专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]电极测试装置及测试方法-CN202310428417.7在审
  • 杨杰;闫镇威;谭兆钧;郭帅辉 - 华北水利水电大学
  • 2023-04-20 - 2023-07-18 - G01N27/26
  • 本发明涉及一种三电极测试装置及测试方法;该测试装置包括溶液容器、工作台、工作电极、参比电极、对电极;工作台上设有调节螺杆、移动块、对电极安装孔、参比电极安装孔、刻度尺;移动块上设有工作电极安装孔;工作电极安装孔、对电极安装孔、参比电极安装孔分别用来安装作电极、对电极、参比电极;调节螺杆与移动块螺纹配合;调节螺杆的转动能够精确调整移动块在工作台上的位置,背离或靠近对电极安装孔;移动块的位置能够反映到刻度尺的读数;这样工作电极与对电极的距离可量化,有利于三电极测试;使用该测试装置的测试方法操作简单,能够对三电极测试进行复现。
  • 电极测试装置方法
  • [发明专利]碘离子浓度的检测电路及方法、碘离子浓度检测仪-CN202010920547.9有效
  • 孙鹏飞;何政;盛青松 - 无锡市申瑞生物制品有限公司
  • 2020-09-04 - 2023-04-07 - G01N27/48
  • 本发明提供了一种碘离子浓度的检测电路及方法、碘离子浓度检测仪,该检测电路包括:电压输出电路,用于受控地输出扫描电压并使扫描电压在目标电压范围内可调;与电压输出电路相连的第一测试电路,用于接收扫描电压并将扫描电压分别输出至三电极测试板的参比电极和辅助电极,以使三电极测试板的工作电极产生测试电流,三电极测试板具有工作电极、参比电极以及辅助电极,且三电极测试板配置有待检测样本;与电压输出电路相连的第二测试电路,用于接收测试电流并基于测试电流输出测试电压,以基于测试电压的峰值得到待检测样本的浓度
  • 离子浓度检测电路方法
  • [实用新型]一种测试辅助工装及测试系统-CN202021195369.X有效
  • 沈相健;袁尧年;叶黎剑;孙京新;程锋 - 浙江隆基乐叶光伏科技有限公司
  • 2020-06-24 - 2021-04-13 - H02S50/10
  • 本实用新型公开测试辅助工装及测试系统,涉及光伏组件测试技术领域。减小测试辅助工装与接线盒插拔频次的情况下,提高光伏组件的测试效率。该测试辅助工装包括主测试工装以及与主测试工装并联连接在一起的副测试工装。主测试工装包括第一电极端子和第二电极端子。副测试工装包括第三电极端子和第四电极端子。第一电极端子与第三电极端子通过第一线缆电连接。第二电极端子与第四电极端子通过第二线缆电连接。测试辅助工装还包括第一接线器和第二接线器,第一接线器与第一电极端子或第三电极端子电连接。第二接线器与第二电极端子或第四电极端子电连接。本实用新型还提供应用了上述测试辅助工装的测试系统。
  • 一种测试辅助工装系统
  • [发明专利]固态电池原位测试方法-CN202310155740.1在审
  • 范荣;胡余华;孙平;朱高龙;华剑锋;李立国;戴锋 - 四川新能源汽车创新中心有限公司
  • 2023-02-23 - 2023-05-02 - G01N21/95
  • 本发明公开了一种固态电池原位测试方法,包括以下步骤:将制备好的测试电池放置到原位测试装置的测试腔内,调整相对设置在测试腔两侧的两个测试电极,使两个测试电极分别与测试电池的正极端和负极端接触;调整其中一个测试电极测试电池加载,并加载到所需的压力值;和/或控制测试电极内的加热元件对测试电极加热,并加热到所需的温度值;将两个测试电极分别连接到电池测试系统,对测试电池进行充放电,对充放电过程中测试电池的观测面进行光学检测。该测试方法利用原位测试装置上的测试电极为固态结构的测试电池提供所需的压紧作用力,并通过测试电极测试电池进行充放电操作,从而实现了对测试电池在充放电过程中的原位测试
  • 固态电池原位测试方法
  • [实用新型]用于钒电池电解液的电化学测试装置-CN202321248767.7有效
  • 杨亚东;李文靓;郭赟;李道玉 - 成都先进金属材料产业技术研究院股份有限公司
  • 2023-05-22 - 2023-10-13 - G01N27/26
  • 本实用新型公开了一种用于钒电池电解液的电化学测试装置,其包括:测试池,测试池为双层结构,测试池的内层用于盛放待测钒电池电解液,测试池的外层设置有进液口和出液口以用于控温介质的循环;测试池密封盖,测试池密封盖设置于测试池顶部,测试池密封盖上安装固定有组合参比电极、工作电极和对电极,工作电极位于组合参比电极和对电极之间,组合参比电极包括鲁金毛细管和参比电极,鲁金毛细管内装入参比液,参比电极底部浸入参比液中,鲁金毛细管的尖端与工作电极相对,对电极与工作电极平行设置,测试池密封盖上设置有进气口和排气口,排气口设置有单向排气阀。具有测试精度高、测试稳定性高及适应性强的优点。
  • 用于电池电解液电化学测试装置
  • [发明专利]一种组合式离子测试电极装置-CN201010246205.X有效
  • 崔怡英 - 广州商辉怡业计算机科技有限公司
  • 2010-08-05 - 2010-12-15 - G01N27/30
  • 本发明公开了一种组合式离子测试电极装置,属于离子测试电极装置技术领域,其技术要点包括是由电极连接座、与电极连接座线路连接的仪器连接头和与电极连接座活动连接的测试电极组成,所述电极连接座的一端面上设有至少一个电极插孔,电极插孔与仪器连接头一一对应并线路连接;所述的测试电极包括电极管、设置在电极管内的电解质、设置在电极管一端部的电极膜和设置在电极管另一端的与电极插孔相适应的连接插头,测试电极电极连接座之间通过连接插头与电极插孔配合插接连接本发明旨在提供一种结构简单、使用方便、将电极管与其他组件制成相互独立部分的组合式离子测试电极装置。用于离子测试电极
  • 一种组合式离子测试电极装置
  • [发明专利]显示面板的测试装置及测试装置-CN201810070165.4有效
  • 曹金虎 - 京东方科技集团股份有限公司;北京京东方显示技术有限公司
  • 2018-01-24 - 2020-05-26 - G01R1/073
  • 本发明提供了一种显示面板的测试装置,属于显示技术领域。所述测试装置包括:多个测试组件,每个测试组件包括:本体和至少一个测试模块,每个测试模块包括:测试探针、测试电极、保护探针、保护电极和告警单元,在每个测试模块中:测试探针和保护探针均设置在本体上,且保护探针靠近本体的边缘设置,测试探针和保护探针均凸出于本体,测试探针凸出于保护探针;测试电极和保护电极均设置在待测试显示面板的周边,且测试电极与显示面板连接;当测试探针与测试电极接触时,保护探针与保护电极相对;保护探针与告警单元的一端连接,告警单元用于在保护探针与保护电极接触时进行告警。本发明用于测试显示面板。
  • 显示面板测试装置
  • [实用新型]一种电性能测试装置-CN202021607786.0有效
  • 车瑞飞;辛广兴;余晓鑫;陈松磨 - 广州创天电子科技有限公司
  • 2020-08-05 - 2021-06-15 - G01R31/00
  • 本实用新型属于电容测试领域,具体涉及一种电性能测试装置,包括:测试架,设置在测试架上的第一电极测试台,设置在第一电极测试台上方可伸缩的第二电极顶针,以及设置在第一电极测试台上方可上下运动的导电吸嘴,所述第二电极顶针滑动穿设在测试架上;通过导电吸嘴可以用于抓取固定芯片电容器并与芯片电容器的其一电极板连接,其中第二电极顶针可伸缩的设置在第一电极测试台上方,当导电吸嘴向下运动时,碰到导电吸嘴的第二电极顶针会收缩并抵靠在导电吸嘴侧面,直至导电吸嘴上的芯片电容器的另一电极板的下端接触第一电极测试台形成测试回路,即可配合测试电路板对芯片电容器进行电性能测试,方便快捷,有效的缩短测试时间,提高测试效率。
  • 一种性能测试装置
  • [实用新型]电子雾化装置-CN202222982745.5有效
  • 陈书厅;汪唯;冯建明;朱明达 - 思摩尔国际控股有限公司
  • 2022-11-09 - 2023-04-28 - A24F40/53
  • 电子雾化装置包括储液部、发热体、测试电极以及电参数采集电路,储液部用于储存气溶胶生成基质。发热体包括导液基体和电热元件,导液基体与储液部导液连接,导液基体具有雾化面,电热元件设置于雾化面。测试电极设置于雾化面,测试电极包括间隔设置的第一测试电极和第二测试电极。电参数采集电路电连接于第一测试电极和第二测试电极,电参数采集电路用于采集第一测试电极和第二测试电极之间的电参数信号,由于第一测试电极与第二测试电极之间的电参数信号在雾化面上有基质和无基质的情况下差异较大
  • 电子雾化装置
  • [发明专利]半导体结构的测试结构、半导体结构和测试方法-CN202210624980.7在审
  • 王志强 - 长江存储科技有限责任公司
  • 2022-06-02 - 2022-09-30 - H01L23/544
  • 本申请提供半导体结构的测试结构、半导体结构、测试方法、测试设备及可读存储介质。半导体结构的测试结构包括:沿第一方向叠置的多个电极层,任一电极层均包括测试电极测试电极为相对设置的第一电极和第二电极,相邻的两个电极层的测试电极在垂直于第一方向的平面中的投影包括重叠区;位于相邻的两个电极层之间的绝缘间隔层,绝缘间隔层与重叠区相对的部分中设置有测试插塞,测试插塞连接相邻的两个电极层;与多个电极层的第一电极连接的第一导电衬垫,与多个电极层的第二电极连接的第二导电衬垫。本申请提供的测试结构能够精确地反映出元器件的工艺过程和漏电情况,因而能够及时且全方位地监测出半导体结构中元器件的漏电情况。
  • 半导体结构测试方法

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