专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
专利下载VIP
公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
更多 »
专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
更多 »
钻瓜专利网为您找到相关结果9598306个,建议您升级VIP下载更多相关专利
  • [发明专利]数据处理方法、装置、电子设备及计算机可读存储介质-CN202310659113.1在审
  • 曾裕;赖鼐;龚晖 - 珠海妙存科技有限公司
  • 2023-06-05 - 2023-10-13 - G06F3/06
  • 本申请公开了一种数据处理方法、装置、电子设备及计算机可读存储介质,涉及数据处理技术领域,数据处理方法根据第一数据操作请求,检测随机存取存储器的数据存储区的剩余容量能否存储目标映射表;在检测到数据存储区的剩余容量能够存储目标映射表的情况下,将目标映射表存储于数据存储区。本申请实施例的数据处理方法将目标映射表存储随机存取存储器的数据存储区,以使随机存取存储器能够存储更多映射表,当数据操作对应的目标映射表存储随机存取存储器时,在进行数据操作时无需访问闪存存储,因此,随机存取存储器存储更多映射表能够降低访问闪存存储的次数,从而提高数据操作的效率。
  • 数据处理方法装置电子设备计算机可读存储介质
  • [发明专利]半导体存储装置-CN200710162431.8有效
  • 三浦誓士;鲇川一重 - 株式会社日立制作所
  • 2002-06-11 - 2008-02-27 - G11C7/10
  • 本发明提供一种存储容量大且可高速读取、写入的ROM及存储容量大且数据保持电流少的RAM。本发明的半导体存储装置包括:非易失性存储,其具有第1读取时间;随机存取存储器,其具有读取时间较所述第1读取时间短100倍以上的第2读取时间;控制电路,其与所述非易失性存储及所述随机存取存储器连接,用于控制对所述随机存取存储器及所述非易失性存储存取;及多个输入输出端子,与所述控制电路连接,其中所述控制电路按照从所述多个输入输出端子输入的信号,控制所述非易失性存储和所述随机存取存储器之间的数据传送。
  • 半导体存储装置
  • [发明专利]半导体存储装置-CN200710152877.2无效
  • 三浦誓士;鲇川一重 - 株式会社日立制作所
  • 2002-06-11 - 2008-02-20 - G11C11/00
  • 本发明提供一种存储容量大且可高速读取、写入的ROM及存储容量大且数据保持电流少的RAM。本发明的半导体存储装置包括:非易失性存储,其具有第1读取时间;随机存取存储器,其具有读取时间较所述第1读取时间短100倍以上的第2读取时间;控制电路,其与所述非易失性存储及所述随机存取存储器连接,用于控制对所述随机存取存储器及所述非易失性存储存取;及多个输入输出端子,与所述控制电路连接,其中所述控制电路按照从所述多个输入输出端子输入的信号,控制所述非易失性存储和所述随机存取存储器之间的数据传送。
  • 半导体存储装置
  • [发明专利]半导体存储装置-CN200710162432.2无效
  • 三浦誓士;鲇川一重 - 株式会社日立制作所
  • 2002-06-11 - 2008-02-27 - G11C7/10
  • 本发明提供一种存储容量大且可高速读取、写入的ROM及存储容量大且数据保持电流少的RAM。本发明的半导体存储装置包括:非易失性存储,其具有第1读取时间;随机存取存储器,其具有读取时间较所述第1读取时间短100倍以上的第2读取时间;控制电路,其与所述非易失性存储及所述随机存取存储器连接,用于控制对所述随机存取存储器及所述非易失性存储存取;及多个输入输出端子,与所述控制电路连接,其中所述控制电路按照从所述多个输入输出端子输入的信号,控制所述非易失性存储和所述随机存取存储器之间的数据传送。
  • 半导体存储装置
  • [发明专利]低漏电流的动态随机存取存储器及其相关制造方法-CN201710671760.9在审
  • 黄立平 - 钰创科技股份有限公司
  • 2017-08-08 - 2018-02-16 - H01L27/108
  • 本发明公开了一种低漏电流的动态随机存取存储器及其相关制造方法。所述制造方法包含在一基底内形成所述动态随机存取存储器的多个栅极;通过一第一离子注入在所述基底内形成所述动态随机存取存储器的多个漏/源极;及在所述多个漏/源极形成后,通过一第二离子注入在所述多个漏/源极的全部漏/源极或部分漏/源极的下方形成多个轻掺杂漏极,其中所述多个轻掺杂漏极是用来降低所述动态随机存取存储器内的漏电流,且所述第二离子注入具有一预定入射角度。因此,所述多个轻掺杂漏极可有效降低所述动态随机存取存储器的总漏电流。也就是说本发明将可使具有所述动态随机存取存储器的便携式电子产品的待机时间大幅延长。
  • 漏电动态随机存取存储器及其相关制造方法
  • [发明专利]静态随机存取存储器电路稳定性的仿真方法-CN200710126501.4有效
  • 黄艳;黄威森;邵芳 - 中芯国际集成电路制造(上海)有限公司
  • 2007-06-22 - 2008-10-22 - G11C29/50
  • 本发明公开了一种静态随机存取存储器电路稳定性的仿真方法,针对沟道宽度或/和沟道长度与设计尺寸不同的MOS管,至少挑选两个;测量所挑选的MOS管的阈值电压;根据所测量的MOS管的阈值电压建立覆盖阈值电压变化分布的MOS管模型;根据所建立的模型仿真得到不同的输入电压下相应的静态随机存取存储器电路的稳定性参数,得到静态随机存取存储器电路的稳定性随阈值电压变化的关系;根据所建立的模型仿真得到不同的输入电压下,不同沟道宽度或沟道长度的MOS管对应的静态随机存取存储器电路的稳定性参数,得到静态随机存取存储器电路的稳定性随沟道宽度或沟道长度变化的关系。本发明静态随机存取存储器电路稳定性的仿真方法结果更精确。
  • 静态随机存取存储器电路稳定性仿真方法
  • [发明专利]静态随机存取存储器的操作电压的调整方法-CN200810185911.0有效
  • 郭建利;刘复晁;侯俊良;谢明进 - 联华电子股份有限公司
  • 2008-12-16 - 2010-06-23 - G11C29/00
  • 一种可达到最佳化静态随机存取存储器的最小操作电压的调整方法,其中的静态随机存取存储器接收外设电路电压及存储单元电压,其步骤包括:首先针对静态随机存取存储器进行许目测试,藉以获得许目测试图及最小操作电压。比较最小操作电压与预设规格,并在许目测试图上外设电路电压等于存储单元电压的线上定位出预设规格所在的规格定位点。固定外设电路电压或存储单元电压的其中之一,并递减外设电路电压或存储单元电压的另一,藉以针对静态随机存取存储器进行测试,并获得失效位数分布。最后,依据规格定位点以及失效位数分布调整静态随机存取存储器的制程参数。
  • 静态随机存取存储器操作电压调整方法
  • [发明专利]控制动态随机存取存储器的方法-CN200810132305.2无效
  • 吕文闵;洪斌峰;黄明松 - 钰创科技股份有限公司
  • 2008-07-09 - 2008-12-24 - G11C11/4078
  • 本发明提供了一种控制一动态随机存取存储器的方法,所述方法包含检测所述动态随机存取存储器中损坏的存储单元、纪录损坏的存储单元所对应的列地址、接收一控制指令以存取所述动态随机存取存储器中第X行、第Y列的存储单元、检测所述第Y列是否属于所纪录损坏的存储单元所对应的列地址,若当所述第Y列属于所纪录损坏的存储单元所对应的列地址中之一,将所欲存取存储单元改为第X行、第Z列的存储单元,而Z不等于Y。本发明提供的控制动态随机存取存储器的方法,不仅能够提升动态随机存取存储器的寿命,对使用者来说,也节省了许多成本。
  • 控制动态随机存取存储器方法
  • [发明专利]一种数据存储方法、固态硬盘、主机及储存系统-CN201711455700.X有效
  • 李创锋;梁启峰 - 深圳市金泰克半导体有限公司
  • 2017-12-28 - 2020-11-10 - G06F3/06
  • 本发明实施例公开了一种数据存储方法、固态硬盘、主机及储存系统,其中方法包括:将固态硬盘的动态随机存取存储器映射为主机中的虚拟磁盘;若接收到对虚拟磁盘的操作,向固态硬盘的控制单元发送操作指令,以使控制单元对应操作动态随机存取存储器通过将固态硬盘中的动态随机存取存储器映射为主机中的虚拟磁盘,可实现了将主机中需要频繁更新的临时数据存储在动态随机存取存储器中,从而极大地提高数据的读写速度,提升了系统的性能。并且,将临时数据频繁地存储在动态随机存取存储器中并不会对固态硬盘的寿命产生影响,从而可使得固态硬盘的使用寿命更长。
  • 一种数据存储方法固态硬盘主机储存系统

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

400-8765-105周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top