专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]一种即时的氧化氮化氧化薄膜的可靠性检测方法-CN201210162915.3在审
  • 张孟;张凌越;王慧 - 上海宏力半导体制造有限公司
  • 2012-05-24 - 2013-12-04 - H01L21/66
  • 本发明公开一种即时的氧化氮化氧化薄膜的可靠性检测方法,在晶圆上完成氧化氮化氧化薄膜的生长工艺后即进行本检测方法;该方法包含:1、从晶圆加工腔中取出分别位于顶部、中部和底部的三片控制晶圆;2、分别对位于顶部、中部和底部的三片控制晶圆上生长的氧化氮化氧化薄膜薄膜表面粗糙度进行分析;3、通过氧化氮化氧化薄膜薄膜表面粗糙度的分析结果,判断氧化氮化氧化薄膜的可靠性。本发明在晶圆上生长氧化氮化氧化薄膜后,即时对控制晶圆上氧化氮化氧化薄膜薄膜表面粗糙度进行分析,即时检测氧化氮化氧化薄膜的可靠性,使氧化氮化氧化薄膜可靠性的检测工艺更快捷和方便。
  • 一种即时氧化物氮化物薄膜可靠性检测方法
  • [发明专利]金属氧化薄膜晶体管及其制备方法-CN201410019642.6在审
  • 徐苗;赵铭杰;罗东向;徐华;邹建华;陶洪;王磊;彭俊彪 - 广州新视界光电科技有限公司
  • 2014-01-16 - 2014-04-09 - H01L29/786
  • 一种金属氧化薄膜晶体管及其制备方法,金属氧化薄膜晶体管含有由下层金属氧化薄膜、铜基薄膜和上层金属氧化薄膜以自下而上叠层构成的复合铜基薄膜,上层金属氧化薄膜和下层金属氧化薄膜均为金属氧化薄膜;其中,下层金属氧化薄膜作为铜基薄膜的粘附层并作为金属氧化薄膜晶体管的有源层,铜基薄膜作为金属氧化薄膜晶体管的源漏电极,上层金属氧化层为铜基薄膜的保护层。该金属氧化薄膜晶体管使用一块灰度掩膜版通过一次光刻工艺完成有源层和源漏电极及其电路布线的定义,简化了金属氧化薄膜晶体管的制备工艺。本发明采用低布线电阻的铜基薄膜作为布线材料,具有制备工艺简单的特点。
  • 金属氧化物薄膜晶体管及其制备方法
  • [发明专利]薄膜晶体管-CN202080046208.0在审
  • 李栽玩;金容玹;朴昶均;李东奂 - 周星工程股份有限公司
  • 2020-07-03 - 2022-02-01 - H01L29/10
  • 本发明涉及一种薄膜晶体管,尤其涉及使用金属氧化薄膜作为主动层的薄膜晶体管;薄膜晶体管包含栅极绝缘膜以及形成于源极及漏极电极之间的主动层,其中主动层包含:第一金属氧化薄膜、第二金属氧化薄膜及第三金属氧化薄膜;第二金属氧化薄膜被提供于第一金属氧化薄膜与栅极绝缘膜之间,并且相较于第一金属氧化薄膜具有较低的导电率;第三金属氧化薄膜被提供于第一金属氧化薄膜与源极及漏极电极之间,并且相较于第一金属氧化薄膜具有较低的导电率
  • 薄膜晶体管
  • [发明专利]一种金属氧化叠层场效应电极-CN201810695140.3有效
  • 吕正红;张涛;王登科 - 云南大学
  • 2018-06-29 - 2019-09-06 - H01L51/52
  • 本发明公开了一种金属氧化叠层场效应电极。该金属氧化叠层场效应电极包括多个金属条和金属氧化叠层薄膜,金属氧化叠层薄膜的第一金属氧化薄膜材料的禁带宽度小于3eV;第二金属氧化薄膜材料的禁带宽度大于3eV;第三金属氧化薄膜材料的禁带宽度小于3eV;第二金属氧化薄膜材料的禁带宽度与第一金属氧化薄膜材料的禁带宽度的差值大于1eV;第二金属氧化薄膜材料的禁带宽度与第三金属氧化薄膜材料的禁带宽度的差值大于1eV;第一金属氧化薄膜、所述第二金属氧化薄膜和所述第三金属氧化薄膜的厚度小于或等于采用本发明的金属氧化叠层场效应电极,具有光透过率高、场致导电性能好的优点。
  • 金属氧化物薄膜金属氧化物禁带电极场效应叠层叠层薄膜导电性能光透过率金属条场致
  • [发明专利]一种金属氧化薄膜及其制备方法、薄膜晶体管-CN202210873040.1有效
  • 栗旭阳;弥谦;梁海锋;裴旭乐;赵元杰;张维佳 - 西安工业大学
  • 2022-07-21 - 2023-04-18 - H01L21/34
  • 本发明关于一种金属氧化薄膜及其制备方法、薄膜晶体管。其中,金属氧化薄膜的制备方法包括:在设定相对湿度的制备环境中,使金属氧化前驱液在基片上形成金属氧化湿膜,并对金属氧化湿膜进行预退火处理得到预固化金属氧化薄膜;对预固化金属氧化薄膜进行等离子处理得到等离子激活的金属氧化薄膜;对等离子激活的金属氧化薄膜进行后退火处理得到金属氧化薄膜。本发明通过制备环境相对湿度与预退火处理温度的相互配合,实现对预固化金属氧化薄膜毛细流动性和疏松程度的调控,从而在保证甚至进一步扩大等离子激活工艺可调谐范围以及等离子处理对预固化薄膜低温激活效果的基础上,提高金属氧化薄膜的抗等离子刻蚀损伤能力。
  • 一种金属氧化物薄膜及其制备方法薄膜晶体管
  • [发明专利]铟锡氧化薄膜的回收方法以及基板的回收方法-CN201010513266.8有效
  • 郑钧文;陈豊涵;赖英杰 - 友达光电股份有限公司
  • 2010-10-12 - 2011-04-27 - C22B7/00
  • 一种铟锡氧化薄膜的回收方法。首先,提供一待回收,此待回收具有一铟锡氧化薄膜,接着,使一碱液与铟锡氧化薄膜接触,以使铟锡氧化薄膜自待回收剥离并混合于碱液中,其中碱液的成分包括氢氧化钾及/或氢氧化钠。之后,收集剥离的铟锡氧化薄膜与碱液的混合,并自铟锡氧化薄膜与碱液的混合中过滤而取得含铟的粉末。本发明另提供一种基板的回收方法。本发明采用碱液与铟锡氧化薄膜接触,使铟锡氧化薄膜自待回收上剥离而混合于碱液中,以达到铟锡氧化薄膜或基板回收的目的。
  • 氧化物薄膜回收方法以及

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