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[发明专利]场桥下集卡对位方法、装置、终端、存储介质及处理器-CN202010870749.7有效
发明人：黎广宇;李林;张钊;王俊文;王太伟 -专利权人：交通运输部水运科学研究所
申请日： 2020-08-26 - 公布日： 2023-08-25 - 主分类号： G06T7/70 文献下载
摘要：本发明公开了一种场桥下集卡对位方法、装置、终端、存储介质及处理器，该方法包括：通过图像采集装置采集集卡侧面标识目标的图像信息；根据所述图像信息，对集卡进行视觉定位，得到视觉定位结果；根据所述视觉定位结果、以及场桥和集卡的系统性静态偏移量，确定所述集卡的对位偏差，并确定对位偏差是否小于预设的偏差阈值；若对位偏差小于所述偏差阈值，则确定集卡对位成功，并发出所述集卡对位成功的第一提醒消息；若对位偏差大于或等于偏差阈值，则确定集卡对位不成功，并输出集卡的对位偏差以发出集卡的位置需要调整的第二提醒消息。该方案，能够降低集装箱门式起重机下集装箱卡车停车对位的操作难度。
桥下对位方法装置终端存储介质处理器

[发明专利]对位方法、对位系统和装置、计算机设备、存储介质-CN202211345593.6在审
发明人：杨智超;倪厚名;郑红;彭兆基 -专利权人：广州国显科技有限公司;昆山国显光电有限公司
申请日： 2022-10-31 - 公布日： 2023-01-20 - 主分类号： G06T5/00 文献下载
摘要：本申请涉及一种对位方法、对位系统和装置、计算机设备、存储介质。方法包括：根据多个显示面板的图像信息获取对位偏差，所述显示面板由基板与薄膜压合形成，所述对位偏差为所述基板的对位标记与所述薄膜的对位标记之间的坐标偏差；根据所述对位偏差和预设校准权重获取对位补偿值；根据所述对位补偿值控制压合装置对待压合的所述薄膜的位姿进行校正本申请的方法能够自动的识别当前对位工艺的对位偏差，并自动的对待压合的薄膜进行校正，提高了薄膜与基板压合时的对位精度。
对位方法系统装置计算机设备存储介质

[发明专利]一种用于柔性电路板FPC与屏体cell对位压接的标定方法-CN202111608746.7在审
发明人：钟立华;朱邦余;李欣 -专利权人：昆山福拉特自动化设备有限公司
申请日： 2021-12-27 - 公布日： 2022-04-05 - 主分类号： G06T7/80 文献下载
摘要：本发明一种用于柔性电路板FPC与屏体cell对位压接的标定方法，通过对位相机在线标定，减少不确定参数进行对位计算的手段或方案，达到了消除加工误差、安装误差及其它环境误差带来的对位偏差，提高对位精度的效果标定工业相机视野与对位平台的相对坐标关系，包括像素个数与实际距离间的关系和相机坐标与平台坐标间的角度关系。在任一相机发生位置或角度偏离，标定后不会影响对位结果。本发明不会因FPC安装偏差、Cell放置偏差、相机安装偏差、平台安装偏差等问题导致对位偏差。
一种用于柔性电路板 fpc cell 对位标定方法

[发明专利]用于立体显示装置的对位系统及对位方法-CN201110413335.2有效
发明人：毛联波;简廷宪 -专利权人：昆山龙腾光电有限公司
申请日： 2011-12-13 - 公布日： 2012-03-28 - 主分类号： G02B27/26 文献下载
摘要：本发明涉及用于立体显示装置的对位系统及对位方法。在该对位系统中，利用取像装置在该微相位差膜贴附于该液晶显示面板的部分区域后分别获取包含第一取像点及第二取像点所在位置的对位偏差图像，并将对位偏差图像信息传递给对位控制装置；该对位控制装置从对位偏差图像计算出第一对位偏差距离与第二对位偏差距离，该微相位差膜与该液晶显示面板的偏差角度，从而控制该贴附装置与该承载装置中的至少一个进行调整以补偿该偏差角度，进而在该液晶显示面板中还未贴附微相位差膜的区域继续贴附该微相位差膜。
用于立体显示装置对位系统方法

[发明专利]一种对位偏差处理方法和电子设备-CN202310712103.X在审
发明人：林有彪;荆和平 -专利权人：深圳荣耀智能机器有限公司
申请日： 2023-06-15 - 公布日： 2023-08-04 - 主分类号： G06T7/73 文献下载
摘要：本申请公开一种对位偏差处理方法和电子设备，涉及工业自动化设备贴合技术领域，应用于对位贴合系统，对位贴合系统包括控制装置、图像采集装置、运动装置和物料放置装置。控制装置获取由图像采集装置采集的物料图像，对物料图像进行图像识别，获取物料图像中第一物料与第二物料的位置偏差。控制装置获取对位贴合系统的预设补偿量，根据预设补偿量和位置偏差确定对位贴合系统的混合偏差值。如果混合偏差值不满足预设精度要求，控制装置基于混合偏差值控制运动装置进行对位校准，并返回执行获取物料图像的步骤，直到混合偏差值满足预设精度要求，控制装置控制运动装置进行贴合操作。本方案提前作用补偿量，提高了对位贴合系统精度和准确性。
一种对位偏差处理方法电子设备

[发明专利]曝光对位系统-CN201210261842.3有效
发明人：李炬;肖丽;王金鹏;李松凌;王安建;佘瑞峰 -专利权人：四川聚能核技术工程有限公司
申请日： 2012-07-26 - 公布日： 2012-10-31 - 主分类号： G03F7/20 文献下载
摘要：本发明公开了一种曝光对位系统，用于印制电路板晒架，该系统包括：底片偏差感应模块，用于上底片、下底片之间的第一位置偏差；底片对位模块，用于根据所述第一位置偏差确定底片移动值，进行所述上底片、所述下底片的对位；锁定模块，用于将对位完成的所述上底片、所述下底片进行位置锁定；覆铜箔板偏差感应模块，用于确定所述覆铜箔板与所述上底片或所述下底片之间的第二位置偏差；覆铜箔板对位模块，用于根据所述第二位置偏差驱动所述覆铜箔板板进行所述覆铜箔板与所述上底片、所述下底片的对位。该系统能够简化对位操作。
曝光对位系统

[实用新型]曝光对位系统-CN201220366130.3有效
发明人：李炬;肖丽;王金鹏;李松凌;王安建;佘瑞峰 -专利权人：四川聚能核技术工程有限公司
申请日： 2012-07-26 - 公布日： 2013-03-27 - 主分类号： G03F7/20 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种曝光对位系统，用于印制电路板晒架，该系统包括：底片偏差感应模块，用于上底片、下底片之间的第一位置偏差；底片对位模块，用于根据所述第一位置偏差确定底片移动值，进行所述上底片、所述下底片的对位；锁定模块，用于将对位完成的所述上底片、所述下底片进行位置锁定；覆铜箔板偏差感应模块，用于确定所述覆铜箔板与所述上底片或所述下底片之间的第二位置偏差；覆铜箔板对位模块，用于根据所述第二位置偏差驱动所述覆铜箔板进行所述覆铜箔板与所述上底片、所述下底片的对位。该系统能够简化对位操作。
曝光对位系统

[发明专利]柔性线路板覆盖膜偏差检测方法-CN201611249666.6在审
发明人：饶华 -专利权人：深圳市鑫达辉软性电路科技有限公司
申请日： 2016-12-29 - 公布日： 2017-04-26 - 主分类号： H05K3/00 文献下载
摘要：本发明公开了一种柔性线路板覆盖膜偏差检测方法，包括以下步骤S1、在软板基材上设置至少两个对位图形；S2、对对位图形进行蚀刻处理，形成第一对位孔；S3、提供与软板基材外周一致的覆盖膜，对应第一对位孔在覆盖膜上设置至少两个第二对位孔；第二对位孔小于第一对位孔；S4、将覆盖膜贴压到软板基材上；S5、根据所述第二对位孔是否位于所述第一对位孔内判断所述覆盖膜的偏差情况。本发明的柔性线路板覆盖膜偏差检测方法，通过在软板基材和覆盖膜上设置对位孔，在软板基材和覆盖膜贴合后，根据两个对位孔的位置可直观判定覆盖膜在软板基材上的偏差情况，从而可准确快速地将偏差不合格的产品筛选出来
柔性线路板覆盖偏差检测方法

[发明专利]一种基于最小化距离偏差的对位方法及装置-CN201811358794.3有效
发明人：杜海洋;姚毅;安登奎 -专利权人：凌云光技术股份有限公司
申请日： 2018-11-15 - 公布日： 2021-06-11 - 主分类号： G06T7/73 文献下载
摘要：本申请实施例示出一种基于最小化距离偏差的对位方法及装置，首先，最小化距离偏差的对位方法直接以对位产品规格为目标入手，计算的对位结果更符合生产的评价基准；其次，本申请实施例示出的对位方法，能够有效地解决非居中对位难题，适用于实际生产中不规则形状产品的对位场景。
一种基于最小化距离偏差对位方法装置

[发明专利]一种芯片转移对位方法、设备、显示面板及存储介质-CN202011166911.3有效
发明人：王斌;范春林;汪庆 -专利权人：重庆康佳光电技术研究院有限公司
申请日： 2020-10-27 - 公布日： 2022-04-19 - 主分类号： H01L33/62 文献下载
摘要：本发明涉及一种芯片转移对位方法、设备、显示面板及存储介质。在将供基板上的芯片转移到受基板之前，会先基于各芯片在供基板上实际位置确定供基板上芯片整体的实际位置相较于理想位置的整体位置偏差。在通过供基板上第一对位标记与受基板上第二对位标记实现供、受基板的初对位之后，根据整体位置偏差进一步调整供基板与受基板的相对位置，对芯片在供基板上已经呈现的位置偏差进行补偿，摒弃了在供基板上芯片的位置存在偏差的情况下仍然按照理想情况对供基板与受基板进行对位的做法，通过正视并补偿芯片在供基板上的位置偏差提升了芯片转移到受基板的对位精度，提高了芯片转移的成功率。
一种芯片转移对位方法设备显示面板存储介质

[发明专利]一种辅助集装箱堆场的单集装箱精确对位的方法-CN202011516102.0在审
发明人：张冉;林麒;乐群凯;王定 -专利权人：宁波大榭招商国际码头有限公司
申请日： 2020-12-21 - 公布日： 2021-05-04 - 主分类号： G01S17/06 文献下载
摘要：本发明涉及导航定位技术领域，尤其涉及一种辅助集装箱堆场的单集装箱精确对位的方法。它包括以下步骤：1、设定无人驾驶集卡上的对位基准线，并且得到安装在无人驾驶集卡上的探测设备与对位基准线之间的距离S2；2、将集装箱放置在无人驾驶集卡上；3、通过探测设备探测集装箱与探测设备之间的距离S1，然后得到该集装箱的偏差值S＝S1‑S2；4、根据步骤(3)得到的偏差值S与步骤(1)设定的对位基准线得到实际对位线；5、无人驾驶集卡通过步骤(4)得到的实际对位线进行对位。采用这种方法可以计算出拖挂上单个集装箱的位置与对位点的偏差，作为偏差值输入无人驾驶集卡，辅助无人驾驶集卡进行箱区堆场内的精准对位。
一种辅助集装箱堆场精确对位方法

[发明专利]双折射透镜光栅的对位系统及对位方法-CN201610315818.1有效
发明人：顾开宇;王华波 -专利权人：宁波维真显示科技股份有限公司
申请日： 2016-05-12 - 公布日： 2018-08-07 - 主分类号： G02B27/22 文献下载
摘要：双折射透镜光栅的对位系统及对位方法，属于立体显示技术领域，本发明为解决现有双折射透镜光栅的对位技术采用人工方式效率低、精度差；采用CCD图像传感器识别对设备要求较、投入大的问题。本发明方案：通过改变液晶光阀的通断电状态来控制双折射透镜光栅呈现2D显示状态；控制器控制液晶显示屏显示遮光矩形参考图案，采集图像单元采集双折射透镜光栅和液晶显示屏的对位偏差图像信息，该对位偏差图像信息中包括透过来的遮光矩形参考图案；采集图像单元将采集到的对位偏差图像信息发送给控制器，控制器根据该对位偏差图像信息，并以遮光矩形参考图案为依据驱动对位调节装置工作，调节双折射透镜光栅到达目标位置，完成双折射透镜光栅与液晶显示屏的对位。
双折射透镜光栅对位系统方法

[发明专利]一种降低PCB板钻孔磨损的方法-CN202110203842.7有效
发明人：罗来义 -专利权人：奥士康科技股份有限公司
申请日： 2021-02-24 - 公布日： 2022-08-19 - 主分类号： H05K3/00 文献下载
摘要：降低PCB板钻孔磨损的方法，包括以下步骤：测量钻孔机台的孔位置偏差、层间对位偏差、压合对位偏差，将孔位置偏差值设为A，将层间对位偏差值设置为B，将压合对位偏差值设置为C；将大于A*2*2+B*2+C*2
一种降低 pcb 钻孔磨损方法

[发明专利]一种芯片巨量转移封装纠偏对位系统及其应用方法-CN202211077592.8有效
发明人：汤晖;贾英杰;吴诗锐;廖智燊;董志强 -专利权人：广州纳动半导体设备有限公司
申请日： 2022-09-05 - 公布日： 2023-03-24 - 主分类号： H01L21/68 文献下载
摘要：本发明公开了一种芯片巨量转移封装纠偏对位系统及其应用方法，包括装载移动板、芯片装载平台和水平偏移检测组件；芯片装载平台包括装载圆盘组件、倾斜调平组件、水平偏移调节组件、倾斜检测器和控制器；芯片装载于装载圆盘组件；倾斜检测器用于测量平行度偏差；倾斜调平组件用于纠偏平行度偏差；水平偏转检测组件用于测量水平旋转角度偏差。本申请通过倾斜检测器和水平偏移检测组件精准检测装载圆盘组件与显示面板之间的对位偏差，然后再通过倾斜调平组件和水平偏移调节组件分别进行平行度偏差的纠偏和水平旋转角度偏差的纠偏，减少装载圆盘组件与显示面板之间的对位偏差，确保芯片在巨量转移中的对位精度，保证芯片转移后的产品使用性能。
一种芯片巨量转移封装纠偏对位系统及其应用方法

[发明专利]一种曝光机8CCD双面同时对位方式-CN201510832143.3有效
发明人：李矩;佘瑞峰;肖丽;李松凌;李小蓉;谭辉;王金鹏;李辉;佘振宇 -专利权人：四川聚能核技术工程有限公司
申请日： 2015-11-25 - 公布日： 2017-04-12 - 主分类号： G03F7/20 文献下载
摘要：本发明公开了一种曝光机8CCD双面同时对位方式，包括一套对位平台、控制器和分别设置在对位平台上方和下方的四套CCD系统，对位平台上部的CCD系统检测上底片与PCB板上面对位靶点的位置偏差，对位平台下部的CCD系统检测下底片与PCB板下面对位靶点的位置偏差，对位软件计算偏差移动量，控制器控制对位平台的上下底片分别于PCB板的上下靶点对位，实现每块PCB板的双面同时对位功能。本发明实现每块PCB板的上、下两面同时与上、下底片对位，PCB板和两张底片在同一个温、湿度环境条件下对位曝光，可以取得更好的一致性，提高良品率，本发明只安装一套对位平台，对位精度高，对位效率快。
一种曝光 ccd 双面同时对位方式

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