专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]参考锁定时钟发生器-CN201880066475.7在审
  • 罗克·佩雷斯 - 盈诺飞公司
  • 2018-07-13 - 2020-06-12 - H03L7/099
  • 通过由参考时钟门控电路生成参考时钟门控信号的外部参考生成时钟;由所述参考时钟门控信号启用环形振荡器注入模式,以禁用环形振荡器的第一缓冲器以及启用参考时钟注入缓冲器,其中所述第一缓冲器和所述注入缓冲器的输出端并联连接至下一个缓冲器输入端;在所述注入缓冲器处接收参考时钟信号的参考时钟跃迁,并将所述参考时钟信号注入所述下一个缓冲器;以及由所述参考时钟门控信号启用环形振荡器闭环模式,以用来启用所述第一缓冲器以及禁用所述参考时钟注入缓冲器。
  • 参考锁定时钟发生器
  • [发明专利]门控时钟电路及相关方法-CN200510087422.8无效
  • 曾柏谕 - 威盛电子股份有限公司
  • 2005-07-22 - 2006-01-04 - H03K5/156
  • 本发明提供一种门控时钟电路及相关方法,以根据一时钟及一致能讯号提供一门控时钟。在本发明的一实施例中,该门控时钟电路包括有一传输单元、一锁存单元及一运算单元。当时钟为低电平时,传输单元会将致能讯号传输至锁存单元,使锁存单元的锁存讯号追随反相的致能讯号;当时钟为高电平时,传输单元就会停止将致能讯号传输至锁存单元,由锁存单元锁存该锁存讯号的电平。运算单元对锁存讯号及反相时钟进行或非运算,即可产生门控时钟
  • 门控时钟电路相关方法
  • [发明专利]可变的同步时钟分频电路-CN201210362745.3在审
  • 王永流;张伸 - 上海华虹集成电路有限责任公司
  • 2012-09-25 - 2014-03-26 - H03K23/00
  • 本发明公开了一种可变的同步时钟分频电路,包括:一时钟计数器,用于对输入的源时钟个数进行计数;一分频倍数配置寄存器,用于寄存时钟分频倍数;一比较器,当时钟计数器的值与分频倍数配置寄存器的值进行比较后,两者不等时,输出的门控逻辑的使能信号无效;当两者相等时,输出的门控逻辑的使能信号有效;一门控逻辑电路,当所述门控逻辑的使能信号无效时关闭;当所述门控逻辑的使能信号有效时,将源时钟分频后输出,且时钟计数器的值在下一个时钟周期归零
  • 可变同步时钟分频电路
  • [发明专利]一种扫描链测试电路-CN201010547485.8有效
  • 董欣;邹杨 - 无锡中星微电子有限公司
  • 2010-11-16 - 2011-05-04 - G01R31/3183
  • 本发明提供一种扫描链测试电路,其包括用于输入初始时钟时钟输入端、锁相环、时钟生成单元、门控单元、第一选择器、功能触发器、门控逻辑单元、第二选择器和第三选择器,其中所述第二选择器利用测试使能选择初始时钟或所述锁相环输出的时钟以作为所述时钟生成单元中触发器的时钟端输入;所述第三选择器利用测试使能选择初始时钟时钟生成单元输出的时钟以作为所述门控逻辑单元中触发器的时钟端输入。
  • 一种扫描测试电路
  • [实用新型]一种扫描链测试电路-CN201020610392.0无效
  • 董欣;邹杨 - 无锡中星微电子有限公司
  • 2010-11-16 - 2011-06-15 - G01R31/28
  • 本实用新型提供一种扫描链测试电路,其包括用于输入初始时钟时钟输入端、锁相环、时钟生成单元、门控单元、第一选择器、功能触发器、门控逻辑单元、第二选择器和第三选择器,其中所述第二选择器利用测试使能选择初始时钟或所述锁相环输出的时钟以作为所述时钟生成单元中触发器的时钟端输入;所述第三选择器利用测试使能选择初始时钟时钟生成单元输出的时钟以作为所述门控逻辑单元中触发器的时钟端输入。
  • 一种扫描测试电路
  • [发明专利]芯片测试方法、装置、芯片测试机及存储介质-CN202111612655.0在审
  • 孙军凯;张柯;孟祥刚;蒋曦 - 西安爱芯元智科技有限公司
  • 2021-12-27 - 2022-04-05 - G01R31/28
  • 本申请提供一种芯片测试方法、装置、芯片测试机及存储介质,涉及芯片测试技术领域,该方法包括:确定芯片中时钟门控单元的目标使能端的目标寄存器;基于多个目标寄存器组合得到目标扫描链;通过目标扫描链上多个目标寄存器的设定值,生成目标使能信号;通过目标使能信号,控制时钟门控单元中目标使能端对应的目标时钟门控单元开启或关闭。本申请能够在生成目标扫描链的基础上,通过控制寄存器的值以控制芯片扫描测试模式下时钟门控单元的开启和关闭,降低了时钟门控单元的控制难度,有效地控制了时钟门控单元的开启比例,减少测试向量数量,提高测试覆盖率
  • 芯片测试方法装置存储介质
  • [发明专利]直接根据标准单元库器件生成门控时钟单元的方法-CN200510029299.4无效
  • 谢憬;陈进;王琴 - 上海交通大学
  • 2005-09-01 - 2006-02-22 - G06F17/50
  • 一种集成电路技术领域的直接根据标准单元库器件生成门控时钟单元的方法,运用EDA工具直接根据标准单元库器件来生成门控时钟单元,步骤包括:单元结构的定义、结构的搭建、布局布线、RC参数的提取、时序库文件与物理库文件的生成及验证模型构建其中布局布线中,引脚设定在相邻金属层的通路上,以使得输入输出方向便于在横向和纵向层次上都能实现引脚的利用,并防止在门控时钟单元周围打上屏蔽层。生成时序文件时,必须对相应的输入输出端口管脚的定义做符合门控时钟单元库文件格式的手工改动。本发明克服门控时钟单元现有设计技术给集成电路设计部门带来的不便和困难,能简便地生成门控时钟单元及其相关文件,从而实现其简便生成和简便运用。
  • 直接根据标准单元器件生成门控时钟方法
  • [发明专利]一种验证方法、装置及芯片-CN201310344218.4有效
  • 王思佳 - 北京华大信安科技有限公司
  • 2013-08-08 - 2013-12-11 - G01R31/317
  • 所述方法包括:芯片接收配置指令;根据所述配置指令模拟专用集成电路ASIC的环境;对应所述芯片中每个功能模块生成门控时钟信号;将预设时钟信号和所述门控时钟信号布置在全局时钟树上;使用所述全局时钟树对所述芯片进行验证本发明实施例所提供的验证方法、装置及芯片,对应每个功能模块单独实现门控时钟控制,使延时在可控的范围内,对FPGA的逻辑时序不会造成影响,同时,将实现门控时钟控制的功能模块布置在全局时钟树的模式下进行验证,也在不影响FPGA逻辑时序的情况下解决了FPGA无法搭建动态全局时钟树的问题。
  • 一种验证方法装置芯片

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