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专利名称
农业 化学；冶金 建筑 机械工程 区域搜索
主分类
A 农业
B 作业；运输
C 化学；冶金
D 纺织；造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]存储器的测试方法及相关设备-CN202010166581.1有效
  • 史传奇;章恒嘉;丁丽 - 长鑫存储技术有限公司
  • 2020-03-11 - 2022-04-12 - G11C29/12
  • 本公开实施例提供一种存储器的测试方法及装置、电子设备和计算机可读存储介质，涉及半导体器件测试技术领域。该方法包括：获取测试指令；响应于所述测试指令，产生测试时钟信号，并生成待测地址及其待测数据；从存储设备的存储器中确定待测存储器，所述存储设备包括自测电路；将所述待测数据写入所述待测存储器的待测地址所对应的存储单元中；从所述待测存储器的待测地址所对应的存储单元中读取输出数据；比对所述待测数据及其对应待测地址的输出数据，获取所述待测存储器的测试结果。本公开实施例提供的技术方案，利用设置于存储设备内的自测电路来实施存储器的测试过程，可以减轻对自动测试设备的依赖程度，提升测试速度，降低测试成本。
  • 存储器测试方法相关设备
  • [发明专利]存储器的检测方法及检测装置-CN202111085389.0在审
  • 骆晓东 - 长鑫存储技术有限公司
  • 2021-09-16 - 2023-03-17 - G11C29/56
  • 本申请涉及一种存储器的检测方法及检测装置。所述存储器的检测方法包括如下步骤：写入数据至待测存储器，所述待测存储器包括存储单元、冗余单元和熔丝，所述熔丝用于采用所述冗余单元替换所述存储单元；调整所述待测存储器的温度，并在所述待测存储器的温度改变的过程中重复刷新所述待测存储器、以及重复录入所述熔丝的状态；判断所述待测存储器的温度是否稳定在预设温度，若是，则读取所述待测存储器的数据；判断读取的所述待测存储器的数据是否准确，若否，则确定所述熔丝存在缺陷。
  • 存储器检测方法装置
  • [发明专利]一种存储器的老炼测试装置-CN201911310347.5在审
  • 赵鹏;常成;王宁 - 航天科工防御技术研究试验中心
  • 2019-12-18 - 2020-05-15 - G11C29/56
  • 本发明公开了一种存储器的老炼测试装置，包括PCB电路板；所述PCB电路板上设置至少两个测试工位，每个测试工位设置测试电路和连接插座，待测存储器通过所述连接插座与所述测试电路相连接；所述测试电路包括输入电路和输出电路，所述输入电路与所述待测存储器的信号输入端相连接，所述输入电路用于向所述待测存储器输入特定的测试信号；所述输出电路与所述待测存储器的信号输出端相连接，所述输出电路用于从所述待测存储器读取待测信号。本发明的老炼测试装置能够对存储器进行老炼测试，以测试存储器的可靠性。
  • 一种存储器测试装置
  • [发明专利]存储设备旋转振动测试系统及方法-CN200910311036.0无效
  • 林圣涵 - 鸿富锦精密工业（深圳）有限公司;鸿海精密工业股份有限公司
  • 2009-12-08 - 2011-06-08 - G11B5/455
  • 一种存储设备旋转振动测试系统，所述存储设备包括至少一个存储器以及风扇，该系统包括：设置模块，用于设置待测的存储器、待测的风扇转速、待测的工作负载以及测试时间；选择模块，用于从待测的存储器中逐一选择存储器；风扇控制模块，用于从待测的风扇转速中逐一选择风扇转速，并且控制风扇以该选择的转速运转；负载控制模块，用于从待测的工作负载中逐一选择工作负载，并且对存储设备产生该选择的工作负载；测试模块，用于根据设置的测试时间测试选择的存储器的读写性能；及存储模块，用于存储选择的存储器的读写性能的测试数据。本发明还提供一种存储设备旋转振动测试方法。本发明能够快速有效地对存储设备实施旋转振动测试。
  • 存储设备旋转振动测试系统方法
  • [发明专利]测试系统以及测试方法-CN202010929507.0有效
  • 潘宜飞 - 长鑫存储技术有限公司
  • 2020-09-07 - 2023-08-25 - G11C29/02
  • 本发明实施例提供一种测试系统以及测试方法，其中，测试系统包括：信号提供模块，用于为待测存储器提供第一时钟信号和第二时钟信号；待测存储器基于第一时钟信号执行写命令，以使待测存储器存储预设数据，待测存储器基于第二时钟信号执行读命令，以读取待测存储器存储的存储数据；第一时钟信号和第二时钟信号的其中一者为对称时钟信号，另一者为具有预设占空比的非对称时钟信号；处理模块，用于获取存储数据，并根据存储数据和预设数据的比较结果，获取待测存储器的时钟信号耐受度通过对称时钟信号和非对称时钟信号的对照测试，减少时钟信号耐受度测试中存在的误差，以获取存储器的实际性能参数。
  • 测试系统以及方法
  • [发明专利]存储器阵列的测试方法、装置、设备及存储介质-CN202210020259.7有效
  • 刘东;楚西坤 - 长鑫存储技术有限公司
  • 2022-01-10 - 2023-09-05 - G11C29/12
  • 本公开提供一种存储器阵列的测试方法、装置、设备及存储介质，所述测试方法包括：将待测存储器阵列中存储单元的电容其中一个极板电压调整至高电压；按照第一预设方式将所述待测存储器阵列中存储单元存入少于预充电量的电荷；基于预设数据拓扑，将所述预设数据拓扑中数据按照第二预设方式向所述待测存储器阵列执行预设读写操作；将所述待测存储器阵列中存储单元存入少于预充电量的电荷，读取数据；根据读取的数据和第一预设方式写入数据，确定所述待测存储器阵列是否正常本公开对存入少于预充电量的电荷后的存储器阵列执行预设读写操作，使得存储器阵列中存储单元的电容电压不断变化，提高电容上极板漏电失效情况的暴露几率。
  • 存储器阵列测试方法装置设备存储介质
  • [发明专利]存储器阵列的测试方法、装置、设备及存储介质-CN202210024408.7有效
  • 刘东;楚西坤 - 长鑫存储技术有限公司
  • 2022-01-10 - 2023-09-05 - G11C29/12
  • 本公开提供一种存储器阵列的测试方法、装置、设备及存储介质，所述测试方法包括：将待测存储器阵列中存储单元的电容其中一个极板电压调整至低电压；按照第一预设方式向所述待测存储器阵列中存储单元存入大于预充电量的电荷；基于预设数据拓扑，将所述预设数据拓扑中数据按照第二预设方式向所述待测存储器阵列执行预设读写操作；向所述待测存储器阵列中存储单元存入大于预充电量的电荷，读取数据；根据读取的数据和第一预设方式写入数据，确定所述待测存储器阵列是否正常本公开对存入大于预充电量的电荷后的存储器阵列执行预设读写操作，使得存储器阵列中存储单元的电容电压不断变化，提高电容极板漏电失效情况的暴露几率。
  • 存储器阵列测试方法装置设备存储介质
  • [发明专利]存储器负载能力测试装置-CN201210399465.X无效
  • 周海清;涂一新 - 鸿富锦精密工业（深圳）有限公司;鸿海精密工业股份有限公司
  • 2012-10-19 - 2014-05-07 - G11C29/56
  • 本发明涉及一种存储器负载能力测试装置，测试装置包括存储器插槽和第一接线端。存储器插槽用于插接待测存储器，存储器插槽包括电源引脚、接地引脚和第一电压输出引脚。电源引脚用于接收外部电源电压，并用于为待测存储器供电。接地引脚连接至地，并用于与待测存储器的接地引脚连接。第一电压输出引脚用于与待测存储器的第一电压引脚连接。当测试装置对待测存储器的第一电压引脚所输出的第一电压进行测试时，第一电压输出引脚通过第一接线端输出第一电压到第一负载，以对第一电压的带载能力进行测试。使用该测试装置进行测试不仅可以节省测试时间，而且还可以保护预安装待测存储器的主机板。
  • 存储器负载能力测试装置
  • [发明专利]一种芯片的测试系统及其方法-CN201710813684.0在审
  • 潘雷;夏群兵;朱道林 - 东莞市爱协生智能科技有限公司
  • 2017-09-11 - 2018-02-02 - G01R31/28
  • 本发明公开了一种芯片的测试系统，包括测试仪、控制器和存储器；测试仪将该待测芯片的ID数据传送到控制器；控制器向测试仪发送ID读取控制信号，并接收测试仪传送的待测芯片的ID数据且转换为二进制数据；控制器根据该二进制数据获取对应的存储器地址，获取该存储器地址存储的测试状态信息如果存储器地址存储的测试状态信息为未测试数据标记，则控制器判断待测芯片未测试；如果存储器地址存储的测试状态信息为已测试数据标记，则控制器判断待测芯片已测试；存储器存储待测芯片的测试状态信息本发明可以判断待测芯片的ID是否出现重复，实现了防重码测试的功能，而且可有效防止芯片的重复测试。本发明还公开了一种芯片的测试方法。
  • 一种芯片测试系统及其方法
  • [发明专利]存储装置和减少测试针脚装置及其测试方法-CN200710001923.9有效
  • 孔繁生 - 华邦电子股份有限公司
  • 2007-01-15 - 2008-07-23 - G11C29/44
  • 本发明提出一种存储装置和减少测试针脚装置及其测试方法，该存储装置包括一个待测存储器、一个减少测试针脚装置、以及一个自我测试器。此减少测试针脚装置用于在高熔丝前测试阶段找出该待测存储器的一错误地址。而此自我测试器用于在高熔丝后(post－fuse)测试阶段检验该待测存储器是否发生错误。使用本发明的存储装置可快速找出待测存储器中有问题的存储单元的位置，以利高熔丝阶段时进行修复。此外本发明具有减少测试存储器时所需的测试针脚的特性，因此可降低测试设备的成本与增进存储器测试的效能。
  • 存储装置减少测试针脚及其方法
  • [发明专利]一种MAC地址烧录方法、装置、设备和存储介质-CN202110327420.0在审
  • 王龙 - 易兆微电子（杭州）股份有限公司
  • 2021-03-26 - 2021-06-22 - G06F8/61
  • 本发明公开了一种MAC地址烧录方法、装置、设备和存储介质，包括：通过测试设备获取用于烧录至多个待测件的媒体接入控制层MAC区间；通过测试设备根据MAC区间中的当前地址计算校验值，并将MAC区间和校验值传输至存储器中；通过当前处理待测件从存储器中读取当前地址，并烧录于非易失性存储单元中；根据烧录结果验证当前处理待测件是否对MAC地址成功烧录，并在更新完成测试设备和存储器中的当前地址和校验值后，返回执行通过当前处理待测件从存储器中读取当前地址的操作，直至完成对全部待测件的处理。本发明实施例的技术方案可以在多个烧录完成的待测件中筛选出烧录失败的待测件，提高待测件对MAC地址的烧录效率。
  • 一种mac地址方法装置设备存储介质
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