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[实用新型]一种光电检测装置高度调节机构-CN201720730824.3有效
发明人：秦玉伟 -专利权人：渭南师范学院
申请日： 2017-06-22 - 公布日： 2018-01-02 - 主分类号： G01D11/00 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种光电检测装置高度调节机构，包括基座、宏位移调节系统和微位移调节系统，宏位移调节系统包括伺服电机、电机控制器、滚珠丝杠、滚珠螺母、宏位移感应片和宏位移传感器，微位移调节系统包括压电陶瓷驱动器、微位移感应片、微位移传感器和压电陶瓷驱动器控制器，该光电检测装置高度调节机构既有宏位移调节系统以实现较大的调节行程，又有微位移调节系统以实现最终小位移的调节和精度补偿，并设置有位移检测装置，通过闭环控制实现高精度的高度调节
一种光电检测装置高度调节机构

[发明专利]一种激光通信链路微振动试验的角位移信号生成方法-CN202210450764.5有效
发明人：靳瑾;裴玉奎;张子兵 -专利权人：清华大学
申请日： 2022-04-27 - 公布日： 2023-07-18 - 主分类号： G01M7/02 文献下载
摘要：本发明涉及一种激光通信链路微振动试验的角位移信号生成方法，其特征在于，包括：确定激光通信系统的微振动角位移时域信号；对激光通信系统的微振动角位移时域信号进行短时傅立叶变换，得到微振动角位移的多个频谱信号，作为频谱集合；确定频谱集合的幅值最大值包络谱，并制定微振动试验的最大角位移振动谱和标准角位移振动谱；将确定的最大角位移振动谱或标准角位移振动谱进行短时傅立叶反变换，生成所需时长的微振动角位移时域信号，作为地面微振动试验时激光光束指向系统的控制信号，本发明可以广泛应用于无线激光通信系统试验领域中。
一种激光通信链路微振动试验位移信号生成方法

[发明专利]多维力传感器的负载平台微位移测量方法及测量敏感元件的安装方法-CN201910883333.6有效
发明人：马洪文;邢宇卓 -专利权人：马洪文;邢宇卓
申请日： 2019-09-18 - 公布日： 2022-01-28 - 主分类号： G01L5/16 文献下载
摘要：多维力传感器的负载平台微位移测量方法及测量敏感元件的安装方法，属于传感器测量技术领域。为了解决六维力传感器测量过程中的负载平台微位移高精度测量问题。本发明的负载平台微位移测量方法，根据空间矢量变换法则建立局部坐标系统和全局坐标系统间的矢量变换关系矩阵；采用空间矢量变换，建立每一个微位移传感器的局部微位移和/或应变梁的局部微位移与负载平台全局微位移的协调关系方程组；从协调关系方程组中抽取右侧可实际获得可观测量的方程，建立负载平台微位移求解方程组，求解该方程组，得到负载平台微位移，另外通过负载平台微位移求解方程组可以建立可观测量刚度矩阵；主要用于负载平台微位移测量
多维传感器负载平台位移测量方法测量敏感元件安装方法

[发明专利]一种用于精密激光干涉测量标定的亚纳米级高精度微位移装置及应用-CN202210497613.5在审
发明人：王义坤;孟令强;高瑞弘;丛蕊;边伟;贾建军;王建宇 -专利权人：国科大杭州高等研究院
申请日： 2022-05-09 - 公布日： 2022-08-30 - 主分类号： G01B11/02 文献下载
摘要：本发明提供一种用于精密激光干涉测量标定的亚纳米级高精度微位移装置及应用，利用差动电容测微反馈配合静电悬浮驱动进行闭环控制，实现亚纳米量级的高精度微位移实时监测，并可以作为亚纳米量级高精度微位移参考的基准；同时利用主动隔振台隔离掉地面振动噪声对亚纳米量级高精度微位移装置的振动影响；在浮动基板上巧妙镶嵌一个角锥反射镜，作为精密激光干涉测量系统的动镜，另外一个固定角锥反射镜作为静镜，静电悬浮驱动浮动基板带动角锥反射镜产生亚纳米量级的定量微位移，利用精密激光干涉测量系统对角锥反射镜的定量微位移进行测量，建立测量结果和微位移之间的定量标定关系，完成对精密激光干涉测量系统的亚纳米量级位移测量标定。
一种用于精密激光干涉测量标定纳米高精度位移装置应用

[实用新型]一种路基沉降监测系统-CN201320294343.4有效
发明人：周旭 -专利权人：成都航发边坡防护工程有限公司
申请日： 2013-05-27 - 公布日： 2013-10-30 - 主分类号： G01C5/00 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种路基沉降监测系统，包括监控中心、激光基准仪支座、固定在激光基准仪支座上的激光基准仪，其特征在于：还包括微位移定位器、微位移定位器支座和数据处理器，所述微位移定位器固定在微位移定位器支座上，所述微位移定位器与数据处理器电连接，所述激光基准仪将激光发射至微位移定位器，微位移定位器将数据传输至数据处理器，数据处理器将处理后的数据通过无线电传输至监控中心。本实用新型通过微位移定位器、激光基准仪和数据处理器的相互配合，能够自动巡检系统完好性，保证系统实时有效的监测路基沉降。
一种路基沉降监测系统

[发明专利]四自由度压电微夹钳钳指输出位移与输出力的自感知方法-CN201510515293.1有效
发明人：崔玉国;蔡成波;郑军辉;冯锋义 -专利权人：宁波大学
申请日： 2015-08-20 - 公布日： 2017-05-03 - 主分类号： B25J7/00 文献下载
摘要：本发明公开了四自由度压电微夹钳钳指输出位移与输出力的自感知方法，优点是通过本方法来获得钳指的输出位移与输出力，可省掉传统微装配与微操作系统中用来检测钳指输出位移与输出力的外部微位移与微力传感器，大大减小了基于四自由度压电微夹钳的微装配与微操作系统的重量与体积、促进系统的集成化与微型化，降低了系统的成本。
自由度压电夹钳输出位移感知方法

[发明专利]一种亚像素级点扩散函数测试系统及方法-CN202210762622.2在审
发明人：李云辉 -专利权人：中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
申请日： 2022-06-30 - 公布日： 2022-10-04 - 主分类号： G01M11/02 文献下载
摘要：本发明提供一种亚像素级点扩散函数测试系统及方法，其中亚像素级点扩散函数测试系统包括：星点目标模拟器，将所述光源模拟为星点，所述星点目标模拟器包括星点分划板；微位移调整台，所述星点分划板安装于所述微位移调整台，所述微位移调整台用于使所述星点分划板实现二维平动；微角度调整台，所述微位移调整台安装于所述微角度调整台，所述微位移调整台用于使所述微位移调整台实现三维滚转；图像显示装置，接收透过所述星点，成像并计算质心采用本方案的亚像素级点扩散函数测试系统能够实现亚像素级点扩散函数的精确标定。
一种像素扩散函数测试系统方法

[发明专利]一种可溯源的pN量级力值标定装置与方法-CN201911006112.7有效
发明人：宋乐;郑博轩;袁宇焜;顾春阳;黄思雨;朱欢 -专利权人：天津大学
申请日： 2019-10-22 - 公布日： 2021-04-02 - 主分类号： G01L25/00 文献下载
摘要：本发明公开了一种可溯源的pN量级力值标定装置与方法，用于对光镊系统的光阱束缚力进行标定，所述光镊系统对样品池内的微球施加光阱束缚力，包括力值敏感元件、位移控制系统和自由端位移测量系统；所述力值敏感元件的自由端位于样品池内，对样品池内的微球施加作用力；所述力值敏感元件固定在位移控制系统上，所述位移控制系统满足力值敏感元件的纳米量级定位精确度，同时，位移控制系统操控力值敏感元件从远端逐渐逼近微球，并实现力值敏感元件与微球之间的相互作用；所述自由端位移测量系统测量力值敏感元件自由端的相对位移。本发明无需通过近似标定获得光阱刚度，同时避免了通过光学影像等设备测量微球相对位移的过程中由图像畸变造成的误差。
一种溯源 pn 量级标定装置方法

[实用新型]压电陶瓷微位移驱动器及其面形干涉仪-CN200620033895.X无效
发明人：牟仲财;陈果;王涛 -专利权人：成都太科光电技术有限责任公司
申请日： 2006-04-21 - 公布日： 2007-05-30 - 主分类号： G01B9/02 文献下载
摘要：本实用新型提供了一种能精密和灵敏地传动的压电陶瓷微位移驱动器及其面形干涉仪。压电陶瓷微位移驱动器由压电陶瓷、微纳米传动机构和压电陶瓷微位移控制系统组成，所述微纳米传动机构采用带有柔性铰链的活动杆件，所述活动杆件的横截面尺寸大于柔性铰链的横截面尺寸。面形干涉仪包括干涉仪、标准镜、图像采集系统、计算机、压电陶瓷微位移驱动器和压电陶瓷微位移驱动器控制系统。由于压电陶瓷微位移驱动器中微纳米传动机构采用带有柔性铰链的活动杆件，由于活动杆件的横截面尺寸远大于柔性铰链的横截面尺寸，因此柔性铰链对外力非常敏感，而采用上述压电陶瓷微位移驱动器组成的面形干涉仪，精密度和灵敏度也很高
压电陶瓷位移驱动器及其干涉仪

[发明专利]基于卫星定位的地层空穴搜寻系统和方法-CN201710076276.1在审
发明人：张宇;曾铮;师伟东;秦树淼;范霞;张荣付;张嵩;师笑阳;张翼;张冰;张翼宏 -专利权人：张宇
申请日： 2017-02-13 - 公布日： 2017-04-26 - 主分类号： G01S19/14 文献下载
摘要：本发明公开一种基于卫星定位的地层空穴搜寻系统和方法，包括监控中心站和至少一个微位移量地标站。每个微位移量地标站均与监控中心站连接。每个微位移量地标站安装在地表上；每个微位移量地标站内设有地标器；该地标器主要由卫星导航接收模块、主控器、地标存储器和地标通信模块组成。监控中心站包括监控通信模块、监控计算机和显示器。本发明利用全球卫星导航定位系统来监测地层空穴导致的地表微位移量地标站的微位移，并通过计算机对所有微位移量地标站进行群显示，从而据此判断地层空穴的存在。
基于卫星定位地层空穴搜寻系统方法

[发明专利]一种分焦平面偏振探测系统定标方法-CN202111260474.6在审
发明人：马一哲 -专利权人：上海济物光电技术有限公司
申请日： 2021-10-28 - 公布日： 2022-01-25 - 主分类号： G01J4/00 文献下载
摘要：本发明提供了一种红外分焦平面偏振探测系统定标方法，所述方法包括：在进行微位移辐射定标和微位移偏振定标之前进行设备准备；对分焦平面探测系统进行微位移辐射定标，拟合出增益系数与偏执系数，求出背景噪声，得到微位移辐射校正后的响应图像；微位移辐射定标后，对系统进行微位移偏振定标，根据偏振成像模型计算出不同温度下的偏振系数；以及将计算出的不同温度下的偏振系数矩阵取平均得出最终的偏振系数，根据最终的偏振系数对偏振相机进行校正。本发明红外分焦平面偏振探测系统定标方法可以降低相机的空间噪声、校正偏振相机的非均匀性。
一种平面偏振探测系统定标方法

[发明专利]回转类零件精确找正方法-CN202010489581.5有效
发明人：康仁科;焦振华;郭江;董志刚 -专利权人：大连理工大学
申请日： 2020-06-02 - 公布日： 2021-08-06 - 主分类号： B23Q3/12 文献下载
摘要：一种回转类零件精确找正方法，属于精密超精密加工领域，步骤：1)在位精车回转类工件夹具定位安装面，将零件与回转类工件夹具定位安装面贴合，将固持力调小至零件可推动但不自动滑落；安装并调试主控制系统、高精度位移检测系统和微纳米位移执行系统2)调整高精度位移检测系统中微位移检测模块、微纳米位移执行系统中微纳米位移执行器至回零件外圆面的距离。3)主控制系统控制高精度位移检测系统检测零件外圆面的跳动，根据零件外圆跳动检测结果，控制微纳米位移执行器移动并推动零件移动。4)重复步骤3)至零件跳动量≤理论计算最大跳动值，完成找正。
回转零件精确方法

[发明专利]一种以激光微位移传感器为测量元件的微铣削振动精密测量系统-CN201310666502.3无效
发明人：卢晓红;贾振元;王鑫鑫;路彦君;俆广昊;任宗金 -专利权人：大连理工大学
申请日： 2013-12-09 - 公布日： 2014-03-12 - 主分类号： B23Q17/24 文献下载
摘要：发明属于机床振动在线测量领域，涉及一种微铣削加工过程中刀具和工件间相对振动情况精密测量系统。该测量系统包括激光微位移传感器、传感器支架、激光位移控制器、数据采集卡和具有PXI多功能控制器的计算机。具有传感器支架安装在微铣床工作台上，激光微位移传感器设置在与多自由度调节激光位移传感器支架上；激光微位移传感器在多自由度调节激光位移传感器支架上的位置可以调节，可测量XYZ任一方向振动情况。激光微位移传感器和激光位移控制器相连，激光位移控制器和数据采集卡相连，数据采集卡安装在计算机内部。该测量系统解决了微铣削加工中刀具和工件间相对振动测量的难题，测量精度高，设备移植性强，测量范围广，操作简单。
一种激光位移传感器测量元件铣削振动精密系统

[实用新型]基于卫星定位的地层空穴搜寻系统-CN201720129337.1有效
发明人：张宇;曾铮;师伟东;秦树淼;范霞;张荣付;张嵩;师笑阳;张翼;张冰;张翼宏 -专利权人：张宇
申请日： 2017-02-13 - 公布日： 2017-08-25 - 主分类号： G01S19/14 文献下载
摘要：本实用新型公开一种基于卫星定位的地层空穴搜寻系统，包括监控中心站和至少一个微位移量地标站。每个微位移量地标站均与监控中心站连接。每个微位移量地标站安装在地表上；每个微位移量地标站内设有地标器；该地标器主要由卫星导航接收模块、主控器、地标存储器和地标通信模块组成。监控中心站包括监控通信模块、监控计算机和显示器。本实用新型利用全球卫星导航定位系统来监测地层空穴导致的地表微位移量地标站的微位移，并通过计算机对所有微位移量地标站进行群显示，从而据此判断地层空穴的存在。
基于卫星定位地层空穴搜寻系统

[发明专利]一种微力测力式三维综合螺纹测量机测头及用其测量方法-CN202010685064.5有效
发明人：肖田;张鹏;邹功文;禹静;蔡晋辉 -专利权人：深圳市中图仪器股份有限公司
申请日： 2020-07-16 - 公布日： 2021-08-31 - 主分类号： G01B11/00 文献下载
摘要：本发明提供了一种微力测力式三维综合螺纹测量机测头及用其测量方法，能够简单准确地测得探针的位移量，从而测得被测螺纹的空间位置。通过横向测微位移系统和纵向测微位移系统分别测得探针在水平和垂直方向的微位移量。探针与被测螺纹预接触，三维综合螺纹测量机驱动后，探针在水平和垂直方向分别发生位移，两组平行簧片作为导向机构，分别被拉伸，直线光栅系统的读数头与长光栅发生相对位移，并测得位移量。本发明用于微力测力式三维综合螺纹测量机对螺纹的检测。
一种测力三维综合螺纹测量机测头测量方法

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