专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [实用新型]一种研究大气腐蚀过程的测试装置-CN200420032188.X无效
  • 张际标;王佳 - 中国科学院海洋研究所
  • 2004-06-23 - 2005-06-15 - G01N17/02
  • 本实用新型涉及研究大气腐蚀过程的测试技术,具体地说是一种研究大气腐蚀过程的测试装置。它由测试电极,参比电极,温度湿度计,实验箱,恒电位仪等组成,测试电极、参比电极、温度湿度计置于实验箱中,所述参比电极两端分别通过液滴和引线与测试电极及恒电位仪电连接,测试电极电极引线接至恒电位仪;测试电极的第一金属电极和第二金属电极之间设绝缘膜,通过树脂安装在套管中,两金属电极的底端通过引线与外部电路电连接。采用本实用新型通过使所加液滴的中心位于测试电极中的第一金属电极上,可完全模拟大气腐蚀过程中的阳极过程和阴极过程;用此装置可对不同的液滴和金属电极进行电化学状态测试;还具有结构简单、成本低的特点。
  • 一种研究大气腐蚀过程测试装置
  • [发明专利]阵列基板-CN201811626135.3有效
  • 周亚萍 - 深圳市华星光电半导体显示技术有限公司
  • 2018-12-28 - 2021-07-06 - G02F1/1362
  • 本申请提供一种阵列基板,阵列基板表面阵列分布有像素单元、公共电极、以及位于所述阵列基板边缘的测试电路;测试电路包括:至少三条并列设置的像素信号测试走线,像素信号测试走线的输入端接入第一测试信号,每条像素信号测试走线的输出端对应连接一种颜色的像素单元,每条像素信号测试走线的中部设置有像素测试焊点;以及公共电极信号测试走线,与像素信号测试走线并列设置,公共电极信号测试走线的输入端接入第二测试信号,公共电极信号测试走线的输出端连接公共电极,公共电极信号测试走线的中部设置有公共电极测试焊点有益效果:改变阵列基板中公共电极信号测试走线的接线方式,降低了阵列基板产生静电释放较高风险的问题。
  • 阵列
  • [发明专利]一种原位三电极测试系统-CN201711139292.7在审
  • 连林;郑媛媛;靳承铀;薛驰;缪永华 - 中天储能科技有限公司
  • 2017-11-16 - 2018-03-16 - G01N27/416
  • 本发明公开了一种原位三电极测试系统,包括惰性气体环境密封装置、三电极装置、电池测试设备、电压测试设备和数据采集设备,所述三电极装置、电池测试设备、电压测试设备和数据采集设备放置在惰性气体环境密封装置内端部,所述三电极装置分别与电压测试设备、电池测试设备进行连接,所述电池测试设备和电压测试设备与数据采集设备进行连接。本发明解决了三电极测试遇到的关键问题,杜绝三电极装置2受外界水氧的影响而发生电解液及锂参比电极变性的问题;本发明使用一体锂参比电极,避免了锂参比电极与导线接触不良、引起副反应等问题导致数据测试不准。
  • 一种原位电极测试系统
  • [发明专利]TFT性能测试装置及其制造方法和TFT性能测试方法-CN200810222370.4有效
  • 于洪俊;黄婕妤;肖光辉;吴昊 - 北京京东方光电科技有限公司
  • 2008-09-17 - 2010-03-24 - H01L23/544
  • 本发明公开了一种TFT性能测试装置及其制造方法和TFT性能测试方法,其中TFT性能测试装置包括设置在阵列基板空闲区域的至少一个测试TFT,测试TFT包括:第二栅电极,设置在基板上;第二栅绝缘层,形成在第二栅电极上;第二非晶硅层,形成在第二栅绝缘层上;第二源电极、第二漏电极以及至少一个测试电极,形成在第二非晶硅层上;第二漏电极和第二源电极之间形成TFT沟道;测试电极设置在第二源电极和第二漏电极之间;第二掺杂非晶硅层,形成在第二源电极与第二非晶硅层之间、第二漏电极与第二非晶硅层之间以及测试电极与所述第二非晶硅层之间。本发明提供的TFT性能测试装置可以实现液晶显示器中TFT的沟道特性测试
  • tft性能测试装置及其制造方法
  • [发明专利]电极贴片的测试治具、测试装置及其测试方法-CN202111328266.5有效
  • 衷兴华;汪龙;陶银炯;杨克;周丽波 - 杭州维纳安可医疗科技有限责任公司
  • 2021-11-10 - 2022-01-21 - G01R31/66
  • 本申请实施例提供了一种电极贴片的测试治具、测试装置及其测试方法。该测试治具包括:治具本体,分别与治具本体连接的元件转接组件、电极转接组件和接地转接组件;元件转接组件用于与电极贴片的热敏元件电连接;电极转接组件用于与电极贴片的电极电连接;接地转接组件用于接地。本申请实施例实现了通过设计一种电极贴片的测试治具,使得电极贴片中的各个线路的端口实现放大可视化,以及元件测试仪在测试治具的辅助作用下与电极贴片之间实现电连接的简易操作化。因而可以实现对电极贴片中的热敏元件与电路板是否焊接合格、以及热敏元件是否与电极贴片的电极绝缘进行简易准确的测试
  • 电极测试装置及其方法
  • [实用新型]一种组合式离子测试电极装置-CN201020282988.2无效
  • 崔怡英 - 广州商辉怡业计算机科技有限公司
  • 2010-08-05 - 2011-03-23 - G01N27/30
  • 本实用新型公开了一种组合式离子测试电极装置,属于离子测试电极装置技术领域,其技术要点包括是由电极连接座、与电极连接座线路连接的仪器连接头和与电极连接座活动连接的测试电极组成,所述电极连接座的一端面上设有至少一个电极插孔,电极插孔与仪器连接头一一对应并线路连接;所述的测试电极包括电极管、设置在电极管内的电解质、设置在电极管一端部的电极膜和设置在电极管另一端的与电极插孔相适应的连接插头,测试电极电极连接座之间通过连接插头与电极插孔配合插接连接本实用新型旨在提供一种结构简单、使用方便、将电极管与其他组件制成相互独立部分的组合式离子测试电极装置。用于离子测试电极
  • 一种组合式离子测试电极装置
  • [实用新型]电性连接组件-CN201320402466.5有效
  • 江耀诚;吴德发;严建斌;林少庭;魏财魁;白晓锌;叶财金 - 宸鸿科技(厦门)有限公司
  • 2013-07-08 - 2013-12-18 - G01R31/02
  • 本实用新型提供一种电性连接组件,包括一第一电路板及一第二电路板,第一电路板包括复数个第一讯号电极及至少一第一测试电极,第二电路板包括复数个第二讯号电极及至少一第二测试电极,其中第一讯号电极与第一测试电极位于第一电路板之相同侧且相互间隔排列,第二讯号电极与第二测试电极位于第二电路板之相同侧且相互间隔排列,且第一讯号电极与第二讯号电极对应电性连接,第一测试电极与第二测试电极电性连接以形成一测试回路。藉此,可通过检测该测试回路是否电性导通来判断第一讯号电极与第二讯号电极之间是否电性导通。
  • 连接组件
  • [发明专利]基于垂直测试图形的欧姆接触区方块电阻测试方法-CN201611234089.3有效
  • 郑雪峰;李小炜;侯晓慧;王颖哲;王冲;马晓华;郝跃 - 西安电子科技大学
  • 2016-12-28 - 2019-04-23 - H01L21/66
  • 本发明公开了一种基于垂直测试图形的欧姆接触区方块电阻测试方法。其实现方案是:1.制备一组横向与纵向垂直交叉的欧姆接触测试图形,横向测试图形中包括第一电极、第五电极、第四电极,纵向测试图形中包括第二电极、第五电极、第三电极;2.分别测试横向、纵向测试图形中第一电极与第四电极之间的电阻值,第二电极与第三电极之间的电阻值;3.将纵向测试图形所得的电阻值乘以系数L/W与横向测试图形所得的电阻值做差,将其差值除以系数1‑L/W,得到测试图形中欧姆接触区的方块电阻,其中L和W分别为横、纵向测试图形第五电极的长度本发明测试图形简单易制作,测试速度快,结果准确可靠,可用于高电子迁移率异质结晶体管的制作。
  • 基于垂直测试图形欧姆接触方块电阻方法
  • [发明专利]测试结构及测试方法-CN202310645720.2在审
  • 代佳;刘恩峰;于江勇 - 北京燕东微电子科技有限公司
  • 2023-06-01 - 2023-08-29 - H01L23/544
  • 本发明公开了一种测试结构及测试方法。该测试结构包括衬底;多个测试金属层,每个测试金属层均包括穿插设置的蛇形金属线和梳齿状结构;第一测试电极至第三测试电极,第一和第二测试电极分别与每个蛇形金属线的第一端和第二端相连,第三测试电极与每个梳齿状结构相连,使第一与第二测试电极间、第一与第三测试电极间、第二与第三测试电极间形成第一至第三测试支路;第一和第二测试电极与每个蛇形金属线间还串联有第一和第二预设MOS管;每个第一测试支路在相同测试电压下的电流不同,每个第二测试支路在相同测试电压下的电流不同,每个第三测试支路在相同测试电压下的电流不同。本发明中的测试结构可成倍的节省所占用的晶圆面积和测试次数。
  • 测试结构方法

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