[发明专利]切割带和切割芯片接合薄膜在审
申请号: | 202010563428.2 | 申请日: | 2020-06-19 |
公开(公告)号: | CN112143389A | 公开(公告)日: | 2020-12-29 |
发明(设计)人: | 宍户雄一郎;杉村敏正;畠山义治;吉田直子;木村雄大 | 申请(专利权)人: | 日东电工株式会社 |
主分类号: | C09J7/24 | 分类号: | C09J7/24;C09J7/30;C09J133/08;C09J11/06;H01L21/683 |
代理公司: | 北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙) 11277 | 代理人: | 刘新宇;李茂家 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 提供一种切割带和切割芯片接合薄膜。提供切割带等,其中,关于通过动态粘弹性测定而测得的储能模量E’与损耗模量E”之比(E”/E’)、即Tanδ,‑15℃下的Tanδ的值(A)相对于‑5℃下的Tanδ的值(B)的比(A/B)为0.75以上。 | ||
搜索关键词: | 切割 芯片 接合 薄膜 | ||
【主权项】:
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于日东电工株式会社,未经日东电工株式会社许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/202010563428.2/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:具有负电容补偿的比较器
- 下一篇:检查系统、收容装置以及架子收容方法