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- [发明专利]与半导体装置之射极接点形成接触点-CN02817129.2有效
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K·戈尔勒
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因芬尼昂技术股份公司
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2002-08-21
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2004-11-24
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H01L23/528
- 本发明关于一半导体装置,具有一基板(8),其加工表面(8’)具有一基板法线方向;至少一第一接触点(12,16,22,24,26)以及一第二接触点(14)配置在基板上,第二接触点(14)之一接触点表面系比第一接触点(12,16,22,24,26)之一接触点表面自该基板(8)在该基板法线方向有一较大的距离;以及至少一第一(34)以及一第二(40)图样化金属平面,在其每一中至少一导体,其可被连接到至少一接触点而被形成;第二金属平面(40)系比第一金属平面(34)自基板(8)在基板法线方向有一较大的距离,第二接触点(14)系以电连接到位于其上在基板法线方向之第二金属平面(40)之一导体而无第一金属平面(34)之一导体被连接在其间,以及第一接触点(12,16,22,24,26)系电连接到位于其上在基板法线方向之第一金属平面(34)之一导体。
- 半导体装置接点形成接触
- [实用新型]绘圆尺-CN00206021.3无效
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王同超
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王同超
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2000-03-03
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2002-01-30
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B43L13/00
- 尺体由切线尺、法线尺及转动角度尺组成,附图中分另以A、B、C表示。这三尺有其对应标准圆的刻度数,这三种刻度数构成了绘圆尺绘圆的三要素。绘圆尺按步骤绘圆,不考虑圆心,且尺刻度根据需要增减。绘圆三要素中,切、法线尺刻度有相应的运动式表达,即1.切线运动式R=n·To·V是匀速运动形式;2.法线运动式
- 绘圆尺
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