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[发明专利]单粒子图像处理方法、装置、电子设备和存储介质-CN202310432677.1在审
发明人：王辰龙;孔方;宋乐 -专利权人：百图生科（北京）智能技术有限公司
申请日： 2023-04-21 - 公布日： 2023-07-18 - 主分类号： G06V20/69 文献下载
摘要：本公开提供一种单粒子图像处理方法、装置、电子设备和存储介质。该方法的一具体实施方式包括：获取冷冻电镜针对样本膜蛋白输出的单粒子图像集合；利用所述单粒子图像集合对单粒子图像降噪模型进行训练，以使所述单粒子图像降噪模型能够学习到所述样本膜蛋白的三维结构；将第一单粒子图像输入训练后的所述单粒子图像降噪模型，得到与所述第一单粒子图像对应的降噪后第一单粒子图像，所述第一单粒子图像为所述单粒子图像集合中的单粒子图像。该实施方式提高了对单粒子图像进行降噪的清晰度。
粒子图像处理方法装置电子设备存储介质

[发明专利]一种系统级单粒子效应影响表征参数的评价方法-CN201610192270.6有效
发明人：林益明;于登云;郑玉展;赵海涛;蔡震波;张庆祥 -专利权人：北京空间飞行器总体设计部
申请日： 2016-03-30 - 公布日： 2019-01-15 - 主分类号： G06F17/50 文献下载
摘要：本发明公开了一种系统级单粒子效应影响表征参数及评价方法：根据系统功能分析，建立以元器件为底事件的系统功能模型，结合元器件单粒子敏感性分析，建立系统单粒子效应影响功能模型；基于单粒子效应试验数据，计算分析敏感元器件的单粒子事件率，采用故障注入、重离子辐照试验法或系统历史数据分析方法确定系统各层次间单粒子效应影响传递因子；基于单粒子事件的叠加性原理，计算系统单粒子事件率；结合单粒子效应影响中断时间，计算系统单粒子效应危害度和可用性本发明采用定量的方法表征单粒子效应对系统的影响，并评价系统单粒子效应的影响后果，该方法可用于指导系统级单粒子效应风险的量化控制。
一种系统粒子效应影响表征参数评价方法

[发明专利]一种固态硬盘单粒子翻转截面的测试方法-CN202110163587.8有效
发明人：吴佳;李礼;吴叶楠 -专利权人：浙江威固信息技术有限责任公司
申请日： 2021-02-05 - 公布日： 2022-09-30 - 主分类号： G11C29/12 文献下载
摘要：本发明涉及一种固态硬盘单粒子翻转截面的测试方法，包括：被测闪存单元的单粒子翻转与内部控制芯片的单粒子翻转分离计数，仅对被测闪存单元的单粒子翻转计数乘以固态硬盘容量与被测闪存单元容量的比；加上内部控制芯片的单粒子翻转计数，最终作为固态硬盘整体的单粒子翻转计数；用高能粒子辐照被测固态硬盘并开始统计总注量Q，结合依据步骤S2得到的固态硬盘整体的单粒子翻转计数，计算被测固态硬盘的单粒子翻转截面。本发明的固态硬盘单粒子翻转截面的测试方法，能针对不能准确反映固态硬盘对单粒子效应敏感程度的问题，提高固态硬盘单粒子效应测试的准确度，准确反映固态硬盘对单粒子效应的敏感程度。
一种固态硬盘粒子翻转截面测试方法

[发明专利]一种Flash存储器单粒子效应检测方法-CN202110010876.4有效
发明人：黄姣英;王乐群;高成;王自力 -专利权人：北京航空航天大学
申请日： 2021-01-06 - 公布日： 2023-03-31 - 主分类号： G11C29/50 文献下载
摘要：一种Flash存储器单粒子效应检测方法，它有四个步骤：一、Flash存储器开封；二、在器件静态无偏模式下进行单粒子效应检测试验；三、在器件静态模式下进行单粒子效应检测试验；四、在器件动态模式下进行单粒子效应检测试验该发明提供了一种Flash存储器单粒子效应检测方法，覆盖单粒子翻转、单粒子功能中断和单粒子闭锁，同时可以区分存储单元和外围电路造成的翻转，为相关单粒子效应检测试验提供参考。
一种 flash 存储器粒子效应检测方法

[发明专利]一种单粒子注入方法及单粒子注入设备-CN202111665125.2在审
发明人：金辉;王碧;赵巍胜;王昭昊 -专利权人：北京航空航天大学
申请日： 2021-12-31 - 公布日： 2022-05-17 - 主分类号： G01R31/26 文献下载
摘要：本发明公开了一种单粒子注入方法及单粒子注入设备，涉及存储领域，所述单粒子注入方法，适用于单粒子注入设备，所述单粒子注入设备结构包括主机以及至少一个单粒子注入装置，包括：主机接收启动指令，并将启动指令传递至单粒子注入装置，响应于所述启动指令，至少一个单粒子注入装置产生场效应，并将所述场效应传递至接收目标，响应于所述场效应，接收目标电位状态发生转变。可见，本发明的实施例提供了一种单粒子注入方法及单粒子注入设备，通过单粒子注入装置对接收目标释放并传递场效应，通过场效应诱发接收目标的半导体器件电位状态高低状态的转变。并且对场效应释放以及强度和周期可以根据需求控制，以实现人工单粒子注入。
一种粒子注入方法设备

[发明专利]存储器的单粒子效应测试分析方法、装置及测试系统-CN202010293765.4有效
发明人：唐越;李孝远;耿超;李达;邓玉良;殷中云;杨彬 -专利权人：深圳市国微电子有限公司
申请日： 2020-04-15 - 公布日： 2022-04-08 - 主分类号： G11C29/52 文献下载
摘要：本申请提供了一种存储器的单粒子效应测试分析方法、装置及测试系统，其方法通过获取存储器进行单粒子效应测试发生单粒子翻转的错误数据；基于所述错误数据，按照预设的单粒子翻转分类识别规则对存储器发生的单粒子翻转进行分类识别，以获得单粒子翻转的分类类别；根据所述单粒子翻转的分类类别对存储器进行单粒子翻转的数据统计分析，确定存储器发生单粒子翻转的敏感位置。上述方法能够统计存储器在辐照环境下发生单粒子翻转的数量以及结合对每个单粒子翻转进行的分类统计和分析，可以从数据推断存储器发生单粒子翻转的敏感位置。
存储器粒子效应测试分析方法装置系统

[发明专利]一种FPGA高速串行收发器单粒子效应性能评估系统及方法-CN202210493910.2在审
发明人：刘银萍;陈雷;孙华波;张帆;杨铭谦;刘莹;董亚宁;刘映光;杨安予;杨泽宇 -专利权人：北京时代民芯科技有限公司;北京微电子技术研究所
申请日： 2022-04-29 - 公布日： 2022-08-30 - 主分类号： G06F11/34 文献下载
摘要：一种FPGA高速串行收发器单粒子效应性能评估系统及方法，评估系统包括上位机、主控系统和待测系统。上位机负责试验过程控制和试验结果显示。主控系统负责接受上位机操作指令，控制待测系统完成单粒子效应评估。待测系统中FPGA，用部分暴露在粒子束下的方式，完成高速串行收发器单粒子试验。利用统计学方法定义单粒子翻转、可恢复单粒子功能中断和不可恢复单粒子功能中断，最终完成待测FPGA高速串行收发器的单粒子效应评估。本发明是一种系统级的单粒子效应评估方法，包含单粒子翻转、单粒子功能中断，有效的全面评估器件抗单粒子性能。
一种 fpga 高速串行收发粒子效应性能评估系统方法

[发明专利]一种空间单粒子效应测试方法-CN201410451782.0有效
发明人：安恒;杨生胜;薛玉雄;把得东;马亚莉;曹洲 -专利权人：兰州空间技术物理研究所
申请日： 2014-09-05 - 公布日： 2017-04-05 - 主分类号： G01R31/00 文献下载
摘要：本发明公开了一种空间单粒子效应测试方法，能够实现单粒子翻转、单粒子锁定、单粒子烧毁的实时测试和存储；能够全面表征单粒子效应，为航天器抗单粒子效应加固设计提供综合性的可靠依据；本发明中建立的集成化的空间单粒子效应测试系统，采用两个单粒子效应传感器即可测试三种单粒子效应，同时，两个传感器共用一套测试系统，实现了测试系统的集成化，同时也为实现测试系统的小型化奠定了基础。
一种空间粒子效应测试方法

[发明专利]一种预测器件重离子单粒子效应截面曲线的方法-CN202110381221.8在审
发明人：罗尹虹;陈兆群;陈伟;张凤祁;王坦;丁李利;赵雯 -专利权人：西北核技术研究所
申请日： 2021-04-08 - 公布日： 2021-07-13 - 主分类号： G01T1/36 文献下载
摘要：本发明公开了预测器件重离子单粒子效应截面曲线的方法，包括以下步骤：对器件开展质子或中子单粒子效应实验，获取质子或中子单粒子效应截面数据并威布尔拟合得到质子或中子单粒子效应截面曲线；构建芯片结构模型，蒙卡计算不同能量质子或中子与器件材料发生核反应在灵敏层内产生的次级粒子LET谱；估算两个重离子单粒子效应截面数据点并初步拟合一条重离子单粒子效应截面曲线；将该重离子单粒子效应截面曲线与次级粒子LET谱积分，得到器件的质子或中子单粒子效应截面；比对积分计算数据与实验数据，调整重离子单粒子效应截面曲线的拟合参数，重复积分直到计算数据与实验数据的偏差在一定范围内，即得所需重离子单粒子效应截面曲线。
一种预测器件离子粒子效应截面曲线方法

[发明专利]一种适合于星载XILINX V2 FPGA刷新方法-CN202010976170.9在审
发明人：张秀宁;刘斌;李澎;吴昊;史江博;陈子君 -专利权人：北京遥测技术研究所;航天长征火箭技术有限公司
申请日： 2020-09-16 - 公布日： 2021-01-15 - 主分类号： G06F8/654 文献下载
摘要：一种适合于星载XILINX V2 FPGA刷新方法，非单粒子功能中断单粒子翻转可以通过刷新来纠正；单粒子功能中断单粒子翻转只能通过拉低PROG管脚，重新配置FPGA来恢复。刷新功能可以避免单粒子效应累积，延长星载信号处理FPGA的工作时长，提高星载设备的可靠性。单粒子效应导致单粒子功能中断时，需要重新配置信号处理FPGA。单粒子效应没有导致单粒子功能中断时，需要通过刷新来纠正，刷新不会影响信号处理FPGA的功能。本发明还给出了刷新时帧地址递增步骤和基于帧的刷新命令。
一种适合于 xilinx v2 fpga 刷新方法

[发明专利]一种航天器系统单粒子防护薄弱点的识别方法-CN201510188483.7有效
发明人：于登云;赵海涛;张兆国;郑晋军;谷岩;吕欣琦 -专利权人：北京空间飞行器总体设计部
申请日： 2015-04-20 - 公布日： 2017-04-19 - 主分类号： G06F19/00 文献下载
摘要：一种航天器系统单粒子防护薄弱点的识别方法，涉及使用了FPGA、DSP等单粒子软错误敏感器件的设备对航天器系统任务或功能影响的评估，以及航天器系统单粒子防护薄弱点的识别。该方法以单粒子软错误发生概率为输入，考察单粒子软错误影响的后果、发生概率和持续时间三个要素，建立了单粒子软错误危害时间模型，实现了对航天器单粒子软错误系统影响的定量评估，并可以据此准确识别出单粒子防护的薄弱点，为后续有效的改进航天器单粒子防护设计提供了依据。
一种航天器系统粒子防护薄弱识别方法

[发明专利]一种基于残差神经网络的CMOS反相器单粒子效应预测方法-CN202211552471.4在审
发明人：王树龙;刘海宇;陈栋梁;刘伯航;曹宪法;马浩;刘诗杰 -专利权人：西安电子科技大学
申请日： 2022-12-05 - 公布日： 2023-03-24 - 主分类号： G06F30/27 文献下载
摘要：一种基于残差神经网络的CMOS反相器单粒子效应预测方法，设计CMOS反相器的K组单粒子效应参数数据，使用TCAD软件对每组数据进行仿真，得到CMOS反相器的K条单粒子效应曲线，所述单粒子效应曲线的横坐标为时间，纵坐标为电流或电压，即，为瞬态电流曲线或瞬态电压曲线；仿真过程中以L个时间点将时间划分为L－1个区间，每个时间点在单粒子效应曲线上对应一个数据点，从所述单粒子效应曲线提取单粒子效应参数，数据点的数据和单粒子效应的特征参数，作为样本集；利用该样本集训练残差神经网络预测模型，模型输出为预测的单粒子效应曲线或单粒子效应的特征参数。本发明提高了CMOS反相器单粒子效应研究的效率。
一种基于神经网络 cmos 反相器单粒子效应预测方法

[发明专利]用于CMOS图像传感器单粒子效应检测的设备及检测方法-CN201711226250.7在审
发明人：汪波;刘伟鑫;李珍;孔泽斌;徐导进 -专利权人：上海精密计量测试研究所;上海航天信息研究所
申请日： 2017-11-29 - 公布日： 2018-06-19 - 主分类号： G01R31/00 文献下载
摘要：本发明提供了一种用于CMOS图像传感器单粒子效应检测的设备及检测方法，本发明采用脉冲激光单粒子微束试验，可以准确定位到不同功能模块。根据器件版图工艺结构，对CMOS图像传感器不同子电路逐点扫描，实时监测、记录、识别器件不同区域发生单粒子效应时图像异常表现形式，获得单粒子效应异常图像特征库，建立CMOS图像传感器单粒子效应表征技术；本发明实现了在线实时识别不同的CMOS图像传感器单粒子效应，可在线实时检测CMOS图像传感器的单粒子瞬态、单粒子翻转、单粒子功能中断和单粒子锁定；本发明可实现图像实时无损传输，解决图像在传输过程中诸如噪声干扰、卡屏等问题。
单粒子效应单粒子单粒子效应检测在线实时检测图像单粒子翻转单粒子锁定表现形式表征技术传输过程工艺结构功能中断脉冲激光器件版图实时监测实时识别图像异常无损传输异常图像噪声干扰逐点扫描准确定位特征库子电路检测瞬态微束记录试验

[发明专利]单粒子瞬态电流脉冲检测方法-CN201110457845.X无效
发明人：梅博;毕津顺;韩郑生;罗家俊 -专利权人：中国科学院微电子研究所
申请日： 2011-12-30 - 公布日： 2012-06-27 - 主分类号： G01R29/02 文献下载
摘要：本发明提供一种收集和测量单粒子瞬态电流脉冲的方法，其特征在于，所述方法包括：对器件的待测区域进行辐照，产生单粒子脉冲信号；用示波器捕获所述单粒子脉冲电流信号。相应的，本发明还提供了一种收集和测量单粒子瞬态电流脉冲的系统。通过本发明的方法和设备，可以捕获初始单粒子瞬态电流脉冲波形，直观地测量单粒子电流脉冲的上升时间、脉冲宽度、脉冲幅度等参数。而且可以进一步通过单粒子瞬态电流脉冲的波形分析表征电路的节点状态，获取单粒子电流脉冲在具体电路中的宽度分布，得到电路抗单粒子辐射的加固依据。
粒子瞬态电流脉冲检测方法

[发明专利]一种基于微流控芯片粒子捕获式的单粒子散射测量方法-CN201510481992.9有效
发明人：杨克成;夏珉;戴杰;宫宝玉 -专利权人：华中科技大学
申请日： 2015-08-07 - 公布日： 2017-12-12 - 主分类号： G01N21/49 文献下载
摘要：本发明公开了一种基于微流控芯片粒子捕获式单粒子散射测量方法，包括微流控芯片的设计制作、测量环境配置、对准、单粒子的捕获和单粒子环境的构建以及单粒子大角度的散射分布的测定等相关方法。与现有技术相比，由于结合了微流控芯片粒子捕获技术，克服了单粒子的大角度散射、大动态范围内的光散射特性测量方法的不足，实现了单粒子大角度散射分布的测量。
一种基于微流控芯片粒子捕获散射测量方法

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