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- [发明专利]光调制装置-CN201980067505.0在审
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诺伯特·莱斯特
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视瑞尔技术公司
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2019-07-01
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2021-06-01
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G02F1/1347
- 本发明涉及一种用于线性偏振入射光的复值调制的光调制装置,该光调制装置包括第一光调制器(12)、随后设置的第二光调制器(13)和至少一个偏振器(14),其中第一光调制器(12)和第二光调制器(13)配置为相位调制器,其中第一光调制器(12)的调制轴(21)与第二光调制器(13)的调制轴(21)成角度地排列,其中入射在第一光调制器(12)上的光(10)的偏振方向(20)和偏振器(14)的偏振方向(20)相对于第一光调制器(12)的调制轴(21)和第二光调制器(13)的调制轴(21)分别以预定的非90°的角度排列。
- 调制装置
- [发明专利]相移器及硅基电光调制器-CN201811134136.6有效
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涂芝娟;汪巍;方青;余明斌
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上海新微技术研发中心有限公司
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2018-09-27
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2023-08-01
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G02F1/015
- 本发明提供一种相移器及硅基电光调制器,相移器包括:第一掺杂类型半导体层;第二掺杂类型半导体层,与第一掺杂类型半导体层间隔排布;第一介质层,位于第一掺杂类型半导体与第二掺杂类型半导体层之间;第二介质层,位于第一介质层与第二掺杂类型半导体层之间;插入材料层,位于第一介质层与第二介质层之间,插入材料层在外部驱动电压的作用下产生负电容效应。本发明的相移器通过增设在外部驱动电压的作用下可以产生负电容效应的插入材料层,负电容效应可使得相移器内部电压得到放大,当相移器用于硅基电光调制器时,可以减小硅基电光调制器正常工作所需的外部驱动电压,大大提高硅基电光调制器的调制效率,降低硅基电光调制器的功耗。
- 相移电光调制器
- [发明专利]一种电光调制器线性度测试装置-CN200810226744.X有效
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王学锋;王巍;于海成;高峰;王军龙
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中国航天时代电子公司
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2008-11-21
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2009-04-15
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G01M11/02
- 一种电光调制器线性度测试装置,当被测电光调制器为强度调制器时,光源光波送入被测电光调制器,调制信号发生器产生调制信号送入被测电光调制器、第一和第二解调电路,测试信号发生器产生测试信号送入被测电光调制器和第一解调电路,在被测电光调制器内,调制信号使两光波产生调制相位差,测试信号使两光波产生测试相位差,两光波干涉后送入探测器,经光电转换后送至第二解调电路,第一解调电路获取测试信号大小,第二解调电路获取测试相位差;当被测电光调制器为Y波导集成光学器件时,光源光波经调制用电光调制器后送至被测电光调制器,调制信号发生器调制信号送入调制用电光调制器,测试信号发生器测试信号送入被测电光调制器,其余结构不变化。
- 一种电光调制器线性测试装置
- [发明专利]相位调制解调的高功率倍频单频激光产生装置-CN202010788103.4有效
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冯衍;曾鑫;崔淑珍
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中国科学院上海光学精密机械研究所
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2020-08-07
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2022-04-01
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H01S3/067
- 一种相位调制解调的高功率倍频单频激光产生装置,包括:依次连接的单频激光器(1)、第一相位调制器(2)、光纤放大器(4)、空间隔离器(5)、倍频装置(6)和第二相位调制器(7),还包括信号发生器(3)。其特征在于:所述的信号发生器(3)产生两个形状、频率相同的周期性信号,分别驱动所述第一相位调制器(2)和第二相位调制器(7),两个周期性信号相位差为nπ‑Δφ,n为奇数,Δφ为第二相位调制器(7)和第一相位调制器(2)之间激光传输放大产生的相位延迟,第二相位调制器(7)的调制深度是第一相位调制器(2)的二倍。单频基频光相位调制产生多单频基频光,提升了激光SBS阈值,放大、倍频后得到高功率多单频倍频光,将倍频光相位解调,获得高功率单频倍频光。该方案使单频激光具备相位调制前的倍频线宽特性,还具有结构简单灵活、光束质量好等特点,为高功率单频激光倍频提供了新的方案,具重要的实用价值。
- 相位调制解调功率倍频激光产生装置
- [实用新型]一种高阶调制器-CN202123260551.6有效
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王宗旺;段耀宇;夏晓亮
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杭州芯耘光电科技有限公司
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2021-12-23
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2022-06-10
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G02F1/225
- 本申请披露一种高阶调制器,采用一颗驱动芯片将电信号加载到多段调制器上,复杂的高阶信号无需在电域经驱动芯片合成,而是在调制器光波导合成高阶光信号。具体的高阶调制器包括引导光输入的输入光波导、引导光输出的输出光波导,输入光波导在其光输出端被分为第一调制臂、第二调制臂,光束经第一调制臂、第二调制臂调制加载信号,由输出光波导合束并输出。第一调制臂与第二调制臂分别由至少被分为2段的第一电极、第二电极控制,第一电极提供至少2个电信号加载到第一调制臂,第二电极提供至少2个电信号加载到第二调制臂。
- 一种调制器
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