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[实用新型]一种裸芯片测试夹具和一种裸芯片测试装置-CN201921187460.4有效
发明人：汪佳娣;刘贵亚;丁静萍 -专利权人：合肥应为电子科技有限公司
申请日： 2019-07-25 - 公布日： 2020-05-26 - 主分类号： G01R1/04 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种裸芯片测试夹具和一种裸芯片测试装置，属于芯片测试领域。一种裸芯片测试装置，包括夹具本体、输入脊波导和输出脊波导，输入脊波导和输出脊波导结构相同且以夹具本体的中心轴线对称设置，输入脊波导连接夹具本体入口端，输出脊波导连接夹具本体出口端，夹具本体包括相连的波导上腔体和波导下腔体，波导上腔体和波导下腔体拼合形成第一波导腔；波导下腔体上端面上活动放置有空间合成单卡，空间合成单卡用于承载芯片，本实用新型实现芯片和整机产品单卡的整合，达到芯片测试后不用烧结拆卸的目的，解决了芯片易被污染，影响芯片可靠性的问题。
一种芯片测试夹具装置

[发明专利]一种芯片剪切力测试装置及应用其的测试方法-CN202210976871.1在审
发明人：刘茂林 -专利权人：广东富信科技股份有限公司
申请日： 2022-08-15 - 公布日： 2022-11-01 - 主分类号： G01N3/24 文献下载
摘要：本发明公开了一种芯片剪切力测试装置及应用其的测试方法，其装置包括底座、第一机构和第二机构；第一机构包括滑动平台和夹具组件，夹具组件设置于滑动平台的上表面，滑动平台用于带动夹具组件于同一水平面内滑动；第二机构包括支撑座组件和测试器，支撑座组件与测试器连接，测试器的测试针朝向夹具组件，支撑座组件用于带动测试器的测试针往靠近夹具组件的方向或者远离夹具组件的方向运动。其方法为驱动滑动平台和驱动支撑座组件使测试器的测试针对准对应编号的芯片放置槽，通过测试针对芯片放置槽内的芯片进行剪切测试。所述芯片剪切力测试装置及应用其的测试方法，解决了人工记录带来的误差以及效率低的问题。
一种芯片剪切测试装置应用方法

[发明专利]一种氮氧传感器芯片泵电流的测试方法及装置-CN201510253371.5有效
发明人：胡秉权;陈丽芳;熊建杰;罗敏;张敏环 -专利权人：湖北丹瑞新材料科技有限公司
申请日： 2015-05-18 - 公布日： 2018-02-09 - 主分类号： G01R19/00 文献下载
摘要：本发明公开了一种氮氧传感器芯片泵电流的测试方法及装置，通过向待测氮氧传感器芯片施加加热电压，使得芯片的功能区域保持在一定的测试温度；向待测氮氧传感器芯片的功能电极施加测试电压，改变待测氮氧传感器芯片的工作状态，测试芯片各功能电极上的泵电流；本发明提供的测试装置包括芯片夹具、主控模块、温控模块、测试电压控制模块和电流检测模块；芯片夹具具有多个触点，用于将待测氮氧传感器芯片的各电极与所述测试装置稳定连接，以保证测试效果；待测氮氧传感器芯片被夹到芯片夹具上后，待测氮氧传感器芯片的电极分别与芯片夹具的触点稳定接触；测试装置上用于连接待测芯片的各端子分别对应与芯片夹具的触点稳定连接；本发明提供的测试方法及装置实现了氮氧传感器泵电流自动化检测
一种传感器芯片电流测试方法装置

[实用新型]一种基于FPGA的单板测试系统-CN202220979396.9有效
发明人：黄家俊;石建;霍银龙;岳峰 -专利权人：南京国电南自电网自动化有限公司
申请日： 2022-04-24 - 公布日： 2022-10-04 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种基于FPGA的单板测试系统，包括：待测单板上的FPGA芯片、CPU芯片、ADC采样芯片、高速总线芯片、开入开出模块以及上位机和测试夹具；所述ADC采样芯片、高速总线芯片和开入开出模块通过内部LocalBus总线挂载在FPGA上，进行数据交互；所述CPU芯片与FPGA芯片互联，所述测试夹具与待测单板互联，所述上位机与测试夹具互联；本实用新型通过外部上位机和测试夹具配合板上FPGA与CPU芯片完成对板件ADC采样芯片、高速总线芯片、开入开出模块的功能检测，整体方案简单可靠，便于连接；以FPGA芯片实现测试数据的收发，适用于配置不同CPU、FPGA芯片的多种板件，整体方案扩展性强，有着良好的应用前景。
一种基于 fpga 单板测试系统

[发明专利]一种带水冷结构的可重复使用的微波芯片测试夹具-CN202111054544.2有效
发明人：肖鑫平;王磊;曾雁生;詹铭周 -专利权人：电子科技大学
申请日： 2021-09-09 - 公布日： 2023-09-29 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：本发明属于电子电路系统测试测量领域，具体提供一种带水冷结构的可重复使用的微波芯片测试夹具，用以解决现有微波芯片测试夹具存在的适用性差、易造成芯片损坏、散热效果差等问题。本发明测试夹具采用可拆卸的芯片载体，通过金丝跳线连接芯片和电路板，通过更换可拆卸的芯片载体的方式能够实现测试夹具的重复使用，大大节约了测试成本；同时，在结构不变的情况下，能够根据芯片需要更改底座开口腔体中凹槽与芯片载体的尺寸，从而适应各种大小的芯片需求，具有很高的适用性；另外，采用水冷散热能够更大的散热效果；综上，本发明具有散热性良好、高适用性、测试结构稳定、调试方便、可重复使用、测试成本低等优点。
一种水冷结构重复使用微波芯片测试夹具

[实用新型]一种指纹辨识芯片的测试夹具-CN202021977831.1有效
发明人：汤波 -专利权人：天津开发区中兴电子科技有限公司
申请日： 2020-09-11 - 公布日： 2021-04-09 - 主分类号： G01R1/04 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种指纹辨识芯片的测试夹具，包括测试夹具座，所述测试夹具座的上端设有测试芯片槽位，所述测试芯片槽位内设有测试芯片支板，所述测试芯片槽位的内底部固定连接有活塞筒，所述活塞筒内滑动连接有第一活塞，所述第一活塞与活塞筒的内底部之间固定连接有弹簧，所述环形安装槽内安装有夹持气囊，所述测试夹具座的前侧设有活塞槽，所述活塞槽的槽口内壁固定连接有密封块，所述活塞槽与活塞筒和夹持气囊相连通，且所述活塞槽内设有充放气机构本实用新型结构合理，可以对芯片进行夹持的同时，使其不易脱离测试芯片槽位，以保证测试时的稳定性，且方便取出芯片，操作更加简单方便，大大提高对芯片测试的效率。
一种指纹辨识芯片测试夹具

[实用新型]一种用于激光器芯片的测试夹具-CN202222738429.3有效
发明人：丁晶晶;彭章洋;李丽敏 -专利权人：枝江亿硕半导体有限公司
申请日： 2022-10-18 - 公布日： 2023-03-14 - 主分类号： B65G49/07 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种用于激光器芯片的测试夹具，包括夹具座，所述夹具座的内部开设有芯片腔，所述夹具座的一侧设置有拨动装置，所述拨动装置内设有螺杆，所述螺杆的外圆周壁固接有拨片，具体涉及激光器芯片测试技术领域该用于激光器芯片的测试夹具，在激光器芯片测试完毕后，通过转动带有防滑纹的旋钮，使得旋钮带动螺杆转动，由于螺杆与螺座螺合连接、且螺杆的一侧固接有延伸入拨动腔的拨片，因此通过轻微转动旋钮使螺杆带动拨片摆动、拨片摆动后将芯片腔内部的激光器芯片向上轻轻挑起，使得激光器芯片方便取出，在批量测试激光器芯片的过程中能减少激光器芯片的放置和拿取时间，有效提升激光器芯片的测试效率。
一种用于激光器芯片测试夹具

[发明专利]射频芯片引脚阻抗测试方法-CN201910982182.X有效
发明人：何其波 -专利权人：普联技术有限公司
申请日： 2019-10-16 - 公布日： 2022-04-01 - 主分类号： G01R27/02 文献下载
摘要：本申请适用于芯片测试技术领域，提供了一种射频芯片引脚阻抗测试方法，包括：测试测试板上单个测试夹具的散射参数；测试负载调谐器与测试夹具连接端口的阻抗参数；根据测试夹具的散射参数和阻抗参数得到射频芯片输出引脚的负载阻抗通过上述方法能够得到精确的射频芯片输出引脚的负载阻抗，有效指导输出匹配电路的设计及调试。
射频芯片引脚阻抗测试方法

[发明专利]一种集成电路芯片电源干扰测试系统及其测试方法-CN202011353002.0在审
发明人：刘静;郭耀华;陈凝;欧阳睿;邹欢;李秀丽 -专利权人：紫光同芯微电子有限公司
申请日： 2020-11-27 - 公布日： 2022-05-31 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：本发明提供了一种集成电路芯片电源干扰测试系统及其测试方法，所述测试系统包括干扰波形发生器、计算机、智能卡测试仪、测试夹具和待测芯片，其中，干扰波形发生器具有输出端，待测芯片具有电源端，计算机连接智能卡测试仪，智能卡测试仪连接测试夹具，干扰波形发生器连接测试夹具，待测芯片连接测试夹具，干扰波形发生器的输出端直接连接待测芯片的电源端。待测芯片进行测试时，由于在待测芯片的电源端连续加入电压±3V的脉冲波干扰信号，经过N遍的顺次擦操作、写操作、读操作后，撤除脉冲波干扰信号，直接通过智能卡测试仪确认待测芯片工作状态，且该测试系统及其测试方法，操作方法简单易于实现，能够显著提高待测芯片的测试效率。
一种集成电路芯片电源干扰测试系统及其方法

[实用新型]可调式集成电路测试夹具-CN201320719429.7有效
发明人：王波 -专利权人：山东泰吉星电子科技有限公司
申请日： 2013-11-13 - 公布日： 2014-06-11 - 主分类号： B25B11/00 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种可调式集成电路测试夹具，包括测试固定板，所述测试固定板表面可拆卸安装有测试固定螺栓，所述测试固定板两侧分别设有用于固定测试芯片的定位夹板，且两所述定位夹板与所述测试固定板之间分别设有测试间距调节装置，所述定位夹板与所述测试固定板外周套装有测试芯片定位装置；本实用新型通过测试间距调节装置可以对夹具的夹持厚度进行调节，以方便不同厚度的测试芯片使用；通过测试芯片定位装置可以将不同长度的测试芯片进行固定，从而提高了测试夹具的通用性，有助于减少测试夹具的用量，节省了成本。
调式集成电路测试夹具

[实用新型]一种集成电路芯片电源干扰测试系统-CN202022797110.9有效
发明人：刘静;郭耀华;陈凝;欧阳睿;邹欢;李秀丽 -专利权人：紫光同芯微电子有限公司
申请日： 2020-11-27 - 公布日： 2021-08-20 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：本实用新型提供了一种集成电路芯片电源干扰测试系统，所述测试系统包括干扰波形发生器、计算机、智能卡测试仪、测试夹具和待测芯片，其中，干扰波形发生器具有输出端，待测芯片具有电源端，计算机连接智能卡测试仪，智能卡测试仪连接测试夹具，干扰波形发生器连接测试夹具，待测芯片连接测试夹具，干扰波形发生器的输出端直接连接待测芯片的电源端。待测芯片进行测试时，由于在待测芯片的电源端连续加入电压±3V的脉冲波干扰信号，经过N遍的顺次擦操作、写操作、读操作后，撤除脉冲波干扰信号，直接通过智能卡测试仪确认待测芯片工作状态，且该测试系统及其测试方法，操作方法简单易于实现，能够显著提高待测芯片的测试效率。
一种集成电路芯片电源干扰测试系统

[实用新型]一种用于芯片测试的夹具和芯片测试装置-CN202120529480.6有效
发明人：刘春颖;单书珊;陈燕宁;董广智;钟明琛;刘波;鹿祥宾 -专利权人：北京芯可鉴科技有限公司;北京智芯微电子科技有限公司;国网信息通信产业集团有限公司
申请日： 2021-03-12 - 公布日： 2021-11-30 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：本实用新型实施例提供一种用于芯片测试的夹具和芯片测试装置，属于芯片测试分析领域。所述夹具包括：第一板和第二板；所述第一板的表面具有用于与芯片的管脚相接触的触点；所述第二板上可伸缩地连接有多个按压件。本实用新型提供的用于芯片测试的夹具，适用于不同管脚数量的BGA封装芯片与测试机的连接，可以使被测芯片在测试过程中稳定接触触点，芯片的安装与拆卸方便。
一种用于芯片测试夹具装置

[发明专利]芯片自动测试设备-CN202210915883.3有效
发明人：李伟;黄忠志 -专利权人：镭神技术（深圳）有限公司
申请日： 2022-08-01 - 公布日： 2023-06-27 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：本申请涉及芯片自动测试设备，料斗存放预装载待测试芯片的待处理夹具及存放已完成芯片测试的待回收夹具；升降台提升料斗中的待处理夹具及下降待回收夹具至料斗中；旋转上料组件以转动方式将升降台上的待处理夹具输送至TEC温控台及将TEC温控台上的待回收夹具输送至升降台；TEC温控台对待测试芯片进行高温环境下的工作性能检测；载料台带动TEC温控台于上料位置及测试位置之间移动。通过将芯片预装载于夹具上，升降台配合旋转上料组件及载料台的三维空间移动设计，有利于实现夹具从料斗到测试再回到料斗的自动化流程，正常运行状态下无需人工操作，可全自动地实现芯片检测，可以兼容各种不同类型的芯片
芯片自动测试设备

[实用新型]一种利用大纤芯光纤实现平面波导光分路器快速耦合装置-CN202022652667.3有效
发明人：姜亚 -专利权人：无锡光科通讯设备有限公司
申请日： 2020-11-17 - 公布日： 2021-06-22 - 主分类号： G02B6/26 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种利用大纤芯光纤实现平面波导光分路器快速耦合装置，涉及光纤通讯技术领域，该利用大纤芯光纤实现平面波导光分路器快速耦合装置，包括测试工作台，所述测试工作台上设置有成像系统和芯片夹具，所述成像系统位于芯片夹具的上方，所述芯片夹具上安装有平面波导光分路芯片本体，所述测试工作台上芯片夹具的一侧设置有固定夹具，所述固定夹具上安装有光纤本体，所述测试工作台上芯片夹具的另一侧设置有转换夹具。本实用新型通过设置成像系统、芯片夹具、固定夹具、转换夹具和大纤芯光纤，解决了平面波导光分路芯片把光分成多路耦合进按次序排列的多根光纤中的过程中寻找最佳耦合位置困难、操作费时费力导致工作效率低下的问题。
一种利用大纤芯光纤实现平面波导分路快速耦合装置

[实用新型]一种超辐射发光二极管组件手动预耦合测试装置-CN202123056900.2有效
发明人：何威威;张润;吕小威;李同宁;游毓麒 -专利权人：武汉英飞华科技有限公司
申请日： 2021-12-08 - 公布日： 2022-01-07 - 主分类号： G01R31/26 文献下载
摘要：本实用新型提出了一种超辐射发光二极管组件手动预耦合测试装置，涉及超辐射发光二极管组件预耦合测试装置的技术领域，包括透镜准直光纤、限位夹具、探针和工作台，所述透镜准直光纤、限位夹具和探针安装在工作台上，限位夹具用于对需要测试的芯片进行固定，并与芯片导电接触，探针用于与芯片的金电极接触，以实现芯片的加电，透镜准直光纤用于将固定在限位夹具上的芯片加电时芯片管芯的出光耦合进入光功率计和光谱分析仪内。解决了现有技术中的测试装置结构复杂，造价过高，且操作麻烦，测试成本高，测试效率低，以及使用夹具导致芯片表面划伤及破损的问题。
一种辐射发光二极管组件手动耦合测试装置