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[实用新型]一种离线式电压存储采集器-CN201721057216.7有效
发明人：蔡亚平;崔子鑫;耿云秀;亢可 -专利权人：国家电网公司;国网吉林省电力有限公司白城供电公司
申请日： 2017-08-22 - 公布日： 2018-06-29 - 主分类号： G01R19/25 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种离线式电压存储采集器，首先通过采集电路采集待测电压采集端的电压信号；然后，通过采集电路与处理电路连接将采集信号输入至处理电路，处理电路对采集信号进行信号处理后，计算出与采集信号对应的电压值；最后，通过处理电路与存储器连接，将电压值输入至存储器进行存储，实现了对待测电压采集端的电压信号的采集及存储。而且，该离线式电压存储采集器，在安装完成后，可以全自动的将采集到的电压信号转换成电压值并存储至可拆卸的存储器，节省了人力。此外，该电压存储采集器还能实现任一待测电压采集端的电压信号的采集及存储。另外，还可以通过设置处理电路的工作频率，提高电压采集密度，实现电压的高密度采集及存储。
采集处理电路电压存储采集器存储采集信号电压信号离线式存储器采集电路待测电压电压采集电压信号转换本实用新型存储器连接工作频率可拆卸的设置处理信号处理电路

[发明专利]一种服务器测试系统-CN202010523736.2在审
发明人：张思盖 -专利权人：浪潮商用机器有限公司
申请日： 2020-06-10 - 公布日： 2020-09-18 - 主分类号： G06F11/22 文献下载
摘要：本发明公开了一种服务器测试系统，由于本申请中的处理装置可以在每次控制待测服务器上电后，获取待测服务器中预设位置的日志数据并将日志数据存储在存储器中，首先机器采集预设位置的日志数据的效率要高于人工，提高了工作效率，而且可以实现自动获取及存储，无需工作人员长时间值守在待测服务器旁，降低了人力成本。
一种服务器测试系统

[发明专利]用于感测放大器的补偿的设备及方法-CN202010231073.7在审
发明人：宫武伸一;M·A·肖尔;A·J·格伦策巴赫 -专利权人：美光科技公司
申请日： 2020-03-27 - 公布日： 2020-10-20 - 主分类号： G11C7/08 文献下载
摘要：公开了用于感测放大器的补偿(例如，阈值电压补偿)的设备和方法。在确定存储器地址是否从主存储器重新映射到冗余存储器的同时，同时补偿用于访问所述主存储器的主存储器感测放大器和用于访问所述冗余存储器的冗余存储器感测放大器。在确定之后，对未被用于访问与所述存储器地址对应的所述存储器的感测放大器(例如，主存储器感测放大器和/或冗余存储器感测放大器)进行预充电。
用于放大器补偿设备方法

[发明专利]重打包应用检测方法、电子设备及存储介质-CN202111213083.9有效
发明人：秦素娟;范泽安;温巧燕;金正平 -专利权人：北京邮电大学
申请日： 2021-10-19 - 公布日： 2022-05-17 - 主分类号： G06F21/12 文献下载
摘要：本公开提供一种重打包应用检测方法、电子设备及存储介质，所述方法包括：获取待测应用与多个样本应用的源代码文件，并从中提取方法调用信息；根据所述方法调用信息从多个样本应用中筛选多个相近应用；根据所述方法调用信息确定相应的调用特征信息；根据所述调用特征信息从多个所述相近应用中筛选确定相似应用；获取所述待测应用与所述相似应用的签名信息，响应于所述待测应用的签名信息与所述相似应用的签名信息不一致，确定所述待测应用为重打包应用，所述电子设备包括存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行实现所述重打包应用检测方法的计算机程序，所述存储介质所存储计算机指令用于使计算机执行所述重打包应用检测方法。
打包应用检测方法电子设备存储介质

[发明专利]一种新型的大存储量高速FPGA辅助配置系统-CN201911129123.4有效
发明人：李明哲;陈雷;李政;李学武;孙华波;张帆;李琦 -专利权人：北京时代民芯科技有限公司;北京微电子技术研究所
申请日： 2019-11-18 - 公布日： 2023-08-08 - 主分类号： G06F11/22 文献下载
摘要：本发明涉及一种新型的大存储量高速FPGA辅助配置系统，所述的配置存储器模块中存储配置阶段主控FPGA模块的运行配置文件；配置存储器模块在每次系统上电时，将存储的运行配置文件发送至主控FPGA模块，主控FPGA；在烧写阶段，从上位机将烧写阶段配置文件发送至主控FPGA模块，主控FPGA模块完成烧写控制配置，所述上位机烧写模块将配置码流通过通信模块发送至主控FPGA模块，由主控FPGA模块将配置码流烧写至码流存储器，系统断电；在配置阶段，系统上电，待主控FPGA模块运行配置文件完成配置后，接收外部发送的配置指令，从码流存储器中获取对应的配置码流，并将获取的配置码流通过通信模块发送至待测FPGA，完成待测FPGA的配置
一种新型存储量高速 fpga 辅助配置系统

[发明专利]防止基于ReRAM的存储单元的过度编程-CN201780060379.7有效
发明人： V·赫克特 -专利权人：美高森美SOC公司
申请日： 2017-09-28 - 公布日： 2020-09-08 - 主分类号： G11C13/00 文献下载
摘要：本发明公开了一种防止电阻随机存取(ReRAM)的存储器阵列中基于ReRAM的存储器单元的过度编程的方法，包括：在编程电路路径中施加编程电压，所述编程电路路径包括待编程的ReRAM存储器单元；在所述编程电压施加于所述存储器单元上时，感测由所述ReRAM单元消耗的编程电流；以及根据编程电流的上升而减小所述编程电流。
防止基于 reram 存储单元过度编程

[实用新型]一种高速EEPROM型存储器老炼试验装置-CN202122892431.1有效
发明人：邵勇;张燕;邵珠堂 -专利权人：西安太乙电子有限公司
申请日： 2021-11-19 - 公布日： 2022-07-05 - 主分类号： G11C29/56 文献下载
摘要：本实用新型提供的一种高速EEPROM型存储器老炼试验装置，包括用于对待测EEPROM型存储器进行循环读取的老炼板，所述老炼板设置在待测EEPROM型存储器和外接的老炼设备之间；能够提供N路地址读取信号；
一种高速 eeprom 存储器试验装置

[发明专利]存储器系统的固件的掉电测试-CN202180003430.7在审
发明人：江耀峰 -专利权人：长江存储科技有限责任公司
申请日： 2021-08-31 - 公布日： 2022-01-04 - 主分类号： G11C29/04 文献下载
摘要：本发明提供了一种存储器系统的固件的掉电测试方法、存储器系统、计算机设备、计算机可读存储介质以及掉电测试系统，其中，掉电测试方法包括：在待测的固件的多个预设逻辑点触发进行掉电测试。
存储器系统掉电测试

[发明专利]一种增进存储器编程效能的方法与装置-CN201010166188.9无效
发明人：周聪乙 -专利权人：旺宏电子股份有限公司
申请日： 2010-04-19 - 公布日： 2011-03-30 - 主分类号： G11C16/02 文献下载
摘要：本发明公开一种增进存储器编程效能的方法与装置，根据待编程的数据来动态地切换感测放大器和对应的驱动器，来有效地编程电荷捕捉存储器的存储单元的方法与装置。当一数量的感测放大器和驱动得以同时操作时，使用最多为此数量的可同时操作的感测放大器和驱动器来同时地选择和编程欲编程为一相同位阶的存储单元。
一种增进存储器编程效能方法装置

[实用新型]一种LED测距装置-CN200820181591.7有效
发明人：罗立声;王艳坤 -专利权人：凌阳科技股份有限公司;北京北阳电子技术有限公司;凌通科技股份有限公司
申请日： 2008-12-31 - 公布日： 2009-10-21 - 主分类号： G01C3/00 文献下载
摘要：本实用新型提出了一种LED测距装置，包含LED感测模块和具有一存储器的控制处理模块，其中，所述LED感测模块包括至少一个LED；所述控制处理模块，用于控制所述LED进行充放电，检测所述LED的放电时间，根据所述放电时间以及所述存储器中保存的LED放电时间与待测物距离之间的对应关系信息，获取对应的待测物的距离信息。该LED测距装置利用LED的感光特性获取被测物与该LED测距装置的距离信息，其电路结构简单，运算量小，大大降低了成本。
一种 led 测距装置

[发明专利]存储器、存储阵列的检测电路及方法-CN201410184492.4有效
发明人：陈先敏;杨家奇 -专利权人：中芯国际集成电路制造(上海)有限公司
申请日： 2014-05-04 - 公布日： 2017-12-29 - 主分类号： G11C29/56 文献下载
摘要：一种存储器、存储阵列的检测电路及方法，所述存储阵列包括呈阵列排布的待测存储单元，所述待测存储单元被编程前后的等效阻抗不相等。所述存储阵列的检测电路包括N个检测单元，N为整数且N≥3；所述检测单元包括电压比较器，所述电压比较器的第一输入端适于输入基准电压，N个电压比较器的第二输入端相连并作为测试端，所述电压比较器的输出端适于输出二进制数据本发明技术方案提供的存储器、存储阵列的检测电路及方法，能够提高检测所述存储阵列的速度，节省检测时间，降低检测成本。
存储器存储阵列检测电路方法

[发明专利]一种随机存储器的在线检测装置及方法-CN201710549967.9有效
发明人：侯明;颜纪迅;刘羽;冯博;姜丹琼 -专利权人：中国航空工业集团公司西安飞行自动控制研究所
申请日： 2017-07-07 - 公布日： 2020-09-22 - 主分类号： G11C29/38 文献下载
摘要：本发明涉及一种随机存储器的在线检测装置，包括第一控制部件，原码生成部件，第二控制部件，检测执行部件和结果呈报部件；还涉及一种随机存储器的在线检测方法，包括接收检测指令；选择切换程序运行的堆栈段；选择检测原码；将检测原码写入待测存储空间的各存储单元，回读各存储单元值；将检测原码取反写入第一单元，回读判断；重复执行直到待测存储空间的所有存储单元均被写入和回读过；恢复到检测执行前状态，等待下次检测；结果呈报输出的步骤本发明实现了在不影响设备正常运行的前提下，对随机存储器在线实时、全区域覆盖的检测。
一种随机存储器在线检测装置方法

[实用新型]带数字显示功能的温度采集标签-CN201420549892.6有效
发明人：许永和;周云;徐俊;史晓婉;王圣怡 -专利权人：上海建工集团股份有限公司
申请日： 2014-09-24 - 公布日： 2015-02-11 - 主分类号： G01K7/18 文献下载
摘要：本实用新型涉及无线射频传输技术领域，公开了一种带数字显示功能的温度采集标签，其包括温度传感器、模数转换器、微处理器、存储器、数显设备、无线射频设备、电源以及天线，温度传感器与模数转换器连接，微处理器分别与模数转换器、存储器、数显设备、以及无线射频设备连接，无线射频设备与天线连接，微处理器能够接收温度数字量并将温度数字量转换成待测物的强度数字量，以供数显设备实时显示待测物的温度和/或强度数字量，便于现场施工监测；微处理器还能接收外部计算机发送的变更数据采集频率的指令，从存储器中选取所需的数据并通过所述无线射频设备及天线发送出去，以实现根据待测物温度变化趋势和工程实际需要调节数据采集频率。
数字显示功能温度采集标签

[发明专利]用于片上存储管理单元容错结构的自动验证平台与方法-CN201510617139.5有效
发明人：郭娜娜;杨博;刘虎兵;楚亚楠;谢琰瑾;田超 -专利权人：中国航天科技集团公司第九研究院第七七一研究所
申请日： 2015-09-24 - 公布日： 2018-06-22 - 主分类号： G11C29/08 文献下载
摘要：本发明提供一种能够实现对容错结构进行随机故障注入验证，验证覆盖率高的用于片上存储管理单元容错结构的自动验证平台与方法。所述平台包括调试主机，以及通过串口连接的待测主机；调试主机用于进行验证流程控制并在验证过程中进行编码结果检查、错误注入、译码结果检查以及对处理器进行监控和调试；待测主机内集成有片上存储体容错结构，用于校验码编码的生成、译码逻辑和错误注入后的译码验证以及对存储体容错结构进行自动化验证程序的加载；所述的存储体容错结构包括存储器控制模块，容错模块，选择器和存储体；存储器控制模块和容错模块分别通过选择器对存储体进行读写控制完成片上存储体容错结构的存储器工作模式和故障注入模式的控制
容错结构片上存储存储体验证存储器控制模块调试主机管理单元容错模块自动验证选择器主机存储器工作模式校验码编码编码结果串口连接读写控制流程控制随机故障验证程序验证过程译码结果译码逻辑处理器加载译码调试检查自动化覆盖率监控

[发明专利]存储器地址确定方法与电子设备-CN202210769193.1在审
发明人：蒋国兵 -专利权人：长鑫存储技术有限公司
申请日： 2022-06-30 - 公布日： 2022-10-04 - 主分类号： G11C29/18 文献下载
摘要：本公开提供一种存储器地址确定方法与电子设备。方法包括：确定待测存储器的每个存储体对应的第一物理地址集；顺次使用第一预设特征函数集合中的多个第一特征函数与每个第一物理地址集中的多个物理地址进行按位与运算，以确定待测存储器对应的阵列映射函数；根据阵列映射函数确定每个存储体对应的第二物理地址集；在每个存储体对应的第二物理地址集中确定每一个存储体行对应的第三物理地址集；顺次使用第二预设特征函数集合中的多个第二特征函数与第三物理地址集中的每个物理地址进行按位与运算，以确定第三物理地址集对应的行地址映射函数本公开实施例可以测得存储器的物理地址与存储器的存储单元位置之间的映射关系。
存储器地址确定方法电子设备