专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]用于制备半导体发光装置的支撑衬底和使用支撑衬底的半导体发光装置-CN200980130052.8有效
  • 成泰连 - 高丽大学校
  • 2009-06-02 - 2011-06-22 - H01L33/02
  • 本发明涉及用于制备采用多层发光结构薄膜的半导体发光装置的支撑衬底,以及采用用于制备半导体发光装置的支撑衬底制备半导体发光装置的方法。所述用于制备半导体发光装置的支撑衬底通过在选定支撑衬底上相继层叠牺牲层、散热层和粘结层形成。一种采用用于制备半导体发光装置的支撑衬底制备半导体发光装置的方法包括:制备第一晶片,其中在初始衬底的上方部分上层叠/生长半导体多层发光结构;制备第二晶片,它是用于制备半导体发光装置的支撑衬底;将第二晶片粘结在第一晶片的上方部分上;从粘结产物上分离第一晶片的初始衬底;在与初始衬底分离的第一晶片的上方部分上形成第一欧姆接触电极后,执行钝化;并通过切割钝化产物制备单个芯片。
  • 用于制备半导体发光装置支撑衬底使用
  • [发明专利]半导体装置封装及其封装方法-CN200880016717.8无效
  • 金德勋;曹永尙;李焕哲 - 艾普特佩克股份有限公司
  • 2008-10-28 - 2010-03-24 - H01L21/60
  • 一种半导体装置封装及其方法无需利用助焊剂便能够将半导体装置可靠地封装到衬底上。该半导体装置封装包括半导体装置和与半导体装置相对设置的衬底,其中衬底包括与半导体装置相对的一侧,在该侧上形成多个突出部,这多个突出部环绕将用于设置半导体装置的容纳区域。该封装半导体装置的方法包括:制备半导体装置制备衬底;形成多个突出部,以环绕衬底上将用于设置半导体装置的容纳区域;将半导体装置下落在容纳区域内;以及将半导体装置封装在衬底上。
  • 半导体装置封装及其方法
  • [发明专利]制备半导体结构的方法、半导体结构及半导体器件-CN202210694215.2有效
  • 杨国文;惠利省 - 度亘激光技术(苏州)有限公司
  • 2022-06-20 - 2022-09-23 - H01L21/316
  • 本发明涉及半导体技术领域,尤其涉及一种制备半导体结构的方法、半导体结构及半导体器件。制备半导体结构的方法包括S100,获取晶体外延结构,包括含铝外延层及设置于含铝外延层上的限制层;S200,在限制层上开设多个开口;靠近含铝外延层中心线的开口的口径大于远离含铝外延层中心线的开口的口径;S300,将晶体外延结构置入湿法氧化装置,使在含铝外延层两侧形成氧化介质层,中央形成电流通道。该半导体结构使用制备半导体结构的方法制备。该半导体器件包括半导体结构。本发明的制备半导体结构的方法、半导体结构及半导体器件,缓解了现有技术中存在的外延结构氧化后绝缘体分布不均匀的技术问题。
  • 制备半导体结构方法半导体器件
  • [发明专利]一种半导体制备系统-CN202310989838.7在审
  • 请求不公布姓名 - 国镓芯科(成都)半导体科技有限公司
  • 2023-08-08 - 2023-09-08 - C23C16/34
  • 本发明涉及半导体制备技术,具体公开了一种半导体制备系统,包括生产单元和中控单元,生产单元用于半导体制备生产,中控单元用于对生产单元在进行制备生产半导体时,对其工作状况进行精确控制,其中,生产单元包括:外机体和半导体制备室,半导体制备室位于外机体内部,且其自上而下设有半导体制备腔和半导体成型腔,在半导体制备腔和半导体成型腔之间还设有流通管,半导体制备腔为一密闭腔室,在其内部蓄有镓液,半导体制备腔的侧部还安装有第一加热组件,在半导体制备腔的顶部贯穿设有延伸至外机体外部的第一输入管,第一输入管的底端通过伸缩件连接有分流件,提升整个系统的智能化和便捷化,并确保最终生成的半导体成品质量更好。
  • 一种半导体制备系统
  • [发明专利]一种沟槽MOS结构半导体装置及其制备方法-CN201110098224.7无效
  • 朱江 - 朱江
  • 2011-04-19 - 2012-10-24 - H01L29/06
  • 本发明公开了一种沟槽MOS结构半导体装置,沟槽内壁生长有栅氧,沟槽内填充有栅极介子;沟槽之间半导体材料整个上部设置有第一导电半导体材料体区;在第一导电半导体材料体区下部为第二导电半导体材料漏区;沟槽边侧体区内上部设置有第二导电半导体材料源区;在沟槽边侧体区内,源区下部漏区上部设置有第二导电半导体材料无源区;本发明还提供一种沟槽MOS结构半导体装置制备方法,应用本发明的半导体装置制备方法制造超级势垒整流器,可以优化器件的电参数。
  • 一种沟槽mos结构半导体装置及其制备方法
  • [发明专利]化合物半导体装置制备方法和化合物半导体装置-CN202110675444.5在审
  • 李勇 - 格芯致显(杭州)科技有限公司
  • 2021-06-18 - 2021-09-28 - H01L21/48
  • 本发明公开了一种化合物半导体装置制备方法和化合物半导体装置,主要包括:在衬底上整面制备第一导电类型半导体层、第二导电类型半导体层;从第二导电类型半导体层一侧进行图形化刻蚀,形成暴露至第一导电类型半导体层的第一图形化刻蚀结构;在第二导电类型半导体层的表面和第一图形化刻蚀结构底部的第一导电类型半导体层的表面分别制备第二接触电极和第一接触电极;在第一图形化刻蚀结构中制备绝缘钝化层;将第二接触电极与驱动触点电气连接;形成从第一导电类型半导体层一侧暴露部分第一接触电极的第二图形化刻蚀结构本发明不存在选区生长所带来的材料层的缺陷,并且能够避免器件之间的信号串扰,能够整体上提升化合物半导体装置的性能。
  • 化合物半导体装置制备方法

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