域,提供了一种电气设备动作特性检测方法及其系统,包括:主控模块接收电气设备动作检测项目信息以及电气环境参数信息;根据电气设备动作检测项目信息调整测试模块与待测电气设备各接口的连接状态;根据电气环境参数信息控制电气环境搭建模块进行测试环境搭建;测试模块根据电气设备动态特性检测规则,获取电气设备动作检测项目信息对应的待测电气设备的动作特性数据,并向主控模块发送动作特性数据;主控模块根据动作特性数据以及预设的电气动作特性检测标准,确定待测电气设备是否合格,从而可以使用户获知其使用的电气设备在特定电气环境下工作时动作特性是否满足安全要求,提高了电气设备使用的安全性。
  • 一种电气设备动作特性检测方法及其系统
  • [发明专利]电气膜体的制造方法-CN201310407995.9有效
  • 菅井孝安;小田部昇 - 日本麦可罗尼克斯股份有限公司
  • 2013-09-09 - 2017-05-24 - H05K1/16
  • 本发明的电气膜体的制造方法以短时间高效率且高精度地形成薄膜电阻等元件。该电气膜体的制造方法是将膜体形成为符合所希望的电气特性的形状的电气膜体的制造方法,其具有以下工序在基板层上形成电气膜体的成膜工序,测量在该成膜工序中成膜的电气膜体的面内的电气特性电气特性测量工序;基于在该电气特性测量工序中测量到的电气特性设定电气膜体的形状的电气膜体形状设定工序,以及形成在该电气膜体形状设定工序中所设定的形状的电气膜体的电气膜体形成工序。
  • 电气制造方法
  • [发明专利]电气特性测量装置-CN201380070096.2在审
  • 林义人;胜本洋一;马尔科雷勒·布兰;豊泉徹平 - 索尼公司
  • 2013-12-03 - 2015-09-16 - G01N27/02
  • 提供了一种电气特性测量装置,能够精确地测量血液的电气特性。该电气特性测量装置具有测量单元,该测量单元通过在设置有一个或多个电极对的样本容器的电极对之间施加电压来测量作为测量样本并且填充样本容器的血液的电气特性,该电气特性测量装置设置有旋转机构,该旋转机构将填充有待测量的血液的样本容器旋转至任意角度,以及在借助于旋转机构旋转样本容器的同时通过测量单元在一定时间上测量血液的电气特性,例如,间歇式地以旋转的方式和/或交替地正向旋转和反向旋转。
  • 电气特性测量装置
  • [发明专利]太阳能电池-CN201511022096.2有效
  • 黄莉媚;白文宾 - 财团法人工业技术研究院
  • 2015-12-30 - 2019-11-05 - H01L31/0224
  • 一种太阳能电池,其包括二电极层、一光电转换半导体层以及一第一电气特性调制叠层。光电转换半导体层位于二电极层之间,且第一电气特性调制叠层配置于其中一电极层之上。第一电气特性调制叠层包括相互堆叠的至少一正电荷膜与至少一负电荷膜,且与第一电气特性调制叠层接触的电极层位于第一电气特性调制叠层与光电转换半导体层之间。
  • 太阳能电池
  • [发明专利]电气特性测试方法-CN201711077006.9在审
  • 吕林鸿 - 武汉华星光电半导体显示技术有限公司
  • 2017-11-06 - 2018-04-06 - G01R31/26
  • 本发明公开了一种电气特性测试方法,应用于显示面板,所述显示面板的像素补偿电路包括多个薄膜晶体管,所述方法包括去除所述显示面板中位于待测薄膜晶体管的漏极走线上方的膜层;使用第一激光对所述像素补偿电路中的待测试薄膜晶体管与所述像素补偿电路中的其他薄膜晶体管连接的位置以及所述待测试薄膜晶体管与其他像素电路连接的位置进行切割操作;使用探针扎入探测位置,并向所述探针施加预设电压以对所述待测薄膜晶体管的电气特性进行测试。本发明的电气特性测试方法,可以使得探针更精准地接触到显示区域内的金属层,方便对密集阵列显示区域内的薄膜晶体管器件进行电气特性测试与评价,还可以避免其他薄膜晶体管带来的漏电,影响测试结果。
  • 电气特性测试方法
  • [发明专利]电气特性测量装置-CN202010661075.X在审
  • 池田大辅 - 日置电机株式会社
  • 2020-07-10 - 2021-02-05 - G01R31/12
  • 本发明提供试验操作更加简单便利的电气特性测量装置;本发明具备第一试验引线(1)、第二试验引线(2)、壳体(4)、电气特性测量单元(5)以及闸门(6),第一试验引线(1)具有第一插入部(10)、卡合凸部(11)以及第一连接部(12),第二试验引线(2)具有第二插入部(20)和第二连接部(22),壳体(4)具有第一插入孔(41)和第二插入孔(42),电气特性测量单元(5)具有第一连接端子部(51)和第二连接端子部
  • 电气特性测量装置

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