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[发明专利]一种用于多种芯片的导电胶夹具-CN202011123699.2在审
发明人：王耀利;程亚昊;王志斌;李孟委;张翀;张凯旗 -专利权人：中北大学南通智能光机电研究院
申请日： 2020-10-20 - 公布日： 2021-01-29 - 主分类号： B25B11/00 文献下载
摘要：本发明属于微波测试技术领域，具体涉及一种用于多种芯片的导电胶夹具，所述大射频PCB测试板设置在夹具底座上，所述大射频PCB测试板上设置有带有放射频芯片夹具小射频PCB测试板，所述带有放射频芯片夹具小射频PCB测试板上设置有夹具盖，所述夹具底座与夹具盖铰接，所述大射频PCB测试板、带有放射频芯片夹具小射频PCB测试板通过夹具底座与夹具盖压合。本发明可以通过不断的更换相应的小射频PCB测试板进行测试，无需多次进行线路的连接，节省时间，易于操作；本发明通过限位凸台可以很好的解决大小射频PCB测试板的贴合不准的问题。本发明通过按压块可以很好的解决大小射频PCB测试板的贴合不充分的问题。本发明用于射频芯片的测试。
一种用于多种芯片导电夹具

[发明专利]一种防呆测试机台-CN202011212960.6在审
发明人：陈正伟;王建;夏子阳;胡波 -专利权人：昆山丘钛生物识别科技有限公司
申请日： 2020-11-02 - 公布日： 2021-03-12 - 主分类号： G06K17/00 文献下载
摘要：本发明提供的一种防呆测试机台，包括：多个软件工位、主机、多个测试夹具；多个软件工位通过所述主机与多个所述测试夹具连接；每个测试夹具上设置有一IC芯片；所述软件工位与所述测试夹具预配对；在待测试的软件工位和与其配对的测试夹具通讯时，通过软件工位对IC芯片信息进行读取识别，可确定待测试的软件工位与测试夹具是否匹配；若否，则生成串工位的提示信息。本发明可对IC芯片中的IC芯片信息进行识别以确定测试夹具和待测试的软件工位是否匹配从而识别是否出现串工位的问题。
一种测试机台

[发明专利]具有芯片测试环境温度检测功能的芯片测试系统-CN202010683874.7在审
发明人：钱向东;张亦锋;袁俊;卢旭坤;郑朝生;徐长文;辜诗涛 -专利权人：广东利扬芯片测试股份有限公司
申请日： 2020-07-15 - 公布日： 2020-10-27 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：本发明公开一种具有芯片测试环境温度检测功能的芯片测试系统，包括测试机、测试电路板、测试夹具、搬运装置以及温度计，温度计与测试机通讯连接，测试夹具开设有贯穿其内外表面的贯穿孔，温度计的探头由贯穿孔伸入测试夹具以采集测试夹具内的温度信息，并将温度信息传送至测试机，测试机将温度信息写入对应的被测芯片。本发明实现了芯片测试环境温度的监控，提高了芯片的测试质量，降低了后段的封装成本，同时也保证芯片的应用质量。而且，测试机将温度信息写入对应的被测芯片，后期可以追溯芯片的测试环境温度。
具有芯片测试环境温度检测功能系统

[发明专利]芯片测试夹具及芯片测试夹具组合-CN202110951867.5有效
发明人：朱魏;龙华 -专利权人：深圳飞骧科技股份有限公司
申请日： 2021-08-19 - 公布日： 2021-12-03 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：本申请提供一种芯片测试夹具及芯片测试夹具组合。所述芯片测试夹具包括：EVB板，中央设置凹槽；一组测试接口，设置于所述EVB板上；数据传输接口，设置于所述EVB板上；一组电源接口，设置于所述EVB板上。相比传统的三块夹具而言，只需要一块芯片测试夹具即可获得去嵌文件，更方便快捷。
芯片测试夹具组合

[实用新型]积分球测试夹具-CN201922151865.9有效
发明人：何玉建;邵文良 -专利权人：江西省晶能半导体有限公司
申请日： 2019-12-05 - 公布日： 2020-10-27 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：本实用新型提供了一种积分球测试夹具，包括：夹具本体；用于放置待测试芯片的凹槽，凹槽位于夹具本体的上端面，且外形与待测试芯片匹配；用于对待测试芯片进行性能测试的多个测试探针，多个测试探针位于凹槽底部，且各测试探针的端面位于同一水平面；于凹槽底部设置的真空腔及连接真空腔的真空管；于夹具本体底部与多个测试探针连接电源线。测试时将芯片置于凹槽内，即能定位芯片的位置又方便取放；测试时芯片底部采用真空吸附，对芯片进行均匀吸附，相对于现有夹具来说，避免了双按钮操作不便的同时，避免了芯片测试过程中因二边侧受压导致报废的情况出现，大大提高了测试精度。
积分测试夹具

[实用新型]一种芯片测试夹具-CN201821409828.2有效
发明人：熊胜齐;李瑞英;许宁;吴刚 -专利权人：广东星星电子科技有限公司
申请日： 2018-08-29 - 公布日： 2019-09-20 - 主分类号： G01R1/04 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种芯片测试夹具，该芯片测试夹具包括放置芯片的承载件以及与所述承载件相适配的夹具底座：所述夹具底座设置有定位槽，所述定位槽用于定位所述承载件于所述底座且放置于所述承载件上的芯片夹设于所述承载件和所述夹具底座之间本实用新型结构简单，通过使用承载件承载芯片，并通过夹具底座和夹具盖板固定，可在测试过程中保证芯片不会产生引脚的偏移导致对位不准的问题，提高了测试的效率和准确率。
承载件夹具底座芯片测试夹具本实用新型芯片定位槽测试过程夹具盖板芯片夹偏移准确率对位适配引脚底座承载测试保证

[实用新型]切割芯片测试装置-CN201320155673.5有效
发明人：董波 -专利权人：深圳市维创光科技有限公司
申请日： 2013-03-30 - 公布日： 2013-08-28 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：本实用新型实施例公开了一种切割芯片测试装置，在现有的芯片测试工位机台上的中心夹具底部安装一个手动或者电动驱动轴承，使的芯片安装夹具可以在工位的中心部位前后形成约10-15CM的范围内前后精密移动，再将芯片切割好条只，将一条条的芯片安装在中心夹具上进行芯片测试，测试出第一个芯片的值之后，再调动装载芯片的中心夹具的传动轴承，切换到第二个芯片进行测试，以此类推，可以测试出整条上面的芯片参数值。进而减少的安装芯片的和拆卸芯片的动作及步骤，提升芯片的测试效率。
切割芯片测试装置

[发明专利]芯片测试方法及系统-CN201610100952.X有效
发明人：周彦杰;郑玲玲;周迁 -专利权人：上海东软载波微电子有限公司
申请日： 2016-02-24 - 公布日： 2019-07-12 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：一种芯片测试方法及系统，所述芯片测试系统包括：芯片夹具、测试板以及测试机，其中：芯片夹具，适于固定进行测试的芯片；对所述芯片进行测试操作，并将所述芯片生成的与所述测试操作对应的反馈信号转发至所述测试板；测试板，与芯片夹具电连接，适于向测试机发送自身的标识信号；以及接收所述反馈信号并转发至所述测试机；测试机，适于向测试板发送测试激励信号；选取与标识信号对应的测试程序段，并向测试板发送与所述测试程序段对应的测试操作信号；根据接收到的所述反馈信号判断芯片是否与所述测试板匹配；并当芯片与测试板不匹配时，向报警装置发出报警指令。采用所述方法及系统，可以避免芯片测试过程中出现混料。
芯片测试方法系统

[实用新型]一种光分路器芯片测试固定夹具-CN201721832998.7有效
发明人：谢燕;刘勇;童严;时尧成;戴道锌 -专利权人：苏州天步光电技术有限公司
申请日： 2017-12-25 - 公布日： 2018-07-20 - 主分类号： G02B7/00 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种光分路器芯片测试固定夹具，包括夹具主体、底座，底座位于夹具主体下部，还包括硅胶套管压条、弹簧螺栓、承载台面；所述硅胶套管压条的两端通过弹簧螺栓连接所述夹具主体上部；所述夹具主体上部平面为承载台面，所述承载台面与硅胶套管压条之间形成用于放置光分路器芯片的空间。本实用新型一种光分路器芯片测试固定夹具，能够简化光分路器芯片的测试工艺，提高测试效率，降低光分路器芯片的测试成本。
光分路器芯片夹具主体压条承载台面固定夹具硅胶套管本实用新型弹簧螺栓测试底座测试成本测试工艺测试效率上部平面

[发明专利]一种芯片测试用智能调节夹具-CN202111463869.6在审
发明人：郭佳伟 -专利权人：郭佳伟
申请日： 2021-12-02 - 公布日： 2022-03-29 - 主分类号： G01R1/04 文献下载
摘要：本发明提供一种芯片测试用智能调节夹具，涉及芯片测试领域。该芯片测试用智能调节夹具，包括夹具箱和平行板，所述平行板位于夹具箱的右侧，平行板的左侧面固定连接有支撑伸缩杆，支撑伸缩杆的左端固定连接有插接轴，夹具箱转动套接在插接轴的外表面，夹具箱的内部设置有平衡杆，插接轴位于夹具箱内部的一端固定套接在平衡杆的中间部位。该芯片测试用智能调节夹具，通过设置平衡杆、拨动轴、水平板和导电杆，齿轮与齿板带动推架向后移动，将芯片向后推动，使芯片不再偏移时，带动平衡杆平行，使电动机断电，当芯片向后偏移时，同理上方的电动机通电使后方的推架向前推动芯片移动到中心，保证芯片的引脚处于测试位置。
一种芯片测试智能调节夹具

[实用新型]一种内存芯片测试治具-CN202120234869.8有效
发明人：袁嘉玲;孔凡平;杨京;谢棋;杨松青 -专利权人：厦门市原子通电子科技有限公司
申请日： 2021-01-27 - 公布日： 2021-10-15 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种内存芯片测试治具，包括芯片测试主板、用于固定芯片测试主板的主板固定夹具以及用于压紧待测内存芯片的若干芯片夹扣。芯片测试主板包括主板本体和设在主板本体一侧的金手指部，主板本体固定在主板固定夹具内，金手指部向外伸出主板固定夹具。主板本体的至少一面沿长度方向间隔设置有若干块芯片探针，主板固定夹具在每一块芯片探针对应的位置上开设有用于容置待测试内存芯片的容置槽。芯片夹扣的一端与主板固定夹具铰接，另一端通过锁扣件与主板固定夹具扣合连接。本实用新型的治具可同时对多个内存芯片进行测试，空间设计合理，芯片夹扣打开时省力，操作简单，芯片夹扣关闭时扣合稳定，稳固性强，内存芯片的取出和放入方便。
一种内存芯片测试

[实用新型]一种氮氧传感器芯片泵电流的测试装置-CN201520324719.0有效
发明人：胡秉权;陈丽芳;熊建杰;罗敏;张敏环 -专利权人：湖北丹瑞新材料科技有限公司
申请日： 2015-05-18 - 公布日： 2015-08-12 - 主分类号： G01R19/00 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种氮氧传感器芯片泵电流的测试装置，包括芯片夹具、主控模块、温控模块、测试电压控制模块和电流检测模块；芯片夹具具有多个触点，用于将待测氮氧传感器芯片的各电极与所述测试装置稳定连接，以保证测试效果；待测氮氧传感器芯片被夹到芯片夹具上后，待测氮氧传感器芯片的电极分别与芯片夹具的触点稳定接触；测试装置上用于连接待测芯片的各端子分别对应与芯片夹具的触点稳定连接；通过向待测氮氧传感器芯片施加加热电压，使得芯片的功能区域保持在一定的测试温度；向待测氮氧传感器芯片的功能电极施加测试电压，改变待测氮氧传感器芯片的工作状态，测试芯片各功能电极上的泵电流；本实用新型提供的测试装置实现了氮氧传感器泵电流自动化检测，可有效提高检测效率。
一种传感器芯片电流测试装置

[实用新型]一种芯片测试机的测试夹具及设备-CN201921283396.X有效
发明人：余代春;刘军;王强 -专利权人：绵阳宁瑞电子有限公司
申请日： 2019-08-08 - 公布日： 2020-08-11 - 主分类号： G01R1/04 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种芯片测试机的测试夹具及设备，测试夹具包括定夹具和用于夹紧芯片的推料板，所述的定夹具上开设有推料口的夹槽，推料板嵌设推料口内，所述的推料板包括推杆和固定设置在推杆上用于推动芯片的推头，所述的推杆在气缸的作用下推动推头沿芯片的对角线运动，推头与夹槽壁共同作用将芯片固定在夹槽内。该测试夹具的定夹具上开设有一角开口的夹槽，推料板在气缸的作用下与定夹具共同夹紧或者松开芯片，定夹具实现定位，夹具能够实现自动夹紧芯片，可以用于自动化生产线。
一种芯片测试夹具设备

[实用新型]一种测试介电泳力的装置-CN202221485980.5有效
发明人：程鑫;吴春卉;徐俊彦;陶超然;黄凯程;朴英哲;陈日飞;刘羽 -专利权人：南方科技大学
申请日： 2022-06-14 - 公布日： 2022-10-21 - 主分类号： G01N27/447 文献下载
摘要：本实用新型提供一种测试介电泳力的装置，其包括光镊测试介电泳力芯片、垂直固定所述光镊测试介电泳力芯片的3D打印夹具以及承载所述3D打印夹具和光镊测试介电泳力芯片的载玻片；所述3D打印夹具包括第一夹具以及和所述第一夹具之间具有间隙的第二夹具，所述光镊测试介电泳力芯片固定在所述第一夹具和第二夹具之间的间隙内。采用本种测试介电泳力的装置对光镊辅助分析芯片内微粒/细胞DEP，实现准确、高效、全面的单个微粒/细胞或者同时多个微粒/细胞的DEP行为的分析，且本装置结构简单和易于制作。
一种测试电泳装置

[发明专利]一种BGA封装芯片的测试夹具-CN201510485742.2在审
发明人：贺龙胜;庞建荣;黄玉 -专利权人：深圳市共进电子股份有限公司
申请日： 2015-08-10 - 公布日： 2015-11-18 - 主分类号： G01R1/04 文献下载
摘要：本发明提供了一种BGA封装芯片的测试夹具，由多层印制电路板制作的夹具板，所述的夹具板的顶面和底面都设置有与待测BGA封装芯片引脚一致的BGA焊盘，在所述的夹具板的顶面还设置有测试点；所述的夹具板的顶面和底面的焊盘通过印制电路板过孔及印制电路板走线连通，在待测BGA芯片封装在夹具板的顶面时，夹具板的底面封装在使用该待测BGA芯片的主板上，所述的测试点与焊盘中需要测试的信号线通过印制电路板走线连通。该BGA封装芯片的测试夹具，利用该测试夹具可以实现较精确的测量结果，且价格便宜。
一种 bga 封装芯片测试夹具