[发明专利]半导体器件在审

专利信息
申请号: 202011331536.3 申请日: 2020-11-24
公开(公告)号: CN112909032A 公开(公告)日: 2021-06-04
发明(设计)人: S·伯萨克;马克·艾伦·撒弗里奇;A·E·帕克金斯 申请(专利权)人: 半导体元件工业有限责任公司
主分类号: H01L27/146 分类号: H01L27/146
代理公司: 北京派特恩知识产权代理有限公司 11270 代理人: 尚玲;陈万青
地址: 美国亚*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 本申请涉及半导体器件。本申请公开了一种成像设备,该成像设备可包括单光子雪崩二极管(SPAD)。为了改善该SPAD的灵敏度和信噪比,可在该半导体衬底中形成光散射结构以增加入射光穿过半导体衬底的路径长度。该光散射结构可包括形成在该半导体衬底中的沟槽中的低折射率材料。一个或多个微透镜可将光聚焦到该半导体衬底上。该半导体衬底的从该微透镜接收更多光的区域可具有更高密度的光散射结构以优化光散射,同时减小暗电流。
搜索关键词: 半导体器件
【主权项】:
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