专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]非易失性存储器-CN200710003743.4无效
  • 魏鸿基;毕嘉慧 - 力晶半导体股份有限公司;株式会社瑞萨科技
  • 2007-01-24 - 2008-07-30 - H01L27/115
  • 一种非易失性存储器,包括基底、多个NAND型存储单元区块、多个虚拟选择栅极线与多个阱区延伸结构。基底中设置有第一导电型阱区。多个NAND型存储单元区块设置于基底上,且在行方向上成镜像配置。NAND型存储单元区块各包括多个存储单元行、多条选择栅极线、多条源极线与多条位线。这些存储单元行配置成行/列阵列,在列的方向上每隔N行存储单元行(N为正整数)设置有两行虚拟存储单元行。每相邻两NAND型存储单元区块的源极线之间设置有两条虚拟选择栅极线。阱区延伸结构设置于两条虚拟选择栅极线之间的基底上,且位于虚拟位线下,并电连接虚拟位线与第一导电型阱区。
  • 非易失性存储器
  • [发明专利]非易失性存储器-CN200580004220.0有效
  • 加藤清 - 株式会社半导体能源研究所
  • 2005-02-04 - 2007-02-21 - G11C16/22
  • 通过在使用具有两个状态的、只能在一个方向上转换的存储元件的OTP型非易失性存储器中使用至少两个存储元件形成用于存储1位数据的存储单元。在使用具有H状态(第一状态)和L状态(第二状态)(下文简称为H和L)且只能在从L至H的一个方向上电转换的存储元件的OTP型非易失性存储器中,通过使用两个或两个以上存储元件形成用于存储1位数据的存储单元。
  • 非易失性存储器
  • [发明专利]非易失性存储器-CN98804054.9无效
  • T·W·王 - 硅芯片公司
  • 1998-04-06 - 2000-05-03 - G11C16/04
  • 一种非易失性存储器单元形成在嵌入的P-阱中,不需要任何迭置的控制栅。结果可以用常规逻辑线路工艺形成非易失性存储器单元。通过使用衬底热电子注入效应和其发射极用作电荷注入的横向双极晶体管,编程效率提高了,并使编程电压和电流与其他器件中较高的电压和电流相比降低了。
  • 非易失性存储器
  • [发明专利]非易失性存储器-CN02824786.8无效
  • 田中英行;大塚隆;森田清之;森本廉 - 松下电器产业株式会社
  • 2002-12-04 - 2005-03-30 - H01L27/10
  • 一种非易失性存储器(1),包括:具有贯通表背面的多个第一电极(15)的绝缘基板(11);在绝缘基板(11)的一方面侧形成的第二电极(12);和夹持在第一电极(15)与第二电极(12)之间,通过在第一电极(15)与第二电极(12)之间加上电脉冲,改变电阻值的记录层(14),在构成单一的存储单元(MC)的区域中,使多个第一电极(15)与记录层(14)电连接。如果利用该非易失性存储器(1),则可以减少消耗功率,能够得到高的设计自由度和可靠性。
  • 非易失性存储器
  • [发明专利]存储设备中的非易失性存储器和易失性存储进行同时存取的技术-CN201680067507.6有效
  • K·A·库查尔;C·C·拉德;R·P·曼戈尔德;S·K·塔卡尔 - 英特尔公司
  • 2016-11-18 - 2021-09-07 - G06F13/16
  • 用于对存储模块设备的存储设备进行存取的技术,包括:接收来自主机的存储读取请求,并且响应于存储读取请求,对存储模块设备的活动非易失性存储器设备的区块进行读取,而同时对存储模块设备的易失性存储设备进行存取易失性存储设备与备用非易失性存储器设备共享存储模块设备的数据总线的数据信号线,该备用非易失性存储器设备与活动非易失性存储器设备的区块相关联。在写入操作期间,对活动非易失性存储器设备的区块中的每个活动非易失性存储器设备和与活动非易失性存储器设备的区块相关联的备用非易失性存储器设备进行写入,以促进非易失性存储器设备的恰当损耗均衡。备用非易失性存储器设备可以替换活动非易失性存储器设备的区块中的失效非易失性存储器设备。在这种情况下,在活动非易失性存储器设备的区块的读取操作期间易失性存储设备不再被同时存取。
  • 存储器设备中的非易失性存储器和易进行同时存取技术
  • [发明专利]非易失性存储器的检测方法及相关设备-CN202110592072.X在审
  • 吕晶 - 西安紫光国芯半导体有限公司
  • 2021-05-28 - 2021-08-17 - G11C29/14
  • 本申请实施例提供了一种非易失性存储器的检测方法及相关设备,其中非易失性存储器的检测方法包括:控制服务模拟非易失性存储器发送设定格式数据;向非易失性存储器发送保存指令,并在非易失性存储器响应于保存指令后,断开非易失性存储器的外部电源;向非易失性存储器发送恢复指令;在监测到非易失性存储器完成恢复动作后,获取非易失性存储器存储的恢复数据,并将恢复数据与设定格式数据进行比对,以得到非易失性存储器的检测结果该非易失性存储器的检测方法检测过程无需依赖于服务,整个检测过程不会涉及到服务的重启,能够节省服务器重启所需的时间,能够大大减小检测非易失性存储器的时间成本,提高非易失性存储器的检测效率。
  • 非易失性存储器检测方法相关设备
  • [发明专利]主机及其存储模块和存储控制-CN202011396081.3在审
  • 毕鉴忠 - 毕鉴忠;山东存储之翼电子科技有限公司
  • 2020-12-03 - 2022-05-06 - G06F13/16
  • 本发明提供一种不具有控制且不具有内置电源的存储模块和其存储控制存储模块包含连接部分、第一非易失性存储器芯片以及第二非易失性存储器芯片。母板的存储控制通过连接部分由第一非易失性存储器芯片的本地接口存取第一非易失性存储器芯片。第二非易失性存储器芯片配置成存储第一非易失性存储器芯片的元数据的至少一个指针。第二非易失性存储器芯片的存储类型不同于第一非易失性存储器芯片的存储类型。存储控制通过连接部分存取存储在第二非易失性存储器芯片中的指针。
  • 主机及其存储器模块控制器
  • [发明专利]存储装置-CN202010766527.0在审
  • 金熙城;申铉旭 - 三星电子株式会社
  • 2020-08-03 - 2021-02-09 - G11C13/00
  • 本发明提供了一种存储装置,其包括第一非易失性存储器装置、第二非易失性存储器装置和数据线。第二非易失性存储器装置具有与第一非易失性存储器装置不同的类型。数据线被第一非易失性存储器装置和第二非易失性存储器装置共享。通过数据线将第一数据同时提供至第一非易失性存储器装置和第二非易失性存储器装置,将第一数据写入至第二非易失性存储器装置,并且通过从第二非易失性存储器装置读取第一数据并将读取的第一数据提供至第一非易失性存储器装置将第一数据再编程至第一非易失性存储器装置中
  • 存储装置
  • [发明专利]存储系统-CN202210008664.7在审
  • 关川静香 - 铠侠股份有限公司
  • 2022-01-06 - 2023-02-17 - G06F3/06
  • 本发明的一个实施方式提供能够适当地控制对非易失性存储器的访问的存储系统。存储系统具备非易失性存储器和控制非易失性存储器至少包括存储芯片。控制电连接于非易失性存储器,在向非易失性存储器发送包括第1指示和第2指示的序列的情况下,当非易失性存储器满足条件时,向非易失性存储器发送第1指示,在经过了第1期间之后,向非易失性存储器发送第2指示,在非易失性存储器不满足条件的情况下,向非易失性存储器发送第1指示,在经过了与第1期间不同的第2期间之后,向非易失性存储器发送第2指示。
  • 存储器系统

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