[发明专利]电阻器结构及其制造方法在审

专利信息
申请号: 202210455002.4 申请日: 2022-04-28
公开(公告)号: CN114551432A 公开(公告)日: 2022-05-27
发明(设计)人: 莫熙;蒋德舟;赵斌 申请(专利权)人: 广州粤芯半导体技术有限公司
主分类号: H01L27/01 分类号: H01L27/01;H01L21/70;H01L49/02
代理公司: 上海思捷知识产权代理有限公司 31295 代理人: 冯启正
地址: 510000 广*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明提供了一种电阻器结构及其制造方法,应用于半导体技术领域。本发明提供了一种电阻器结构的制造方法,通过在利用现有技术形成MIM电容器结构的过程中,利用该MIM电容器结构的金属上极板的部分区域作为薄膜电阻器件使用,以替代传统工艺形成的多晶硅电阻。由于在本发明提供的电阻器结构的制造方法中,其是利用MIM电容器结构的金属上极板其温度系数低的特性,从而形成一种温度系数低、电阻精度高的薄膜电阻,进而实现解决多晶硅电阻由于温度系数太大,无法配置高精度电阻的缺点,并在利用已有资源的基础上,节约了形成电阻器件的制造成本。
搜索关键词: 电阻器 结构 及其 制造 方法
【主权项】:
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