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- [发明专利]非易失性存储器-CN200710003743.4无效
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魏鸿基;毕嘉慧
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力晶半导体股份有限公司;株式会社瑞萨科技
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2007-01-24
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2008-07-30
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H01L27/115
- 一种非易失性存储器,包括基底、多个NAND型存储单元区块、多个虚拟选择栅极线与多个阱区延伸结构。基底中设置有第一导电型阱区。多个NAND型存储单元区块设置于基底上,且在行方向上成镜像配置。NAND型存储单元区块各包括多个存储单元行、多条选择栅极线、多条源极线与多条位线。这些存储单元行配置成行/列阵列,在列的方向上每隔N行存储单元行(N为正整数)设置有两行虚拟存储单元行。每相邻两NAND型存储单元区块的源极线之间设置有两条虚拟选择栅极线。阱区延伸结构设置于两条虚拟选择栅极线之间的基底上,且位于虚拟位线下,并电连接虚拟位线与第一导电型阱区。
- 非易失性存储器
- [发明专利]非易失性存储器的检测方法及相关设备-CN202110592072.X在审
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吕晶
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西安紫光国芯半导体有限公司
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2021-05-28
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2021-08-17
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G11C29/14
- 本申请实施例提供了一种非易失性存储器的检测方法及相关设备,其中非易失性存储器的检测方法包括:控制服务器模拟器向非易失性存储器发送设定格式数据;向非易失性存储器发送保存指令,并在非易失性存储器响应于保存指令后,断开非易失性存储器的外部电源;向非易失性存储器发送恢复指令;在监测到非易失性存储器完成恢复动作后,获取非易失性存储器中存储的恢复数据,并将恢复数据与设定格式数据进行比对,以得到非易失性存储器的检测结果该非易失性存储器的检测方法检测过程无需依赖于服务器,整个检测过程不会涉及到服务器的重启,能够节省服务器重启所需的时间,能够大大减小检测非易失性存储器的时间成本,提高非易失性存储器的检测效率。
- 非易失性存储器检测方法相关设备
- [发明专利]存储装置-CN202010766527.0在审
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金熙城;申铉旭
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三星电子株式会社
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2020-08-03
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2021-02-09
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G11C13/00
- 本发明提供了一种存储装置,其包括第一非易失性存储器装置、第二非易失性存储器装置和数据线。第二非易失性存储器装置具有与第一非易失性存储器装置不同的类型。数据线被第一非易失性存储器装置和第二非易失性存储器装置共享。通过数据线将第一数据同时提供至第一非易失性存储器装置和第二非易失性存储器装置,将第一数据写入至第二非易失性存储器装置,并且通过从第二非易失性存储器装置读取第一数据并将读取的第一数据提供至第一非易失性存储器装置将第一数据再编程至第一非易失性存储器装置中
- 存储装置
- [发明专利]存储器系统-CN202210008664.7在审
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关川静香
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铠侠股份有限公司
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2022-01-06
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2023-02-17
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G06F3/06
- 本发明的一个实施方式提供能够适当地控制对非易失性存储器的访问的存储器系统。存储器系统具备非易失性存储器和控制器。非易失性存储器至少包括存储器芯片。控制器电连接于非易失性存储器,在向非易失性存储器发送包括第1指示和第2指示的序列的情况下,当非易失性存储器满足条件时,向非易失性存储器发送第1指示,在经过了第1期间之后,向非易失性存储器发送第2指示,在非易失性存储器不满足条件的情况下,向非易失性存储器发送第1指示,在经过了与第1期间不同的第2期间之后,向非易失性存储器发送第2指示。
- 存储器系统
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