专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]一种发光二极管外延片及其制备方法-CN202210541077.4有效
  • 侯合林;谢志文;张铭信;陈铭胜 - 江西兆驰半导体有限公司
  • 2022-05-19 - 2022-09-02 - H01L33/14
  • 本发明提供一种发光二极管外延片及其制备方法,所述发光二极管外延片包括:衬底,以及在衬底上依次层叠的缓冲、三维成核、二维恢复、未掺杂的GaN、N型GaN、多量子、P型电子阻挡、P型非掺杂GaN、P型Mg掺杂GaN和P型接触;P型电子阻挡包括m个超晶格结构;超晶格结构为由nm个周期性排布的InxGa1‑xN/AlymGa1‑ymN所组成的超晶格结构;沿多量子至所述P型非掺杂GaN方向上,各个超晶格结构中的Al组分浓度先逐渐增高后逐渐降低。本发明解决了现有P型电子阻挡与多量子和P型GaN间的晶格失配所带来的降低了发光二极管外延片的发光效率的问题。
  • 一种发光二极管外延及其制备方法
  • [发明专利]一种半导体量子光探测器件-CN201210151113.2无效
  • 安正华;王恒亮 - 复旦大学
  • 2012-05-16 - 2012-10-03 - H01L31/0352
  • 本发明属于光波探测器技术领域,具体涉及一种半导体量子光探测器件。该探测器包括半导体、量子和一亚波长周期性结构的金属膜;量子中至少具有两个能级,并具有一定的载流子浓度。一定频谱宽度入射光波垂直或倾斜于半导体入射,入射光波激发周期性结构的金属膜/量子界面的表面等离子体,表面等离子体被半导体量子吸收并发生电子带跃迁过程,跃迁的电子在外加偏压下形成电流信号。本发明中的半导体量子光探测器件,其探测效率可大幅度提高。
  • 一种半导体量子探测器件
  • [发明专利]一种具有类超晶格结构的选通管及其制备方法-CN202011100542.8有效
  • 童浩;王伦;王位国;缪向水 - 华中科技大学
  • 2020-10-15 - 2022-08-12 - H01L45/00
  • 选通管包括衬底以及依次层叠在衬底上的第一金属电极、类超晶格以及第二金属电极,类超晶格包括周期性交替层叠的n+1个第一和n个第二,第一的材料包括GeS或GeSe,第二的材料包括GeTe由于GeS和GeSe材料均具有较高的稳定性,可以阻止由于高温导致的第二材料中的Te的扩散分离。同时,类超晶格结构各很薄,相邻之间的耦合很强,在类超晶格中形成周期性的量子势阱,原来在各量子中的分立的能级扩展成为能带,可以减小带隙宽度,从而降低功耗,并且更好的与存储器件单元集成。
  • 一种具有晶格结构选通管及其制备方法
  • [发明专利]一种发光二极管-CN202210146631.9有效
  • 朱涛;程志青;芦玲 - 淮安澳洋顺昌光电技术有限公司
  • 2022-02-17 - 2023-09-22 - H01L33/12
  • 该发光二极管包括衬底、缓冲、N型半导体、应力释放、多量子发光和P型半导体;应力释放包括在N型半导体上至少一个周期层叠设置的第一和第二;第一包括掺杂第一杂质的GaN、未掺杂的GaN和InGaN中的至少两种;第二为AlGaN。本发明通过设置AlGaN,能提高应力释放的禁带宽度,提高势垒,极大降低在大电流密度下空穴从V型坑底部穿透到应力释放的概率;高势垒的存在使得电子进入多量子发光时,电流分布更加均匀;且更高的势垒还增加了对位错屏蔽的效果
  • 一种发光二极管
  • [实用新型]一种大功率平面栅D‑MOSFET结构-CN201720290593.9有效
  • 张学强;张振中;和巍巍;汪之涵 - 深圳基本半导体有限公司
  • 2017-03-23 - 2018-02-16 - H01L29/06
  • 本实用新型提供一种大功率平面栅D‑MOSFET结构,所述平面栅D‑MOSFET为N‑MOS结构或P‑MOS结构,包括P‑或N‑,门极,N+源区或P+源区,源极,绝缘,N‑漂移区或P‑漂移区,漏极,所述N‑MOS结构的P‑结构转角区域为阶梯组成的阶梯状结构;所述P‑MOS结构的N‑结构转角区域为阶梯组成的阶梯状结构。所述阶梯状结构降低了P‑结构和N‑结构转角区域的等效界面曲率,从而降低了该区域的最大电场强度,降低D‑MOSFET内部雪崩击穿的可能性,改善D‑MOSFET的可靠性,并提高D‑MOSFET的整体可用性
  • 一种大功率平面mosfet结构
  • [发明专利]光电集成电路-CN201480034881.7无效
  • G.W.泰勒 - 欧培拉太阳能公司;康涅狄格大学
  • 2014-06-11 - 2016-03-02 - H01L29/15
  • 半导体器件包括:衬底,支承包括与量子中的量子点(QD-in-QW)结构偏移的至少一个调制掺杂的量子(QW)结构的多个。所述调制掺杂的QW结构包括被通过间隔壁与至少一个QW间隔开的电荷片。所述QD-in-QW结构可以包括至少一个被通过势垒分离开的模板/发射结构配对,所述模板子结构与所述发射结构相比具有更小的大小的QD。
  • 光电集成电路
  • [发明专利]一种浅沟槽隔离结构及其制作方法-CN201210030270.8有效
  • 刘金华 - 中芯国际集成电路制造(上海)有限公司
  • 2012-02-10 - 2013-08-14 - H01L21/762
  • 本发明提供一种浅沟槽隔离结构及其制作方法,包括:提供半导体衬底;在半导体衬底中形成具有第一宽度的第一浅沟槽隔离结构;在半导体衬底上形成覆盖第一浅沟槽隔离结构的第一外延;在第一外延中形成具有第二宽度的第二浅沟槽隔离结构,第二浅沟槽隔离结构位于第一浅沟槽隔离结构的正上方,第二宽度大于第一宽度;在第一外延上形成覆盖第二浅沟槽隔离结构的第二外延;在第二外延中形成具有第三宽度的第三浅沟槽隔离结构,第三浅沟槽隔离结构位于第二浅沟槽隔离结构的正上方该浅沟槽隔离结构呈“十”字形来保证载流子在区和区相对侧的晶体管的源/漏极之间的移动路径,以保证其隔离性。
  • 一种沟槽隔离结构及其制作方法
  • [发明专利]一种发光二极管外延片及其制造方法-CN201410222155.X有效
  • 孙玉芹;王江波;刘榕 - 华灿光电(苏州)有限公司
  • 2014-05-23 - 2017-06-30 - H01L33/06
  • 所述外延片包括蓝宝石衬底、以及依次层叠在蓝宝石衬底上的未掺杂GaN、N型、有源、P型,有源包括交替生长的量子和量子垒,量子为InGaN,量子垒包括第一量子垒和第二量子垒,第二量子垒为有源中最靠近P型的一个量子垒,第一量子垒为除第二量子垒以外的量子垒,第一量子垒为GaN,第二量子垒包括交替生长的第一和第二,第一为GaN,第二为AlGaN。本发明通过将有源中最靠近P型的量子垒改为交替生长的GaN和AlGaN,提高了发光二极管的发光效率。
  • 一种发光二极管外延及其制造方法

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