专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]一种LED芯片及其制备方法-CN202310906528.4在审
  • 张雪;李美玲;张星星;林潇雄;胡加辉;金从龙 - 江西兆驰半导体有限公司
  • 2023-07-21 - 2023-10-27 - H01L33/44
  • 本发明提供一种LED芯片及其制备方法,LED芯片包括外延片以及设置在外延片上的P型电极和N型电极,外延片还包括绝缘阻挡层、以及沉积在P型电极和N型电极的表面上的钝化层、以及沉积在钝化层上的超疏水膜层;P型电极和N型电极与外延片之间均设有绝缘阻挡层;绝缘阻挡层在P型电极所在位置设有第一通孔,P型电极通过第一通孔与外延片电连接,绝缘阻挡层在N型电极所在位置设有第二通孔,N型电极通过第二通孔与外延片电连接。本发明主要通过在不改变封装打线面积的前提下拉大PN电极间距、以及表面膜层设计来减少水汽残留等手段,来解决水汽引发的短路及金属移异常的问题。
  • 一种led芯片及其制备方法
  • [发明专利]一种倒装发光二极管芯片及其制备方法-CN202311206427.2在审
  • 李文涛;鲁洋;林潇雄;胡加辉;金从龙 - 江西兆驰半导体有限公司
  • 2023-09-19 - 2023-10-27 - H01L33/46
  • 本发明涉及半导体技术领域,尤其涉及一种倒装发光二极管芯片及其制备方法,包括以下步骤:提供一衬底,在衬底上沉积外延层;在外延层上沉积第一欧姆接触层,在第一欧姆接触层上沉积多个光角转换层;在第一欧姆接触层上沉积第二欧姆接触层;在第二欧姆接触层的边缘制备外延层凹部;对外延层凹部进行刻蚀处理,形成隔离槽;在第二欧姆接触层上依次涂覆多层光刻胶,在多层光刻胶上制备反射层开口;在光刻胶表面依次沉积Ag层和Ti层,保留反射层开口内的Ag层和Ti层,以形成反射镜层;在反射镜层上沉积绝缘保护层,并制备N型绝缘层通孔和P型绝缘层通孔;在绝缘保护层上沉积N型焊盘层和P型焊盘层。本发明能够有效减少反射镜层脱落的风险。
  • 一种倒装发光二极管芯片及其制备方法
  • [发明专利]一种发光二极管外延片及制备方法-CN202311188650.9在审
  • 程龙;郑文杰;高虹;刘春杨;胡加辉;金从龙 - 江西兆驰半导体有限公司
  • 2023-09-15 - 2023-10-27 - H01L33/12
  • 本发明提供一种发光二极管外延片及制备方法,所述发光二极管外延片包括有源层,所述有源层包括多个周期性交替生长的复合量子阱层和量子垒层,所述复合量子阱层包括依次层叠的极化调控层、第一应变补偿层、量子阱层、第二应变补偿层;所述第一应变补偿层为ScAlN层,所述ScAlN层中Sc组分沿其生长方向逐渐下降,所述ScAlN层中In组分沿其生长方向逐渐升高,所述第二应变补偿层为AlInN层,所述AlInN层中Al组分沿其生长方向逐渐升高,所述AlInN层中In组分沿其生长方向逐渐降低,降低量子阱层缺陷密度,提高量子阱层晶体质量,降低有源层极化效应,提高有源层的发光效率。
  • 一种发光二极管外延制备方法
  • [发明专利]一种LED芯片制备方法、LED芯片-CN202310915470.X在审
  • 周志兵;张星星;林潇雄;胡加辉;金从龙 - 江西兆驰半导体有限公司
  • 2023-07-25 - 2023-10-24 - H01L33/00
  • 本发明提供一LED芯片制备方法、LED芯片,提供一包含电流阻挡层的半成品芯片,利用电子束蒸镀方式在电流阻挡层上制备ITO膜层,将半成品芯片浸入酸性溶液中,以使酸性溶液透过ITO膜层对电流阻挡层进行侵蚀,采用电子束蒸镀的方式制备ITO膜层的方式,此方式制备的ITO膜层相较磁控溅射获取的膜层在未退火之前更加疏松,正因为ITO膜层在未退火之前致密性较差,因此可依靠未退火ITO膜层疏松特性,在电流阻挡层上方镀ITO膜层,使其浸泡在HF溶液中,通过疏松膜层的扩散作用,HF酸渗透ITO膜层刻蚀底部电流阻挡层,刻蚀效果为多孔结构,从而达到电流阻挡层层表面的粗化目的。
  • 一种led芯片制备方法
  • [发明专利]一种Micro LED芯片测试方法及装置-CN202311025256.3在审
  • 汪恒青;张星星;林潇雄;胡加辉;金从龙 - 江西兆驰半导体有限公司
  • 2023-08-15 - 2023-10-24 - G01R31/28
  • 本发明提供一种Micro LED芯片测试方法及装置,方法包括提供一基板,在基板上制备两通孔,并在基板上沉积导电金属层;刻蚀导电金属层,以在基板上形成电极总线;在基板上涂覆绝缘保护层,并在绝缘保护层上开设若干测试孔,以漏出预设位置的电极总线;在测试孔上沉积测试电极,使测试电极与待测芯片电极一一对应并贴合;采用激光照射待测芯片,得到待测芯片的发光信息,并通过测试电极测量待测芯片的电压信号及电流信号;将测试电极的阴极和阳极分别汇总到阴极总线、阳极总线,并将阴极总线与阳极总线接入测试信号源,以测试电压信号及电流信号。本发明接触的对待测芯片进行测试,无需探针卡对待测芯片进行测试,有效降低测试成本。
  • 一种microled芯片测试方法装置
  • [发明专利]一种倒装发光二极管芯片及其制备方法-CN202311206423.4在审
  • 李文涛;鲁洋;林潇雄;胡加辉;金从龙 - 江西兆驰半导体有限公司
  • 2023-09-19 - 2023-10-24 - H01L33/44
  • 本发明涉及半导体技术领域,尤其涉及一种倒装发光二极管芯片及其制备方法;包括以下步骤:提供一衬底,在衬底上沉积隔离层,对隔离层进行刻蚀形成第一容纳槽;在第一容纳槽内沉积外延层;在隔离层上沉积Ag环层;在Ag环层上沉积Ag环保护层,在外延层上沉积电流阻挡层;对部分外延层进行刻蚀形成N型导电台阶;在电流阻挡层上沉积电流扩展层;在N型导电台阶上沉积N型电极,在电流扩展层上沉积P型电极;在电流扩展层上沉积布拉格反射层;对衬底底部进行刻蚀形成第一斜坡及第二斜坡。本发明利用隔离层隔离外延层,无需制备隔离槽隔离外延层,有效避免了因外延层非辐射复合的增加,从而导致外延层材料内量子效率降低的问题。
  • 一种倒装发光二极管芯片及其制备方法

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