专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [实用新型]一种继电器切换次数检测装置-CN202220440901.2有效
  • 邬刚 - 杭州加速科技有限公司
  • 2022-03-01 - 2022-09-27 - G01R31/327
  • 本实用新型提供了一种继电器切换次数检测装置,检测装置包括:主控电路,用于输出关于驱动继电器的控制信号和数据信号,存储各个继电器的控制信号的输出次数,并将输出次数发送至存储存储,电性连接主控电路,用于存储各个继电器的控制信号的输出次数;驱动电路,电性连接主控电路和继电器,且配置有转换电路,用于接收数据信号,通过转换电路将数据信号转换为驱动信号,根据控制信号将驱动信号输出至相应的继电器本实用新型的检测装置,能够准确存储各个继电器的使用次数,且硬件电路简单,不增加多余检测器件,不过多占用单板面积。
  • 一种继电器切换次数检测装置
  • [实用新型]可同时测试多个芯片的测试装置以及单颗芯片测试机-CN200520141897.6无效
  • 滕贞勇;许益彰;许丽娇 - 普诚科技股份有限公司
  • 2005-11-25 - 2007-02-21 - G01R31/28
  • 一种可同时测试多个芯片的测试装置以及单颗芯片测试机。该测试装置包括一单颗芯片测试机以及一支持。该单颗芯片测试机包括一模式存储以及一微处理,该模式存储包括多个模式子存储,用来分别对该多个芯片进行功能模式测试以产生对应于该多个芯片的一测试结果;该微处理器用来控制测试的进行并且依据该测试结果产生一接口控制信号该支持耦接于该测试机,用来启动该微处理进行测试,并且接收该接口控制信号以完成置于该支持上的该多个芯片的测试。该测试装置同时具有单颗芯片测试机低成本及多颗芯片测试机较短测试时间的优势。
  • 同时测试多个待测芯片装置以及
  • [实用新型]多功能电-CN202222230127.5有效
  • 刘平;邢高垒;张健;冯浩 - 肃陈电气有限公司
  • 2022-08-24 - 2022-12-30 - G01R15/12
  • 本实用新型公开了一种多功能电表,包括:电流取样电路,与外部线路连接;电压取样电路,与外部线路连接;电能计量芯片,与电流取样电路和电压取样电路连接,该电能计量芯片还产生电能脉冲;微处理,与电能计量芯片连接;存储,与微处理连接;LCD显示屏,与微处理连接。本实用新型的多功能电表,通过存储的设置可有效的实现对于微处理计算得出的电参数进行存储
  • 多功能电测表
  • [发明专利]测试系统和测试方法-CN202010337264.1在审
  • 刘谨祯 - 新唐科技股份有限公司
  • 2020-04-26 - 2021-06-25 - G01R31/28
  • 上述测试方法的步骤包括,当在一测试机台执行一测试程序,以对一物进行一测试流程时,读取储存在一控制芯片的一第一存储物信息,以判断上述物是否符合上述物信息,其中上述控制芯片配置在一测试治具中,且上述测试治具安装在上述测试机台上;当上述物符合上述物信息时,开始进行上述测试流程;以及将对应上述测试流程的测试信息写入上述控制芯片的一第二存储中。
  • 测试系统方法
  • [实用新型]一种MCU兼容性检测装置-CN202121371304.0有效
  • 汪栋杰;区健庆;孙万里;杜云辉 - 珠海极海半导体有限公司
  • 2020-11-18 - 2022-05-17 - G06F11/36
  • 本申请实施例提供一种MCU兼容性检测装置,包括存储,其存储有MCU运行需要配置模块的标准配置值和/或预设配置值范围;连接端口,用于建立通信连接,接收用于MCU的程序,该程序中包含MCU运行需要配置模块的第一配置值;检测电路,包括配置值寻址电路,所述配置值寻址电路从该程序中查找该MCU运行需要配置模块的第一配置值,所述检测电路将该MCU运行需要配置模块的第一配置值与所述存储存储的MCU运行需要配置模块的标准配置值和/或预设配置值范围进行比较,基于比较结果确定该程序是否兼容于MCU;输出单元,输出该程序是否兼容于MCU的兼容性检测结果。
  • 一种mcu兼容性检测装置
  • [发明专利]驱动故障检测系统及方法-CN200810305955.2无效
  • 陈信安;林佑任;洪荣聪;陈世章;洪荣煌;赖幼仙 - 鸿富锦精密工业(深圳)有限公司;赐福科技股份有限公司
  • 2008-12-04 - 2010-06-23 - G01R31/00
  • 一种驱动故障检测系统,其包括一人机介面、一控制及一存储,所述存储用于存放一驱动的参数的参考值数据库,所述人机介面用于输入所述驱动的参数的采样时间至所述控制,所述控制根据采样时间对所述驱动的参数采样以得到所述驱动的参数的当前采样值,所述控制通过比较所述驱动的参数的当前采样值与所述驱动的参数的参考值判断所述驱动的参数的当前采样值是否正常,若所述驱动的参数的当前采样值异常,所述控制产生一报警信号,并将所述驱动的参数的当前采样值传送至所述人机介面本发明还提出一种利用驱动故障检测系统的驱动故障检测方法。
  • 驱动器故障检测系统方法

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