专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [实用新型]一种闪烁体测试定位工装-CN202122899702.6有效
  • 成玉磊;董自勇;陶洋超 - 江苏尚飞光电科技股份有限公司
  • 2021-11-24 - 2022-05-13 - G01T7/00
  • 本申请涉及闪烁体安装技术领域,一种闪烁体测试定位工装,包括闪烁体夹具、PCB基板和PD芯片;闪烁体夹具为“U”型结构,包括夹具基板和对称分布的侧挡板,且闪烁体夹具上设有固定孔,夹具基板的背面开设有芯片槽,且芯片槽顶部与闪烁体夹具的“U”型结构的内底部贯通,芯片槽的底面设有条状贯穿孔,PD芯片固定安装在PCB基板上,PCB基板上设有与闪烁体夹具上固定孔对应的穿孔,且两者通过螺丝固定连接;PCB基板上还固定有限位块本申请方便闪烁体拆装,又可提高测试效率和测试精度。
  • 一种闪烁测试定位工装
  • [实用新型]一种射频及微波芯片测试夹具-CN201720126521.0有效
  • 李冉;王伟旭;黄旭;杨川 - 成都天衡电科科技有限公司
  • 2017-02-13 - 2017-08-15 - G01R1/04
  • 本实用新型涉及射频微波技术领域,具体涉及一种射频及微波芯片测试夹具,包括底座,底座上至少设置有一个测试通道;测试通道包括芯片放置槽和位于芯片放置槽两侧的第一微带电路和第二微带电路,当待测芯片放置在芯片放置槽中时,第一微带电路的一端与待测芯片测试输入端连接,另一端作为夹具的输入端;第二微带电路的一端与待测芯片测试输出端连接,另一端作为夹具的输出端。本实用新型通过定位块和下压装置可以快速压接芯片,无需焊接即可保证待测芯片引脚电接触良好,进一步提高测试的效率和准确度。
  • 一种射频微波芯片测试夹具
  • [实用新型]一种芯片的老化测试装置-CN201920602039.9有效
  • 林先海;高峰;许祥滨 - 泰斗微电子科技有限公司
  • 2019-04-28 - 2020-04-24 - G01R31/28
  • 本实用新型涉及电子技术领域,提供了一种芯片的老化测试装置,该芯片的老化测试装置包括第一电源模块、第二电源模块、信号激励模块及测试板;第一电源模块包括第一预设数目个第一电源单元,测试板上设置有晶振模块、第一预设数目个第一指示模块及第一预设数目个用于放置待测芯片测试夹具,每个第一电源单元为与其连接的测试夹具中的待测芯片进行供电,每个第一指示模块基于与其连接的测试夹具测试端输出的测试信号,输出用于标识待测芯片工作状态的工作状态指示信号。上述芯片的老化测试装置为每个待测芯片分别配置了独立的电源,即每个待测芯片由与其连接的第一电源单元独立供电,从而能够使得多个待测芯片之间的老化测试过程互不影响。
  • 一种芯片老化测试装置
  • [发明专利]芯片测试系统-CN201410153879.3在审
  • 王锐;夏群 - 成都先进功率半导体股份有限公司
  • 2014-04-16 - 2014-09-17 - G01R31/26
  • 本发明公开了一种芯片测试系统,包括用于对芯片进行测试的晶体管图示仪,与晶体管图示仪电连接的芯片测试座,芯片测试座包括基座,所述基座下表面设置至少一对用于插接连接晶体管图示仪的引脚,所述一对引脚与晶体管图示仪上的一组测试插孔适配;所述基座上表面设置有第一拨码开关、第二拨码开关和芯片夹具,一对引脚中的一个引脚与所述第一拨码开关电性连接,第一拨码开关与芯片夹具电性连接,芯片夹具与第二拨码开关电性连接,所述第二拨码开关与所述一对引脚中的另一个引脚电性连接本发明的芯片测试系统使得芯片测试操作简单,测试效率高。
  • 芯片测试系统
  • [发明专利]一种PTC加热器芯片自动上料检测设备-CN202210461514.1在审
  • 黄启焜 - 福建坤华智能装备有限公司
  • 2022-04-28 - 2022-07-29 - B07C5/02
  • 本发明公开了一种PTC加热器芯片自动上料检测设备,包括两套上料搬运机构、转盘式输送机构、阻值测试机构、芯片叠装机构和CCD检测装置,两套上料搬运机构用于将放置在治具盒中的加热器芯片搬运至输送转盘式输送机构上的芯片定位夹具中,阻值测试机构用于活动接触加热器芯片测量阻值,芯片叠装机构将芯片定位夹具中已测试的加热器芯片取下,将测试不合格的加热器芯片放置于不良品盒中、将合格的加热器芯片装配到倍速链随行夹具中放置的塑座框架内,CCD检测装置用于检测倍速链随行夹具塑座框架内装配的加热器芯片是否符合要求。本发明能够可靠实现PTC加热器芯片自动上料及检测,测试准确可靠,能够满足大批量生产时自动上料需求。
  • 一种ptc加热器芯片自动检测设备
  • [发明专利]半导体激光器芯片频率响应的测量方法-CN03107378.6无效
  • 徐遥;王圩 - 中国科学院半导体研究所
  • 2003-03-25 - 2004-09-29 - H01S5/00
  • 一种半导体激光器芯片频率响应的测量方法,包括如下步骤:制作微带线;制作测试和校准用金属底板;将微带线焊接在金属底板上,并焊上与矢量网络分析仪匹配的射频同轴连接器和匹配电阻,做成测试夹具和校准夹具;把焊在热沉上的芯片焊在测量夹具上制成被测器件;用矢量网络分析仪加光探测器测量被测器件的频率响应;测量校准夹具的频率响应;测量校准夹具的频率响参数;用下列公式求出测试夹具的转移矩阵;得到测试夹具的频率响应;利用测试系统测出被测器件的网络参数即被测器件的频率响应,减去测试夹具的频率响应得到芯片的频率响应。
  • 半导体激光器芯片频率响应测量方法
  • [发明专利]一种检测装置、检测方法及自动化检测系统-CN201810865926.5有效
  • 何瑞日 - 上海移远通信技术股份有限公司
  • 2018-08-01 - 2020-12-29 - G01R31/28
  • 本发明实施例涉及芯片检测技术领域,公开了一种检测装置、检测方法及自动化检测系统。该检测装置包括:测试夹具、检测电路和待检测芯片;检测电路包括至少N个测试探针,待检测芯片包括至少M个接地引脚;其中,M、N均为大于等于3的正整数,且N大于M;待检测芯片通过测试夹具与检测电路电连接,测试探针设置于测试夹具的底部,其中,待检测芯片中至少M个接地引脚不在同一边;若M个接地引脚分别与M个测试探针连接,检测电路确定待检测芯片被放置到位;若M个接地引脚不能分别与M个测试探针连接,检测电路确定待检测芯片未被放置到位。本发明中,使得在芯片检测过程中通过检测电路实现对芯片放置状况的检测,保证芯片正确放置在检测装置。
  • 一种检测装置方法自动化系统
  • [实用新型]测序芯片夹具-CN201620228845.0有效
  • 覃楚武;于立婷 - 上海小海龟科技有限公司
  • 2016-03-23 - 2016-09-21 - B01L9/00
  • 本实用新型涉及一种测序芯片夹具,该测序芯片夹具包含对带有芯片测试座的基板进行固定的基座、对测试模块进行固定的第一滑块、第二滑块。其中,第一、第二滑块分别位于基座的两侧并通过导向轴相互连接。测序芯片夹具还包含:传送工装、隔开件、驱动机构。其中,驱动机构在带动隔开件将第二滑块与基座相互分离时,芯片被传送工装传送至第一滑块与基座之间,并在隔开件被带动至终止位置时,第一滑块带动测试模块将测试芯片压入基板上的芯片测试座内。同现有技术相比,驱动机构可通过隔开件使得第二滑块带动第一滑块向基座靠拢,从而使得测试模块可将测试芯片压入基板上的芯片测试座内,进而可实现对芯片的精准定位,以满足测试的要求。
  • 芯片夹具
  • [发明专利]一种新一代CIR自动测试夹具及其实现方法-CN202010795656.2在审
  • 李臻;冯卓;赵堃 - 天津七一二通信广播股份有限公司
  • 2020-08-10 - 2020-10-27 - B25B11/00
  • 本发明公开了一种新一代CIR自动测试夹具及其实现方法,测试夹具包括开关电源芯片、低压差线性稳压芯片、CAN隔离收发器芯片、以太网交换芯片、CODEC芯片、处理器芯片、储存器芯片测试夹具与指定的测试仪表完成对列车综合无线通信设备的测试校准工作;通过CAN总线控制列车综合无线通信设备进入测试项并交互数字音频数据,通过以太网控制测试仪表进入测试项并返回测试结果数据,通过同轴音频接口发送给测试仪表解调的音频和接收测试仪表发来的待调制音频;同时测试仪表通过射频同轴线连接列车综合无线通信设备的收发接口;实现在无专业测试人员的现场完成对列车综合无线通信设备的测试,加快了测试速度,提高了校准结果的一致性。
  • 一种新一代cir自动测试夹具及其实现方法
  • [实用新型]铁路新一代CIR自动测试夹具-CN202021643414.3有效
  • 李臻;冯卓;赵堃 - 天津七一二通信广播股份有限公司
  • 2020-08-10 - 2021-03-02 - B25B11/00
  • 本实用新型公开了一种铁路新一代CIR自动测试夹具测试夹具包括开关电源芯片、低压差线性稳压芯片、CAN隔离收发器芯片、以太网交换芯片、CODEC芯片、处理器芯片、储存器芯片测试夹具与指定的测试仪表完成对列车综合无线通信设备的测试校准工作;通过CAN总线控制列车综合无线通信设备进入测试项并交互数字音频数据,通过以太网控制测试仪表进入测试项并返回测试结果数据,通过同轴音频接口发送给测试仪表解调的音频和接收测试仪表发来的待调制音频;同时测试仪表通过射频同轴线连接列车综合无线通信设备的收发接口;实现在无专业测试人员的现场完成对列车综合无线通信设备的测试,加快了测试速度,提高了校准结果的一致性。
  • 铁路新一代cir自动测试夹具
  • [实用新型]芯片测试机的托盘夹结构-CN201120461930.9有效
  • 金英杰 - 金英杰
  • 2011-11-18 - 2012-10-24 - G01R1/04
  • 本实用新型涉及芯片测试机领域,尤其是芯片测试机的托盘夹结构。安装于托盘夹输送导轨上,包括一固定于托盘夹输送导轨上的支架,所述的支架上安装有一汽缸,汽缸顶部连接一上夹具,所述的导轨内侧面设有一下夹具,汽缸驱动上夹具向下夹具偏移形成夹紧。本实用新型的芯片测试机的托盘夹结构在使用托盘进给待检测芯片时,在进行检测的过程中可以使用汽缸驱动上夹具下压配合下夹具夹紧托盘,将托盘固定住,避免了检测过程中的托盘振动,从而消除了其他位置的待检测芯片的位置偏移,保证了芯片进给的稳定性,提高了芯片检测的准确性。
  • 芯片测试托盘结构
  • [发明专利]一种基于导电胶夹具的射频器件测试系统及方法-CN202010278987.9在审
  • 王耀利;程亚昊;王志斌;李孟委;张翀;张凯旗 - 中北大学
  • 2020-04-10 - 2020-06-12 - G01R1/04
  • 本发明属于射频器件测试系统技术领域,具体涉及一种基于导电胶夹具的射频器件测试系统及方法,所述射频器件工作系统包括供电电源、射频器件夹具、射频PCB测试板,所述射频PCB测试板上设置有供电部分,所述供电电源通过供电部分与射频PCB测试板连接,所述射频器件夹具设置在射频PCB测试板上;所述射频芯片控制板通过导线与供电电源连接,所述射频芯片控制板通过控制端口连接有射频PCB测试板,所述矢量网络分析仪通过同轴连接器与射频PCB测试板连接本发明可以在不损坏射频芯片的情况下,对有封装的芯片进行测试测试成本低,有利于批量射频芯片测试。本发明用于射频器件的测试
  • 一种基于导电夹具射频器件测试系统方法
  • [发明专利]基于激光器测试的温度校准方法、仪器及系统-CN202210244333.3在审
  • 马超;唐朋;黄秋元;周鹏 - 武汉普赛斯电子技术有限公司
  • 2022-03-14 - 2022-04-12 - G01R31/28
  • 本申请实施例公开了一种基于激光器测试的温度校准方法、仪器及系统,本申请提供的温度校准方法,可应用于温度校准仪器,温度校准仪器的温控端口与夹具内部的发热元件电连接,夹具夹持待测激光器芯片,待测激光器芯片的预设位置放置有特制合金物件,该方法包括:获取待测激光器芯片的待校准的测试温度,待校准的温度为待测激光器芯片进行测试时预先设置的需要达到的测试温度,待校准的测试温度与特制合金物件的熔点与相同;通过温控端口输出温控信息至夹具内部的发热元件,以加热夹具;检测特制合金物件是否熔化;当检测到特制合金物件熔化,获取夹具的当前温度。本申请实施例旨在提高老化测试时,待测激光器芯片的温度测量的准确性。
  • 基于激光器测试温度校准方法仪器系统

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